具有矩阵型电极串的触控面板及触碰侦测方法技术

本发明专利技术为一种具有矩阵型电极串的触控面板及触碰侦测方法，采用对称型的电极串。每个电极串采取串联电极链，并由串联电极链的两端供应电压以进行扫描，通过串联电极链与所划分的区块，即可将导电层的内部接触区划分成ＭｘＮ个区块。透过扫描区块的扫描方式供应电压给电极串的两端，即可对导电层的不同区块分别进行触碰侦测，进而达到多点触碰侦测的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触控面板，特别是关于一种具有矩阵型电极串的触控面板及触碰 侦测方法。
技术介绍
目前，市面上的主流触控面板，有电阻式与电容式两种。其中，电阻式又有四 线电阻式、五线电阻式、六线、七线或九线电阻式，电容式又区分为表面电容式(Surface Capacitance Touch Screen, SCT)与 身寸 % ^ ζ (Projective Capacitance Touch Screen, PCT)。其中，投射电容式触控面板，又可称为数字式触控技术，而电阻式及表面电容 式触控面板可概称为模拟式触控技术。目前，主流的模拟式触控技术，大致上均采取四点电压供应的输入控制，其在电源 的输入控制上，均采取从四个角落输入控制电压，以进行触碰的感测。例如，表面电容式的运作架构，系统会在ITO层产生一均勻电场，当手指接触面板 会出现电容充电效应，面板上的透明电极与手指间形成电容耦合，进而产生电流变化，控制 器只要量测四个角落电流强度，就可依电流大小计算接触位置。以上的模拟式触控面板技术，在精度上，已可达到的误差范围，不过，其仍停留 在仅能做单点触碰侦测的应用上。对于多点触碰侦测，以目前的模拟式触碰面板技术来说 是无法做到的。而在众多的应用上，多点触碰侦测几乎是目前触碰技术的主流，并且，都以 投射电容式触控面板来做多点触碰侦测的面板。以模拟式触控面板技术来讲，其相对成熟，并且，具有量产的价格优势。若能采用 模拟式触控面板来达到多点侦测，并可达到高精度的硬用，则可大幅降低应用在多点侦测 触控面板的生产成本，可让触控面板的应用快速扩张，应用领域更广。
技术实现思路
有鉴于以上公知技术的问题，本专利技术提出一种矩阵式平行电极串的触控面板，其 可达到运用模拟式触控面板来进行多点触碰的测量的功效。本专利技术提出一种具有矩阵型电极串的触控面板，包含基板；导电层，形成于基板 上，导电层包含一内部接触区；多个电极，连接于电压控制部；多对X轴电极串，形成于导电 层X轴向两侧边缘，每个X轴电极串具有两端，X轴电极串的两端由电极连接而彼此串联； 及多对Y轴电极串，形成于导电层Y轴向两侧边缘，每个Y轴电极串具有两端，Y轴电极串的 两端由电极连接而彼此串联，与X轴电极串相邻的Y轴电极串由电极其中的一连接，Y轴电 极串与X轴电极串包围内部接触区；其中，通过电压控制部提供电压而分别经由电极供应X 轴电极串、Y轴电极串而侦测至少一个触碰点的坐标。本专利技术更提出一种具有矩阵型电极串的触控面板，包含一基板；一导电层，形成 于该基板上，该导电层包含一内部接触区，其由至少一条X轴不连续隔离线与至少一条Y轴 不连续隔离线区隔为多个触碰区块；多个电极，连接于一电压控制部；多对X轴电极串，形成于该导电层X轴向两侧边缘，每个该X轴电极串具有两端，该些X轴电极串的该两端由该 些电极连接而彼此串联，该X轴不连续隔离线是设置于该些X轴电极串的该两端交界线；及 多对Y轴电极串，形成于该导电层Y轴向两侧边缘，每个该Y轴电极串具有两端，该些Y轴 电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联，与该X轴电极串相邻的该Y轴电极串由该些 电极其中之一连接，该些Y轴电极串与该些X轴电极串包围该内部接触区，该Y轴不连续隔 离线是设置于该些Y轴电极串的该两端交界线；其中，通过该电压控制部提供一电压而分 别经由该些电极供应该些X轴电极串、该些Y轴电极串而侦测至少一个触碰点的坐标。本专利技术更提出一种矩阵型电极串的触控面板的触碰侦测方法，该矩阵型电极串的 触控面板包含有多对X轴电极串、多对Y轴电极串与多个电极，该些X轴电极串、该些Y轴 电极串由该些电极连接而串联并形成于该矩阵型电极串的触控面板周围并定义多个扫描 区块，包含下列步骤选取该些扫描区块其中之一；提供定义所选取的该扫描区块的该X轴 电极串与该Y轴电极串所连接的该些电极一 X轴扫描电压，以取得所选取的该扫描区块的 一 X轴触碰坐标；及提供定义所选取的该扫描区块的该X轴电极串与该Y轴电极串所连接 的该些电极一 Y轴扫描电压，以取得所选取的该扫描区块的一 Y轴触碰坐标。