本发明专利技术关于一种偏光片的亮点瑕疵检测方法与门槛值产生方法及其装置，该偏光片的亮点瑕疵检测方法于一检测装置执行，且该偏光片上具有至少一待测点，该亮点瑕疵检测方法包含以下步骤：(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样；(B)计算该检测区域中的影像灰阶值；(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；及(D)将该评估值与一门槛值相比对，以检测该待测点是否为亮点瑕疵。如此藉由该亮点瑕疵检测方法可减少后续成品检验人员的人工目检时间。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于一种自动光学检测方法，特别是用于偏光片上的亮点瑕疵检测方法。
技术介绍
在偏光片(polarizer)制作完成后，会利用自动光学检测(Automated Optical Inspection, AOI)系统来进行亮点(bright spot)瑕疵的检测，自动光学检测系统利用光学的方式取得偏光片的表面影像，再以影像处理的技术来判断偏光片上的亮点瑕疵， 并将所有可能的亮点瑕疵皆标示为待测点，以供后续的成品检验人员(Final Quality Control,FQC)以人工目检的方式进行最后的判定。然而，为了不让任何一个亮点瑕疵躲过检测，自动光学检测系统会发生误宰(overkill)的现象，也就是将贴附于偏光片上的离形膜(图未示)所造成的眩光(glare)误判为亮点瑕疵，使得该些被标示的待测点中会包含真正的亮点瑕疵，也会包含离形膜所造成的眩光。因此，在现今的检测流程中，需要藉由一检测方法及装置来检测哪些为亮点瑕疵(真正的瑕疵)，哪些为眩光(假瑕疵)。但是，现有的检测方法是计算每一个待测点的平均亮度，并判断该平均亮度是否大于一门槛值，若是，则判定为亮点瑕疵；反之，则判定为眩光。此种检测方法会将一些比亮点瑕疵更亮的眩光误判为亮点瑕疵，使得后续的成品检验人员在进行人工目检时，将耗费过多的工作时间，增加测试的成本。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的，即在提供一种可以精确检测出偏光片上的待测点是否为一亮点的亮点瑕疵检测方法。本专利技术提供一种偏光片的亮点瑕疵检测方法，于一检测装置执行，且该偏光片上具有至少一待测点，该亮点检测方法包含以下步骤(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样；(B)计算该检测区域中的影像灰阶值；(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；及⑶将该评估值与一门槛值相比对，以检测该待测点是否为亮点。根据所述的偏光片的亮点瑕疵检测方法，该步骤(C)利用以下的方程式产生该评估值权利要求1.一种偏光片的亮点瑕疵检测方法，于一检测装置执行，且该偏光片上具有至少一待测点，其特征在于该亮点检测方法包含以下步骤(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样；(B)计算该检测区域中的影像灰阶值；(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；及(D)将该评估值与一门槛值相比对，以检测该待测点是否为亮点。2.根据权利要求1所述的偏光片的亮点瑕疵检测方法，其特征在于该步骤(C)利用以下的方程式产生该评估值3.根据权利要求1所述的偏光片的亮点瑕疵检测方法，其特征在于该步骤(D)在比较出该评估值小于该门槛值时判定该待测点为亮点瑕疵。4.一种检测装置，用以检测偏光片上的待测点，其特征在于该检测装置包含取样单元，于一个包含该待测点的检测区域取样；灰阶值计算单元，耦接于该取样单元，用以计算该检测区域中的影像灰阶值；评估值产生单元，耦接于该灰阶值计算单元，其根据该些灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；控制单元，耦接于该取样单元、该灰阶值计算单元及该评估值产生单元，用以控制该取样单元、该灰阶值计算单元及该评估值产生单元产生对应该待测点的检测区域的灰阶变化程度的评估值；及比对单元，耦接于该控制单元，该比对单元将该评估值与一门槛值相比较，以检测该待测点是否为亮点。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于该评估值产生单元利用熵演算法配合该灰阶值计算单元计算出的该些灰阶值而产生一可表示检测区域的灰阶变化程度的评估值，该熵演算法的定义为6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于该比对单元将该评估值与预存的门槛值相比较，若该评估值高于该门槛值，则该比对单元判定该待测点为眩光。7.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于该比对单元将该评估值与预存的门槛值相比较，若该评估值等于或小于该门槛值，则该比对单元判定该待测点为亮点。8.一种用于比对偏光片上亮点瑕疵的门槛值产生方法，于一检测装置执行，且该偏光片材上具有多数个待测点，其特征在于该门槛值产生方法包含以下步骤(A)于一个包含其中之一待测点的检测区域中取样；(B)计算该检测区域的影像灰阶值；(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；(D)重复执行该步骤(A) (C)，直到产生所有对应该些待测点的检测区域的灰阶变化程度的评估值；及(E)从该些评估值中选取一门槛值。9.根据权利要求8所述的用于比对偏光片上亮点瑕疵的门槛值产生方法，其特征在于该步骤(C)利用以下的方程式产生该评估值10.一种检测装置，用于产生比对一偏光片上亮点瑕疵的门槛值，该偏光片材上具有多数个待测点，其特征在于该检测装置包含取样单元，由一个包含其中之一待测点的检测区域中取样；灰阶值计算单元，耦接于该取样单元，用以计算该检测区域中的影像灰阶值；评估值产生单元，耦接于该灰阶值计算单元，其根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；控制单元，耦接于该取样单元、该灰阶值计算单元及该评估值产生单元，用以控制该选取单元、该灰阶值计算单元及该评估值产生单元产生所有对应该些待测点的检测区域的灰阶变化程度的评估值；及选取单元，耦接于该控制单元，该选取单元将由该些评估值中选取出一门槛值。全文摘要本专利技术关于一种偏光片的亮点瑕疵检测方法与门槛值产生方法及其装置，该偏光片的亮点瑕疵检测方法于一检测装置执行，且该偏光片上具有至少一待测点，该亮点瑕疵检测方法包含以下步骤(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样；(B)计算该检测区域中的影像灰阶值；(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；及(D)将该评估值与一门槛值相比对，以检测该待测点是否为亮点瑕疵。如此藉由该亮点瑕疵检测方法可减少后续成品检验人员的人工目检时间。文档编号G01N21/958GK102156137SQ20111006710公开日2011年8月17日 申请日期2011年3月21日 优先权日2011年3月21日专利技术者赵新民 申请人:明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种偏光片的亮点瑕疵检测方法，于一检测装置执行，且该偏光片上具有至少一待测点，其特征在于该亮点检测方法包含以下步骤：（Ａ）于一个包含该待测点的检测区域中取样；（Ｂ）计算该检测区域中的影像灰阶值；（Ｃ）根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；及（Ｄ）将该评估值与一门槛值相比对，以检测该待测点是否为亮点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵新民，
申请(专利权)人：明基材料有限公司，明基材料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：32
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