【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，尤其是一种直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾及磷、锰、铜含量的测定方法，属于分析测试
技术介绍
直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾、磷、锰和铜含量的测定，目前还没有定量的分析、测定方法。其他材料如钢中硅、钙、镁、铝、钛、钾、 磷、锰和铜的含量，大多采用原子吸收光谱法、分光光度法、重量法和滴定法等进行测定，由于不同的元素要用不同的方法才能完成测定，因此操作烦琐，分析、测定流程长。采用X射线荧光光谱法测定，虽然一次熔样就能对多元素进行测定，省时省力，且不需消耗大量化学试剂，能够减少对环境的污染，保护操作人员的身体健康，但因测定难度较大，因此，目前还没有行之有效的方法能对直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、 氧化钾及磷、锰、铜含量进行测定。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种一次熔样就能准确测定直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾及磷、锰、铜含量的方法。本专利技术通过以下技术方案实现一种直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾及磷、锰、铜含量的测定方法，包括用常规的X射线荧光光谱法测定待测试样的X射线荧光谱线强度，根据该X射线荧光谱线强度，在二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾及磷、锰、铜的标准工作曲线中得到对应的二氧化硅、 氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾及磷、锰、铜含量值，其特征在于待测试样经过下列步骤制得A、在900 1000°C条件下，将试样灼烧至恒...
【技术保护点】
１．一种直接还原铁中氧化物及磷、锰、铜含量的测定方法，包括用常规的Ｘ射线荧光光谱法测定待测试样的Ｘ射线荧光谱线强度，根据该Ｘ射线荧光谱线强度，在二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾及磷、锰、铜的标准工作曲线中得到对应的二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化钾及磷、锰、铜含量值，其特征在于待测试样经过下列步骤制得：Ａ、在９００～１０００℃条件下，将试样灼烧至恒重，计算出灼烧增量，其中，灼烧增量用下列公式计算：Ｘ（％）＝式中：——灼烧前试样和磁坩埚的质量，ｇ； ——灼烧后试样和磁坩埚质量，ｇ； —— 试样的质量，ｇ；Ｂ、按下式称取步骤Ａ的灼烧试样：灼烧试样质量＝试样质量×（１＋Ｘ／１００），式中Ｘ为步骤Ａ中的灼烧增量Ｘ（％）；Ｃ、按２０～３０ｇ／ｇ试样的量，在步骤Ｂ称取的灼烧试样中加入四硼酸锂，搅拌均匀，得混合样；Ｄ、按３．３～４．０ｍＬ／ｇ试样的量，在步骤Ｃ的混合样中依次加入浓度为２５０ ｇ／Ｌ的硝酸锂溶液，以及浓度为２０ ｇ／Ｌ的碘化铵溶液，搅拌均匀，烘干，得烘干样；Ｅ、在１０００～１１００℃温度下，将步骤Ｄ的烘干样加热熔融１０～１５ｍｉｎ，倒入...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陶俊，李文生，许涯平，李玉清，曾海梅，陈涛，
申请(专利权)人：武钢集团昆明钢铁股份有限公司，
类型：发明
国别省市：53
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