本发明专利技术提供一种光盘装置和光盘再现方法,能够补偿主光束和副光束的光量比偏差,得到按照设计值的再现性能的光盘装置。该光盘装置具有发出激光的光源、驱动上述光源的光源驱动部、将上述激光分割成多个光束的光学元件、控制上述光学元件的光学元件控制部、将上述激光聚光在上述光盘上的部件、和检测在上述光盘上反射的上述激光的检测部,通过切换上述光学元件的光束分割功能的有效和无效进行上述光盘的再现,调整激光的出射功率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及使用激光对光盘进行再现的光盘装置。
技术介绍
作为
技术介绍
,例如,有专利文献1中揭示的技术。在专利文献1中揭示了 “当引 入跟踪伺服系统时,选择基于推挽法的跟踪误差信号”,“在引入伺服系统后,根据基于3光 束法的跟踪误差信号进行跟踪控制”的方式。日本专利特开平8-30989号
技术实现思路
当再现光盘时,作为使光点追随光盘上的轨道的方式,正在用DPP (Differential Push-Pull 微分推挽)方式和3光束方式等。DPP方式是用衍射光栅将激光分割成主光束 和副光束,生成由主光束产生的主推挽信号和由副光束产生的副推挽信号的方式。通过在 副推挽信号上乘上对透镜位移的灵敏度进行补偿的系数,将取得与主推挽信号之差的信号 用作跟踪误差信号,能够对由透镜位移引起的偏离进行补偿,使光点追随轨道中心。3光束 方式是用衍射光栅将激光分割成主光束和副光束,将由副光束生成的信号的强度变化作为 跟踪误差信号的方式。在DPP方式和3光束方式中,为了记录再现使用主光束,副光束只用于跟踪伺服系 统。因为激光的功率控制通常对分割光束前的激光进行,所以存在着当主光束和副光束的 光量比与设计值不同时,记录再现性能恶化了那样的课题。即,当主光束的光量高时,存在 着使记录在光盘中的信号恶化的可能性,当主光束的光量低时发生由信号振幅低下引起的 再现性能恶化。这种与设计值的偏离是由衍射光栅的特性偏差等引起的。本专利技术的目的是提供能够补偿主光束和副光束的光量比偏差的光盘装置或光盘 再现方法。作为一个例子,本专利技术的光盘装置,从光盘再现信息,其特征在于具有,发出激光 的光源;驱动上述光源的光源驱动部;将上述激光分割成多个光束的光学元件;控制上述 光学元件的光学元件控制部;将上述激光聚光于上述光盘的部件;和检测在上述光盘上反 射的上述激光的检测部;切换上述光学元件的光束分割功能的有效和无效而进行上述光盘 的再现,并进行激光的出射功率的调整。另外,本专利技术的光盘再现方法,使用将激光分割成多个光束的光学元件,进行光盘 的再现,其特征在于切换上述光学元件的光束分割功能的有效和无效而进行上述光盘的 再现,并进行激光的出射功率的调整如果根据本专利技术,则能够补偿主光束和副光束的光量比偏差,得到按照设计值的 再现性能。附图说明图1 (a)是表示按照本专利技术的光盘装置的一个实施例的方框构成图。图1(b)是按照本专利技术的光盘装置的探测器的构成图。图2(a)是记录型光盘上的光点的示意图的例子。图2(b)是再现专用光盘上的光点的示意图的例子。图3是在将光盘插入到按照本专利技术的光盘装置中后到再现开始的操作程序图的 例子。图4是表示按照本专利技术的光盘装置的,在开始再现后温度发生变化时的工作的操 作程序图的例子。符号说明101……微机,102……激光驱动器,103……激光二极管,104……分束器,105…… 功率监视器,106……衍射光栅,107……衍射光栅驱动器,108……物镜,109……光盘, 110……偏振分束器,111……探测器,112……波形均衡器,113……信号处理器,114……主 探测器,115……副探测器,201……沟槽,202……岸面,203……主光点,204……副光束, 205……凹坑具体实施例方式下面,我们用附图说明本专利技术的实施例。此外,以后“出射功率”表示从物镜出射的激光的功率。另外,“发光功率”表示激 光二极管发出的激光的功率。图1(a)是表示根据本专利技术的光盘装置的一个实施例的方框构成图。此外,省略了 关于与本实施例没有直接关联的块的记载。微机101,通过未图示的ATAPI等的接口,与PC等的主机装置进行通信。另外,微 机101,对激光驱动器102进行发光控制,激光驱动器102根据微机101的控制输出驱动激 光二极管103的电流。