本发明专利技术涉及一种被动背板的测试模块及其测试被动背板的方法,该测试模块包括一电路板及一微处理单元。测试模块分别电性连接一被动背板及一监控装置。微处理单元位于电路板上,电性连接被动背板及监控装置。其中当微处理单元对被动背板进行测试时,微处理单元通过一通用输入输出接口对被动背板提供电源、通过一程序化输入输出接口对被动背板进行初始化、通过全系统管理总线接口对被动背板进行测试,并回馈一测试结果至监控装置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于一种测试模块,特别是有关于一种被动背板的测试模块及其测试 被动背板的方法。
技术介绍
由于高速周边组件联系(Peripheral Component Interconnect Express, PCIExpress后称PCI-E)扩充背板为一被动组件,需要外来的电源及启动信号,才可被初始 化以进行工作,因此,传统对PCI-E扩充背板(raiser card)进行功能测试时,必须搭配一 刀锋服务器同时进行,使得PCI-E扩充背板经连接至刀锋服务器后,而可被开机后的刀锋 服务器唤醒。刀锋服务器便对PCI-E扩充背板进行电源、信号及协议功能的测试,才可得知 此PCI-E扩充背板是否合格。然而,利用刀锋服务器来对PCI-E扩充背板进行功能测试时,存在以下缺点1.搭配刀锋服务器对PCI-E扩充背板进行功能测试时,存在着大量的人机交互测 试工作,不仅效率低,也常因为人为判断的误差而造成测试失败。2.搭配刀锋服务器对PCI-E扩充背板进行功能测试时,需配合刀锋服务器的启 动,将拉长PCI-E扩充背板的测试时间,进而影响生产成本及产品质量。3.搭配刀锋服务器对PCI-E扩充背板进行功能测试时,由于刀锋服务器相当昂 贵,要额外取得一专为测试用的刀锋服务器,将提高硬件取得成本。如此,如何研发出一种测试模块,可克服上述种种不便及缺点,实乃相关业者目前 刻不容缓的一重要课题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的一目的是揭露一种被动背板的测试模块,不需搭配刀锋服务 器对PCI-E扩充背板进行功能测试,使得降低人机交互测试工作机会、PCI-E扩充背板的测 试时间及刀锋服务器的硬件取得成本。这种被动背板的测试模块在一实施方式中包括一电路板、一第一连接单元及一第 二连接单元。第一连接单元位于电路板上,活动地连接一被动背板。第二连接单元位于电路 板上,活动地连接一监控装置。微处理单元位于电路板上,电性连接第一连接单元与第二连 接单元,具一通用输入输出接口、一程序化输入输出接口及一全系统管理总线接口。当微处 理单元对被动背板进行测试时,微处理单元通过通用输入输出接口对被动背板提供电源、 通过程序化输入输出接口对被动背板进行初始化、通过全系统管理总线接口对被动背板进 行测试,以及通过第二连接单元回馈一测试结果至监控装置。本专利技术的另一目的是揭露一种测试被动背板的方法,应用于一被动背板的测试模 块。此测试模块连接一 PCI-E扩充卡及一计算机装置。此方法包括自计算机装置取得一测 试内容韧体、依据测试韧体数据,通过一通用输入输出接口提供电源至PCI-E扩充卡、依据 测试韧体数据,通过一程序化输入输出接口对PCI-E扩充卡进行初始化、依据测试韧体数据,通过通用输入输出接口检测PCI-E扩充卡上的多个测试发光二极管组件、依据测试韧 体数据,通过通用输入输出接口设定PCI-E扩充卡上的多个PCI-E装置的规格、依据测试韧 体数据,通过一全系统管理总线接口测试PCI-E扩充卡,以及回馈一测试结果至计算机装置。综上所述,本专利技术不需搭配主动式 计算机,即可对PCI-E扩充背板进行测试。如此,本专利技术具有以下优点1.简化了搭配刀锋服务器与PCI-E扩充背板间的人机交互测试工作,进而提高效 率,也降低人为判断的误差而造成测试失败的机率。2.缩短了对PCI-E扩充背板进行功能测试的测试时间,进而改善生产成本及产品质量。3.节省了取得刀锋服务器所需的硬件取得成本。 附图说明为让本专利技术的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的详 细说明如下图1绘示本专利技术被动背板的测试模块于一实施例下的方块示意图;图2绘示本专利技术被动背板的测试模块于另一实施例下的方块示意图;图3绘示本专利技术测试被动背板的方法于另一实施例下的流程图。