The invention discloses a method for repairing a projection chord of an CT image, belonging to the technical field of computed tomography. The method of the invention comprises the following steps: 1, not measuring pixel coordinates; step 2, determine the image pixel space; step 3, determine the corresponding to the sine curves without measurement of string map coordinates; step 4, the discrete sine line, were determined not to measure pixel position and the corresponding strength value; structure tensor matrix step 5, we build a local neighborhood to the center of the pixel measurement, solving the eigenvalues and eigenvectors; step 6, for each pixel not measured in step 5, the local neighborhood, and has chosen a sinusoidal line feature vector of the minimum eigenvalue of the matching, the non pixel measurement the interpolation results, as the final estimation of the pixel intensity measurements. The invention can effectively improve the uniformity of chord region uniformity and better preserve the inner edge, so that the reconstructed CT image with better quality can be obtained.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种CT(CT =Computer tomography)图像的投影弦图修补方法,属于 计算机断层成像
技术介绍
对于CT成像,X线源以投影角β沿圆轨道y(i3)围绕探测物体转动。f(x)为待 重建物体的线性衰减系数分布。我们定义图像空间和弦图空间为I和S。圆轨道方程为γ(β ) = (Rcos^ , Rsin^ ) (1)此处,R是X源到等中心点距离。在平行束成像几何中,前向投影为P{pJ) = \j{r^)dl(2)p = r cos(y5 + φ)(3)Ρ(ρ,β)是f(x)的极坐标表达。P(P,β)是在投影角β下的投影强度。图像 空间坐标经极坐标变换后,对于重建图像中一个特定的点(r,妁,通过变化的β,它在投影空 间中相应的正弦轨迹由(3)给出。在扇形束成像几何中,投影角β和扇角Y定义X光线。扇形束变换公式为权利要求1.一种CT图像的投影弦图修补方法,用于探测器内部截断和投影稀疏采样所导致的 投影空间缺失,其特征在于,包括以下步骤步骤1、定位未测量像素坐标; 步骤2、确定图像空间像素族; 步骤3、确定对应于未测量弦图坐标的正弦曲线族; 步骤4、沿着离散化正弦线,分别确定未测量像素位置及相应的强度值; 步骤5、分别构造以各未测量像素为中心的局部邻域的结构张量矩阵,求解其特征值和 特征向量;步骤6、对于各未测量像素,在步骤5所述局部邻域中,选出与具有最小特征值的特征 向量最符合的正弦线,取该未测量像素处的插值结果,作为对该未测量像素强度的最终估 计。2.如权利要求1所述CT图像的投影弦图修补方法,其特征在于,步骤4中所述确定 ...
【技术保护点】
1.一种CT图像的投影弦图修补方法,用于探测器内部截断和投影稀疏采样所导致的投影空间缺失,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、定位未测量像素坐标;步骤2、确定图像空间像素族;步骤3、确定对应于未测量弦图坐标的正弦曲线族;步骤4、沿着离散化正弦线,分别确定未测量像素位置及相应的强度值;步骤5、分别构造以各未测量像素为中心的局部邻域的结构张量矩阵,求解其特征值和特征向量;步骤6、对于各未测量像素,在步骤5所述局部邻域中,选出与具有最小特征值的特征向量最符合的正弦线,取该未测量像素处的插值结果,作为对该未测量像素强度的最终估计。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:李印生,陈阳,罗立民,李松毅,鲍旭东,
申请(专利权)人:东南大学,
类型:发明
国别省市:84
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