【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种Ka波段的毫米波一体化定向耦合器式反射系数测量仪器。通过 该一体化结构设计的反射测量仪可应用于作为毫米波波导器件反射系数或驻波比的前端 测试系统。
技术介绍
毫米波波导器件在微波各种领域都广泛使用，其反射参量是描述微波元器件或分 机失配程度的主要技术指标，也是微波测量系统中最重要最常见的测试指标。反射系数测 量仪是能实现测量反射参量的测试系统，其结构简单，测试精度高，具有以下特点1、扫频矢量测量扫频测试频段26.5GHz-40GHz应用单端口校准方法，可以通过测试得到反射系数的幅度和相位，实现矢量测量。2、一体化结构采用双层波导通道夹持耦合片的一体化的双定向耦合器形式，结构紧凑，加工容 易，同时降低器件连接处反射，测试结果精度高。
技术实现思路
本专利技术所涉及的Ka波段的毫米波一体化定向耦合器式反射系数测量仪器，可以 用于测量波导器件单端口矢量反射系数。本专利技术采用以下技术方案选用双定向耦合器形式，分别得到参考路信号和反射路信号，通过测试之前的单 端口校准方法，测量得到其矢量反射系数。该反射系数测量仪电气结构选用双层波导通道 形式，中间夹持有耦合片，降低加工的要求。附图说明图1为反射系数测量仪上层波导通道结构正视2为反射系数测量仪下层波导通道结构正视3为反射系数测量仪中间的定向耦合器片结构4为反射系数测量仪整体正视图具体实施例方式1反射系数测量仪四个端口分别为输入端口、输出端口、参考端口、测试端口，其中 输入端口接信号输入，输出端口接待测器件，参考端口和测试端口分别接混频器。2在测试通过单端口校准方法将输出端口分别接短路器匹配负载，通过...
【技术保护点】
一种Ｋａ波段的毫米波一体化定向耦合器式矢量反射系数测量仪，其特征在于，采用结构一体化的双定向耦合器形式，即双层波导通道夹持耦合片形式，结构紧凑，加工容易，降低分体器件连接处反射，测试结果精度高。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：苗俊刚，刘金扬，肖亮，张勇芳，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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