主要组件符号说明100被动背板310第四连接单元110第三连接单元400:PCI-E扩充背板200测试模块410电压调节模块210电路板420工作电路220第一连接单元430测试LED组件230第二连接单元440放大电路240微处理单元450温度传感器241通用输入输出接口460=PCI-E连接单元242程序化输入输出接口470=PCI-E装置243全系统管理总线接口500接口转接卡244内部集成电路接口600计算机装置245测试内容韧体301--308 步骤300监控装置具体实施例方式以下将以附图及详细说明清楚说明本专利技术的精神,如熟悉此技术的人员在了解本 专利技术的实施例后,当可由本专利技术所教示的技术,加以改变及修饰,其并不脱离本专利技术的精神 与范围。由于传统对一被动背板(passive back plane,例如高速周边组件联系扩充背板, 后称PCI-E扩充背板)进行功能测试时,需搭配一主动式计算机(activedevice,例如刀锋服务器)同时进行,是通过开机后的刀锋服务器唤醒被动背板并提供被动背板适当的工作 环境,才可对此种被动背板进行测试,得知此被动背板是否合格。如图1所示,图1绘示本专利技术被动背板的测试模块于一实施例下的方块示意图。本 专利技术揭露一种被动背板的测试模块200,此测试模块200包括一电路板210、一第一连接单 元220、一第二连接单元230及一微处理单元M0。第一连接单元220(例如金手指插槽等 等)位于电路板210上,可活动地连接一被动背板100的一第三连接单元110 (例如金手指 插件等等),以供电性连接被动背板100及电路板210。第二连接单元230 (例如USB连接 器)位于电路板210上,可活动地连接一监控装置300(例如计算机装置600)的一第四连接 单元310,以供电性连接监控装置300及电路板210。微处理单元240位于电路板210上, 分别透过第一连接单元220与第二连接单元230电性连接被动背板100与监控装置300。微处理单元240具有多种信息传输接口,包括一通用输入输出接口 241 (General Purpose Input/Output, GPIO)、一程序化输入输出接口 242 (Programmed Input/Output, ΡΙΟ)、一全系统管理总线(System Managementbus,SMbus)接口 243及一内部集成电路接口 244 (Inter-Integrated CircuitSystem,I2C)。此外,微处理单元240中具有一测试内容韧体对5。由于微处理单元240不限具备 可覆写特性或不可覆写特性,此测试内容韧体245可预先被烧写于微处理单元240中,或被 更新至微处理单元MO中以覆盖先前的数据。如此,当微处理单元240对被动背板100进行测试时,微处理单元240依据此测试 内容韧体245的指示,分别通过通用输入输出(GPIO)接口 Ml对此被动背板100提供电源、 通过此程序化输入输出(PIO)接口 242对此被动背板100进行初始化、通过此全系统管理 总线(SMbus)接口 243对被动背板100进行测试。之后,微处理单元240便可通过第二连 接单元230回馈一测试结果至监控装置300。如此,此测试模块200可取代上述主动式计算机,透过上述的各种信息传输接口 提供唤醒被动背板100的信号,以及提供符合被动背板100的工作环境的信号,使得被动背 板本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种被动背板的测试模块,其特征在于,包括:一电路板;一第一连接单元,位于该电路板上,用以活动地连接一被动背板;一第二连接单元,位于该电路板上,用以活动地连接一监控装置;以及一微处理单元,位于该电路板上,电性连接该第一连接单元与该第二连接单元,具一通用输入输出接口、一程序化输入输出接口及一全系统管理总线接口,其中当该微处理单元对该被动背板进行测试时,该微处理单元通过该通用输入输出接口对该被动背板提供电源、通过该程序化输入输出接口对该被动背板进行初始化、通过该全系统管理总线接口对该被动背板进行测试,以及通过该第二连接单元回馈一测试结果至该监控装置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:江颖范,张鉴炽,
申请(专利权)人:英业达股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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