激光二极管103以对应于激光驱动器102的驱动电流的发光功率进 行发光。功率监视器105经过分束器104检测激光二极管103的发光功率,将检测出的功 率变换成电压值输出到微机101。这里检测出的发光功率是用衍射光栅分割激光前的总光 量。衍射光栅106,与衍射光栅驱动器107的控制相应地将激光切换到一个光束和三个光 束。作为切换一个光束和三个光束的方式,例如可以考虑在激光光程中加入取出衍射光栅 106的方式。不限定于通过这样机械地使衍射光栅加入取出将激光切换到一个光束和三个 光束的部件,也可以通过用光学部件或电气部件切换光学元件的特性将激光切换到一个光 束和三个光束。物镜108使激光聚光在光盘109上。在光盘109上反射的激光,作为光的强度保存光盘的信息。当进行再现时,由偏振 分束器110反射激光,使激光聚光在探测器111上。探测器111检测聚光的激光,将与激光 强度相应的信号输出到波形均衡器112。波形均衡器112,对由探测器111检测出的信号 波形进行均衡化、放大等的处理,输出到信号处理器113。信号处理器113对由波形均衡器 112输出的信号波形,进行模拟/数字变换、均衡化、解码等的信号处理,将解码后的数据输 出到微机101。在图1的例子中,将虚线所示的框内的块102 108,110,111搭载在激光头上。此 外,在图1中表示了分离地搭载了激光二极管103和功率监视器105的例子,但是也可以封 装功率监视器,使用将检测出的功率输出到微机101的激光二极管。另外,这里表示了由衍 射光栅驱动器107控制衍射光栅106的例子,但是也可以不用衍射光栅驱动器107,由微处 理机101驱动衍射光栅106。另外,作为分割激光的单元表示了衍射光栅106的例子,但是 也可以用液晶元件等分割激光。图1 (b)是详细地表示探测器111的例子。探测器111具有接收主光束的反射光 的主探测器114和接收副光束的反射光的副探测器115。在图2(a)中,表示将光聚光在使衍射光栅的功能有效时的光盘上的光点的示意 图。在光盘上刻着沟槽201和岸面202,它们成为使光点追随的引导体。203和204分别表 示由衍射光栅分割的主光束和副光束的光点,两者的光量比通常约为15 1。用图1(b) 主探测器114接收主光束的反射光,用副探测器115接收副光束的反射光。因为再现信号 只由主探测器115生成,所以当主光束对副光束的光量比比设计值低时,引起再现性能的 降低。另一方面,当主光束对副光束的光量比比设计值高时,存在着消去了记录在光盘上的 数据的可能性。副探测器,当用DPP法时生成副推挽信号,当用3光束法时生成跟踪误差信 号。因为当使衍射光栅的功能无效时,从物镜出射的光束为一个,所以只将由主光束产生的 光点203聚光在光盘上。此外,这里表示了将数据记录在沟槽(grOOVe)201上的例子,但是既可以记录在 岸面(land) 202上,也可以记录在沟槽和岸面两者中。另外,图2(a)表示了记录型光盘的例子,但是当为再现专用光盘时,如图2(b)所 示的那样凹坑205成为引导体。在图3中,表示在将光盘插入到按照本专利技术的光盘装置中后到再现开始的操作程 序图的例子。此外,对于与本实施例没有直接关联的动作予以省略。在步骤301装载光盘。在步骤302发出激光。在步骤303使衍射光栅的功能无效, 从物镜出射一个光束。用图1(a)的功率监视器105监视这时的出射功本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光盘装置,从光盘再现信息,其特征在于:具有,发出激光的光源;驱动所述光源的光源驱动部;将所述激光分割成多个光束的光学元件;控制所述光学元件的光学元件控制部;将所述激光聚光于所述光盘的部件;和检测在所述光盘上反射的所述激光的检测部;切换所述光学元件的光束分割功能的有效和无效而进行所述光盘的再现,并进行激光的出射功率的调整。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:盐泽学,
申请(专利权)人:日立乐金资料储存股份有限公司,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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