以下在实施方式中详细叙述本专利技术的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习 相关技艺者了解本专利技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、保护范围 及附图，任何熟悉相关技术人员可轻易地理解本专利技术相关的目的及优点。附图说明图1为本专利技术的矩阵型面板示意图； 图2为图1于第一时间时提供区块扫描的示意图； 图3为图1于第二时间时提供区块扫描的示意图； 图4A为图1于第三时间时提供区块扫描的示意图； 图4B为图1于第四时间时提供区块扫描的示意图； 图5A为本专利技术的矩阵型面板的一具体实施例； 图5B为本专利技术的矩阵型面板的另一具体实施例； 图6为图5A、5B中部份区域的放大图的一例； 图7为图5A、5B中部份区域的放大图的又一例； 图8为图5A、5B中部份区域的放大图的再一例； 图9A为图5A实施例的导电层蚀刻图； 图9B为图5B实施例的导电层蚀刻图； 图10为图5A、5B实施例的导电框层图案的一例； 图IlA为本专利技术的矩阵型面板的扫描方法流程图的一例；及 图IlB为本专利技术的矩阵型面板的扫描方法流程图的又一例。 符号说明100触控面板110导电层120串联电极链122串连电极124不连续绝缘段1 第一均化电极128X轴不连续隔离线130Y轴不连续隔离线132第二均化电极附 N12 电极T1、T2、T3 触碰点200、200A、200B、200C 选取区ENl Em2 电极板 dx, dy 间距具体实施例方式与传统的四角落电极的不同处，本专利技术是设计了多组对称的X轴与Y轴电极串来 定义出扫描区块。每个电极串的两端皆由电极连接并连接至外部的电压控制部，通过电压 控制部控制电极串两端的电压而定义出扫描区块。接着，在扫描区块中提供不同的电压梯 度而获得X轴与Y轴的触碰坐标，即可取得扫描区块中的触碰坐标。如此，在不同时序时， 可侦测不同的区块，来计算该区块的触碰坐标，亦即，区块中的单点定位，进而达到可侦测 多点触碰的目的。例如，采用两对X轴电极串与两对Y轴电极串，即可侦测四个区块的四点触碰；采 用三对X轴电极串与三对Y轴电极串，即可侦测九个区块的九点触碰；采用两对X轴电极串 与三对Y轴电极串，则可侦测六个区块的六点触碰。以此类推，若有M对X轴电极串，N对Y 轴电极串，即可侦测MxN个区块，进行MxN点的触碰侦测，M，N为至少为1的整数。采用模拟式触控面板的好处是，其工艺纯熟、生产良率高，且价格低廉。在目前的 精度日渐增加的状况下，再搭配本专利技术的矩阵式平行电极串，即可实现高精度的多点触碰 侦测。其与现今主要采取PCT作为多点触碰侦测用的触控面板比较，有极大的性价比优势。此外，本专利技术的矩阵型电极串结构，仅需运用一层导电层即可实现电容式的触碰 侦测，而不需要两层导电层，可大幅降低生产成本。请参考图1，其为本专利技术的矩阵型电极串的触控面板示意图，3x3的矩阵型电极串 的触控面板100，可扫描并准确地获得如图中所示的9个区块的触碰结果。首先说明的是， 本专利技术是可运用相同的电极结构，制作出MxN的平行电极矩阵，图1的实施例仅为其中一 种，依照以下本专利技术的揭露，当可直接制作出MxN矩阵的各种不同区块的本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种具有矩阵型电极串的触控面板，其特征在于，包含：一基板；一导电层，形成于该基板上，该导电层包含一内部接触区；多个电极，连接于一电压控制部；多对Ｘ轴电极串，形成于该导电层Ｘ轴向两侧边缘，每个该Ｘ轴电极串具有两端，该些Ｘ轴电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联；及多对Ｙ轴电极串，形成于该导电层Ｙ轴向两侧边缘，每个该Ｙ轴电极串具有两端，该些Ｙ轴电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联，与该Ｘ轴电极串相邻的该Ｙ轴电极串由该些电极其中之一连接，该些Ｙ轴电极串与该些Ｘ轴电极串包围该内部接触区；其中，通过该电压控制部提供一电压而分别经由该些电极供应该些Ｘ轴电极串、该些Ｙ轴电极串而侦测至少一个触碰点的坐标。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶恒铭，陈亦达，
申请(专利权)人：万达光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]