本发明专利技术公开了一种检测装置,用于检测待测物件,该检测装置包括:第一侧壁,具有第一沟槽,第二侧壁,具有第二沟槽,以及连接件,固接该第一侧壁及该第二侧壁,其中,该第一沟槽与该第二沟槽相对且相互平行设置,且在该第一沟槽及该第二沟槽的相对二端界定有第一开口端及第二开口端,使待测物件自第一开口端置入,以检视待测物件是否通过第一沟槽及所述第二沟槽后,自第二开口端离开。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测装置,尤其涉及一种检测物件是否变形的检测装置。
技术介绍
随着工业发展,为讲求生产效率,专利技术各种合适的装置以方便快速地检测产品,已 成为必然的发展趋势。其中,现有的检测待测物件(例如电路板)的装置,为一凹槽形成 于一座体上,凹槽的长度及宽度等同于电路板的长度及宽度。因此,检测者通过将电路板摆 入凹槽,以检测电路板是否有裁切不准确以及毛边过大的缺点,进一步避免在组装制造过 程中,发生尺寸不合的问题。然而,目前采取的人工摆放进入凹槽的方式,检测者必须花费 时间仔细地将电路板与凹槽前后左右对位以摆入。检测完毕后,由于电路板符合凹槽的尺 寸,检测者必须将座体倒翻,以拿取电路板。另外,可能因为将电路板置入时,其长度或宽度 微大于凹槽,而因为检测者检测时的施力按压,而使电路板卡进凹槽,此时更必须使用工具 将电路板取出,而降低工作效率。
技术实现思路
本专利技术的主要目的,在于提供一种检测装置,以方便地检测待测物件的尺寸是否 达到标准规格。为了达到上述目的,本专利技术提供一种检测装置,用于检测待测物件,该装置包括第一侧壁、第二侧壁及一连接件,该连接件固接该第一侧壁及该第二侧壁。该第一 侧壁,具有第一沟槽,该第二侧壁,具有第二沟槽,该第一沟槽相对于该第二沟槽且相互平 行设置,且在该第一沟槽及该第二沟槽的相对二端界定有第一开口端及第二开口端,该待 测物件自该第一开口端置入,以检视该待测对象是否通过该第一沟槽及该第二沟槽后自该 第二开口端离开。其中,若该待测对象的尺寸达到标准规格,则待测对象可经过该第一沟槽 及该第二沟槽,且自该第二开口端离开。于一实施例中,该连接件可为一座体,且该第一侧壁及该第二侧壁相互平行地竖 设于该座体上。于一实施例中,该座体上表面更可包括多个定位孔,且该第一侧壁具有多个凸柱, 用以置入部分所述多个定位孔。于一实施例中,该第二侧壁可具有多个凸柱,用以置入部分所述多个定位孔。于一实施例中,该检测装置更可包括一底座,该底座具有一枢轴,且该底座通过该 枢轴与该座体枢接。于一实施例中,所述的座体更可包括一凹部,邻设于各该第二开口端。于一实施例中,所述的座体更可包括一连通孔,邻设于各该第二开口端。于一实施例中,该第一侧壁可具有至少一内侧壁以界定该第一沟槽,且该至少一 内侧壁可以为粗糙表面或刮除面。于一实施例中,该第二侧壁可具有至少一内侧壁以界定该第二沟槽,且该至少一内侧壁可以为粗糙表面或刮除面。于一实施例中,该第一侧壁及该第二侧壁还可分别设置有一容置部,分别与该第 一沟槽及该第二沟槽空间连通。于一实施例中,各该第一开口端相对于该座体具有第一高度,各该第二开口端相 对于该座体具有第二高度,且该第一高度高于该第二高度。本专利技术具有以下有益的效果本专利技术的检测装置在两侧壁上设置两条平行沟槽, 并且相应于待测物件的标准规格而设定平行沟槽之间的宽度。因此,检测者可通过观察待 测物件能否顺利通过沟槽,以判断待测物件是否符合标准规格。为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
,请参阅以下有关本专利技术的详细说 明与附图,然而所附图式仅提供参考与说明用,并非用来对本专利技术加以限制。附图说明图1为本专利技术检测装置第一实施例的立体示意图;图2为本专利技术检测装置第二实施例的立体示意图;图3为本专利技术检测装置第三实施例的立体示意图;图4为本专利技术检测装置第四实施例的立体示意图;图5为本专利技术检测装置第五实施例的立体示意图。附图标记说明1检测装置11第一侧壁110第一沟槽12第二侧壁120第二沟槽123凸柱131座体132上表面133定位孔136a第一开口端136b第二开口端17底座171枢轴175凹部176通孔9待测物件Hl第一开口端与座体的距离H2第二开口端与座体的距离Wl待测物件宽度W2第一沟槽与第二沟槽之间的宽度W3凹部的宽度、通孔的宽度具体实施例方式请参阅图1,本专利技术检测装置第一实施例的立体示意图,其揭露了一种检测装置 1,用于检测待测物件9 (例如电路板),或较佳为其他长方体物件的检测。检测装置1包 括第一侧壁11、第二侧壁12及连接件。在本实施例中,连接件可为连杆或座体131,较佳为 座体131,故以下叙述皆以座体131作说明,而非局限于座体131。其中,第一侧壁11及第 二侧壁12分别具有第一沟槽110及第二沟槽120,第一沟槽110及第二沟槽120相对且相 互平行设置,且第一侧壁11及第二侧壁12相互平行地竖设于座体131。