一种频率测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种频率测试装置，包括钟振电路，钟振电路与待测晶体相连，电源向钟振电路供电，钟振电路的信号输出端与计数器相连。本实用新型专利技术通过钟振电路对待微调晶体的频率值精确测量，使得控制系统的测试精度更高，测频范围更宽，抗干扰能力强，维护方便。本实用新型专利技术部件少，结构合理，性能稳定，操作简单，性价比很高。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测试装置，特别属于一种频率测试装置。 技术背景石英晶体谐振器在微调过程中，其频率值是通过频率测试卡测得的。如果测试卡 本身存在误差，或者环境的影响都会造成测出的频率值不准确。计算机用获得一个不准确 的频率信号去控制微调机对晶体进行微调，那么微调出来的晶体频率值必然会偏离设定 值，造成产品散差很大，甚至变成废品，直接影响到产品的合格率和生产效率，降低企业的 经济效益。因此，在石英晶体谐振器微调过程中，如何选用合适的频率测试卡去测试产品， 是生产过程中需要解决的根本问题。目前，微调机上所用的测试卡，是电容调谐式，在测试频率时需要进行调谐，所用 元件多，线路繁杂，故障率高，维修困难。另外，抗频率干扰能力差，测试不准确(士5ppm)， 测频范围窄(1 - 60 MH ζ)，难以满足生产要求。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种测试准确度高、结构简单、成本低的 频率测试装置。本技术解决技术问题的技术方案为一种频率测试装置，包括钟振电路，钟振 电路与待测晶体相连，电源向钟振电路供电，钟振电路的信号输出端与计数器相连。本技术与现有技术相比，本技术通过钟振电路对待微调晶体的频率值精 确测量，使得控制系统的测试精度更高，测频范围更宽，抗干扰能力强，维护方便。本专利技术 部件少，结构合理，性能稳定，操作简单，性价比很高。附图说明图1为本技术的电路框图。具体实施方式一种频率测试装置，包括钟振电路2，钟振电路2与待测晶体4相连，电源1向钟振 电路2供电，钟振电路2的信号输出端与计数器相连，如图1所示。如图1所示，所述的待测晶体4夹置在测试夹具上，当待测晶体4安装在测试夹具 上，钟振电路2就会工作，产生一个频率信号，这个频率信号的频率值就是待测晶体4的频 率值。所述的电源1为+5V直流电，所述的计数器采用计数卡3，所述的计数卡3与计算机 通讯。钟振电路2是由集成块和外围元件组成的振荡电路，钟振电路2和待测晶体4共同 产生一个频率信号传送至计数卡3，计数卡3将模拟的频率信号进行运算变换成数字信号 送给计算机。在工作时，当+5V直流电加到钟振电路2中，钟振电路2无需进行电容调谐，能迅页速检测出待测晶体4的频率值.再送到计数卡3中进行变换运算。测试精度高，测频范围 宽，完全取代传统的按频段反复设置的方法，故障率极低。通过本专利技术装置对待微调晶体的 频率值精确测量，使得控制系统的测试精度更高(士lppm)，测频范围更宽(1 - 120 MH ζ). 抗干扰能力强，维护方便。本专利技术部件少，结构合理，性能稳定，操作简单，性价比很高。权利要求1.一种频率测试装置，其特征在于包括钟振电路(2)，钟振电路(2)与待测晶体(4)相 连，电源(1)向钟振电路(2)供电，钟振电路(2)的信号输出端与计数器相连。2.根据权利要求1所述的频率测试装置，其特征在于所述的待测晶体(4)夹置在测试 夹具上。3.根据权利要求1所述的频率测试装置，其特征在于所述的电源(1)为+5V直流电。4.根据权利要求1所述的频率测试装置，其特征在于所述的计数器采用计数卡(3)， 所述的计数卡(3)与计算机通讯。专利摘要本技术公开了一种频率测试装置，包括钟振电路，钟振电路与待测晶体相连，电源向钟振电路供电，钟振电路的信号输出端与计数器相连。本技术通过钟振电路对待微调晶体的频率值精确测量，使得控制系统的测试精度更高,测频范围更宽，抗干扰能力强，维护方便。本技术部件少，结构合理，性能稳定，操作简单，性价比很高。文档编号G01R23/10GK201886080SQ201020654568公开日2011年6月29日 申请日期2010年12月13日 优先权日2010年12月13日专利技术者何基常, 房振东 申请人:铜陵嘉禾电子科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种频率测试装置，其特征在于：包括钟振电路（２），钟振电路（２）与待测晶体（４）相连，电源（１）向钟振电路（２）供电，钟振电路（２）的信号输出端与计数器相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何基常，房振东，
申请(专利权)人：铜陵嘉禾电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：34[中国|安徽]