自动校准电路制造技术

本发明专利技术涉及自动校准电路。公开了涉及校准电路的电路、装置和方法的实施例。在各种实施例中，可以使用校准电路来校准功率检测器电路。在各种其他实施例中，可以使用校准电路来校准电阻器模块。还可以描述和要求其他实施例。

Automatic calibration circuit

The invention relates to an automatic calibration circuit. Embodiments of a circuit, device, and method relating to a calibration circuit are disclosed. In various embodiments, a calibration circuit may be used to calibrate the power detector circuit. In a variety of other embodiments, a calibration circuit may be used to calibrate the resistor module. Other embodiments can also be described and claimed.

【技术实现步骤摘要】

本公开的实施例一般涉及电路领域，更具体地涉及自动校准电路。
技术介绍
功率检测器被用于各种应用中，例如，检测天线结构发射的通信信号的功率。功率检测器的操作可能受到温度变化、向功率检测器提供功率的电池单元的充电电平、工艺变化等的影响。因此，可以期望对功率检测器周期性地校准。附图说明在附图的各图中以示例的方式而非限制的方式示出了实施例，其中相同标号表示类似元件。图1示意性地示出了根据本公开的各种实施例的包括校准模块的系统。图2示意性地示出了根据本公开的各种实施例的包括另一校准模块的另一系统。图3示出了根据本公开的各种实施例的用于操作图2的系统的方法。图4示出了根据本公开的各种实施例的用于操作图1和/或2的系统的方法。图5示出了根据本专利技术的各种实施例的包括用于校准电阻器模块的校准模块的系统。图6示出了根据本公开的各种实施例的用于操作图5的系统的方法。 具体实施例方式将利用本领域技术人员普遍采用的术语来描述示例性的实施例的各种方面，以向本领域的其他技术人员传达其工作的实质。然而，对于本领域技术人员来说明显的是，仅利用一些所描述方面可以实践替换性实施例。为了阐述的目的，给出特定装置和配置以提供对示例性实施例的彻底理解。然而对于本领域技术人员来说明显的是，在没有特定细节的情况下也可以实践替换性实施例。在其他实例中，已知特征被省略或简化以不使示例性实施例模糊。进一步地，接着以最有助于理解本公开的方式将各种操作描述为多个离散操作； 然而不应当将描述的顺序解释为暗示这些操作必须依赖顺序。具体地，不必以呈现的顺序执行这些操作。短语“在一个实施例中”被重复使用。该短语一般不指代同一实施例；然而，它可以指代同一实施例。术语“包括”、“具有”和“包含”是同义词，除非上下文另外表示不是同义词。在为结合各种实施例使用的语言提供一些澄清上下文时，短语“A/B”和“A和/或 B”表示㈧、⑶或(A和B)；以及短语“A、B禾Π /或C”表示(A)、⑶、(C)、(Α和B)、(Α和 C)、(B 和 C)或(A、B 和 C)。如本文中所使用的，“与......耦合”可以表示以下各项中的一项或两项直接耦合或连接，其中没有其他元件被耦合或连接在被说成彼此耦合的元件之间；或间接耦合或连接，其中一个或更多个其他元件被耦合或连接在被说成彼此耦合的元件之间。图1示意性地示出了本公开的各种实施例的包括校准模块130的系统100。在各种实施例中，系统100包括功率放大器104，功率放大器104可以被配置为接收RF信号，放大所接收到的RF信号，并将放大后的信号发射到天线结构108，天线结构108与功率放大器 104可操作地耦合。天线结构108可以通过无线介质发射RF信号。在各种实施例中，天线结构108可以与耦合器112可操作地耦合。耦合器112可以向与耦合器112可操作地耦合的功率检测器120发射导出检测信号，导出检测信号可以从被发射到天线结构108的RF信号导出。在各种实施例中，导出检测信号可以是被发射到天线结构108的RF信号的采样。因此，至少部分地基于从耦合器112接收的信号，功率检测器120可以检测被天线结构108发射的RF信号的功率。在各种实施例中，功率检测器120 能够检测通过天线结构108的任意频带发射的RF信号的功率。