再者,在第一沟槽110及第二沟槽120的相对二端界定有第一开口端136a及第二开口端136b。其中,待测物件9具有第一宽度Wl,第一沟槽110及第二沟槽120之间具有第二宽 度W2,且第二宽度W2设定为略大于待测物件9的标准规格。因此,当待测物件9自第一开 口端136a置入,若待测物件9达到标准规格,则待测物件9可经由第一沟槽110及第二沟 槽120,自第二开口端136b离开。请继续参阅图1,其中,第一开口端136a相对于座体131具有第一高度Hl,第二开 口端136b相对于座体131具有第二高度H2,且第一高度Hl高于第二高度H2。通过第一开 口端136a及第二开口端136b的高度差,使第一沟槽110及第二沟槽120与座体131之间 形成有一角度。因此,当测试者释放待测物件9后,待测物件9通过其重量的分力,沿倾斜 的第一沟槽110及第二沟槽120自由滑落。若待测物件9于制造过程中并未受到不当的变 形挤压,仍为预定标准规格,则待测物件9可顺利通过第一沟槽110及第二沟槽120。此时, 顺利通过检测的待测物件9,其宽度Wl略微小于宽度W2,以容许待测物件9的第一宽度Wl 相较于标准尺寸存在些微误差。反之,若无法顺利通过第一沟槽110及第二沟槽120,则表 示待测物件9于制造过程中受到变形挤压,其尺寸已不符需求,必须淘汰。图2所示为本专利技术检测装置第二实施例的立体示意图。在本实施例中,座体131 还包括多个定位孔133设置在座体131的上表面132,较佳为成行排列。另外,第二侧壁12 具有多个凸柱123,相应于多个定位孔133形成,且第二侧壁12通过多个凸柱123置入多个 定位孔133,以固定至座体131。借此,用户可视待测物件9的宽度Wl,而决定第二侧壁12 要插入的定位孔133,以调整第一沟槽110及第二沟槽120至适当的宽度。进一步而言,第 一侧壁11亦具有多个凸柱123,可插入相对应定位孔133的位置,如图2中所示的第一侧壁 11,即为凸柱123与定位孔133组合后的示意图。须加以说明的是,上述调整第一沟槽110及第二沟槽120之间宽度的手段并不局 限以定位孔133的方式调整,其它方式如宽度调整机构等方式亦可实现。图3所示为本专利技术检测装置第三实施例的立体示意图。在本实施例中,检测装置 1还包括底座17及枢轴171,座体131通过枢轴171与底座17枢接。另外,枢轴171可为 多段式轴件,借此,使用者得以调整座体131与底座17形成夹角,使第一沟槽110及第二沟 槽120的倾斜度得以变化,使待测物件9借其重力加速度快速滑下。图4所示为本专利技术检测装置第四实施例的立体示意图。在本实施例中,本专利技术的 座体131还包括一凹部175,邻设于各第二开口端136b。凹部175具有的宽度W3,等于或略 大于第一本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测装置,用于检测待测物件,其特征在于,所述检测装置包括:第一侧壁,具有第一沟槽;第二侧壁,具有第二沟槽;以及连接件,固接所述第一侧壁及所述第二侧壁;其中,所述第一沟槽与所述第二沟槽相对且相互平行设置,且在该第一沟槽及该第二沟槽的相对二端界定有第一开口端及第二开口端,使该待测物件自该第一开口端置入,以检视所述待测物件是否通过所述第一沟槽及所述第二沟槽后自该第二开口端离开。
【技术特征摘要】
1.一种检测装置,用于检测待测物件,其特征在于,所述检测装置包括第一侧壁,具有第一沟槽;第二侧壁,具有第二沟槽;以及连接件,固接所述第一侧壁及所述第二侧壁;其中,所述第一沟槽与所述第二沟槽相对且相互平行设置,且在该第一沟槽及该第二 沟槽的相对二端界定有第一开口端及第二开口端,使该待测物件自该第一开口端置入,以 检视所述待测物件是否通过所述第一沟槽及所述第二沟槽后自该第二开口端离开。2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述连接件为一座体,且所述第一侧壁 及所述第二侧壁相互平行地竖设于所述座体上。3.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述座体的上表面设置有多个定位孔; 所述第一侧壁具有多个凸柱,用以置入部分所述多个定位孔。4 如权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述第二侧壁具有多个凸柱,用以置入 部分所述多个定位孔。5.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于,还包括底座,所述底...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈忠贤,
申请(专利权)人:金宝电子中国有限公司,金宝电子工业股份有限公司,
类型:发明
国别省市:44[中国|广东]
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