尽管在图1中未示出，但是在各种实施例中，耦合器112的输出在被发射到功率检测器120之前，可以被一个或更多个部件(例如，通过谐波抑制器)处理。功率检测器120可以输出电流Idet，其中电流Idet可以代表耦合器112发射的导出信号。因此电流Idet可以代表天线结构108发射的RF信号的功率。系统100还包括电流至电压转换器(CVC) 124，电流至电压转换器124被配置为接收电流Idet，并至少部分地基于电流Idet生成输出电压Vdet。在各种实施例中，输出电压 Vdet可以代表天线结构108发射的RF信号的功率。在各种实施例中，功率检测器120和/或CVC IM可以具有相对高的增益，这可以导致输出电压Vdet对功率检测器120和/或CVC 124的输入敏感。当天线结构108发射的RF功率相对低时，功率检测器120和/或CVC 124的增益可以尤其高。除了对功率检测器120和/或CVC 124的输入敏感之外，电压Vdet还可能受到各种因素的影响，如操作温度、电源(例如，其可以依赖于向系统100提供功率的电池单元的充电电平)、工艺变化(例如，功率检测器120和/或CVC IM的加工工艺的变化)等。因此，可以期望对功率检测器120和/或CVC 124周期性地校准。系统100还可以包括校准模块130，校准模块130包括校准单元132和校准控制器136。在各种实施例中，校准单元132可以包括电流源模块154以生成电流Itrim，电流 Itrim可以被CVC IM接收。校准控制器136可以被配置为接收输出电压Vdet和参考电压 Vref，并控制校准单元132的操作，例如，控制电流源模块巧4进行的电流Itrim的生成。在一些实施例中，校准模块130可以与功率检测器120、CVC 124和/或系统100 的一个或更多个其他部件被置于单个芯片中。在其他实施例中，校准模块130的一个或更多个部件可以相比于系统100的一个或更多个其他部件而被置于不同芯片中。在各种实施例中，输出电压Vdet可以是电流Idet和Itrim的函数。例如，输出电压Vdet可以等于f (Idet+a. Itrim)，其中α可以是加权因子(例如，α可以等于1)，并且函数f可以是至少部分地基于CVC 124的属性和设置的任意适当函数。在各种实施例中，系统100可以至少以校准模式和可操作模式操作。系统100的可操作模式可以对应于发射RF通信信号的天线结构108。在各种实施例中，天线结构108 可以按一系列突发(burst)发射RF通信信号。在各种实施例中，当天线结构108不发射RF通信信号时，系统100可以按校准模式操作至少一段时间。在以校准模式操作时，校准模块130可以对功率检测器120和/或 CVC IM进行校准。在各种实施例中，系统100可以周期性地(例如，以规则或不规则的间隔)以校准模式操作。例如，校准模块130可以在天线结构108发射RF通信信号的一个或更多个突发之前和/或在规则间隔处按校准模式进行操作。在另一示例中，除了(或替代)在被天线结构108发射的RF通信信号的一个或更多个突发之间以校准模式操作，校准模块130可以每次在系统100接通、重置和/或初始化时以校准模式进行操作。在各种实施例中，操作的校准模式可以在系统100的操作的可操作模式之前。在各种实施例中，当天线结构108不发射RF通信信号时，功率检测器120的输出电流Idet可以相对小。电流Idet的该小值可以代表功率检测器120的额定输出，例如，具有从耦合器112接收到的非常小或没有输入的功率检测器120。此外，当天线结构108不发射RF通信信号时，电流Itrim可以等于额定值。CVC IM的相应输出Vdet，例如与电流 Idet和Itrim的额定值相对应，也可以相对小。在各种实施例中，在预定操作条件下且当天线结构108不发射RF通信信号时，电流Idet可以等于额定电流Idet_n0m，电本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种方法，包括：通过电流至电压转换器接收来自功率检测器的第一电流和来自校准单元的第二电流；通过所述电流至电压转换器至少部分地基于所述第一电流和所述第二电流生成第一电压；以及在校准模式期间通过校准控制器至少部分地基于参考电压调整所述第二电流。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：基兰·卡尔尼克，
申请(专利权)人：特里奎恩特半导体公司，
类型：发明
国别省市：US