一种自动光学检测装置，其包括基座、第一支架、至少一个缺陷扫描单元、第二支架以及至少一个缺陷影像获取单元。第一支架跨接在基座的两侧。缺陷扫描单元设置在第一支架上，用来检测出基板上的至少一处缺陷并且输出该缺陷的坐标。第二支架也跨接在基座的两侧。缺陷影像获取单元设置在第二支架上，用来根据前述坐标获取缺陷的影像。此外，第一支架和／或第二支架可以移动。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种自动光学检测装置，特别是一种体积较小的自动光学检测装置。
技术介绍
自动光学检测(Automated Optical Inspection, AOI)装置经过多年的改良，已经成功地运用于外观检测。举例而言，自动光学检测装置可用来检测玻璃基板是否刮伤、印刷电路板是否有漏铜或异物附着等。请参照图1，现有的自动光学检测装置1是将倒U型的支架12、14固定到基座11上，使基板4可根据箭头A的方向通过支架12、 14的两立柱之间。缺陷扫描单元13设置在前端的支架12的横梁上，用来检测下方通过的基板4是否有缺陷。如果基板4有缺陷，则缺陷扫描单元13输出缺陷所在的坐标。缺陷影像获取单元15设置在后端的支架14的横梁上，其可根据缺陷所在的坐标而获取缺陷所在位置的影像。缺陷影像获取单元15获取的影像可供操作人员检视，以进一步分析该缺陷的成因或判断该缺陷是否为误判。随着液晶显示器的面板朝着大尺寸的方向发展，用于检测玻璃基板或液晶显示面板的自动光学检测装置的体积也相对地增大。为了方便维修，现有的自动光学检测装置1会在基座11上设置走道16，维修人员即可在走道16上维修缺陷扫描单元13或缺陷影像获取单元15。根据上述结构，缺陷扫描单元13以及缺陷影像获取单元15之间必须保留足够维修人员通过的间距D1，因而使得自动光学检测装置1的体积无法有效縮小。请参照图2，另一种现有的自动光学检测装置2则是在基座11上设置单一支架21。缺陷扫描单元13以及缺陷影像获取单元15分别设置在支架21的横梁两侧，走道16邻近缺陷扫描单元13和/或缺陷影像获取单元15，并设置在基座11上。然而，为同时设置缺陷扫描单元13和缺陷影像获取单元15，支架21必须有足够的体积以增加其强度和支撑性，并且支架21与缺陷扫描单元13、缺陷影像获取单元15间，也需要各自设置连接组件，导致缺陷扫描单元13与缺陷影像获取单元15之间的距离，仍无法有效縮短。综上所述，如何改良自动光学检测装置的结构，使其体积减小、易于维修并且增加操作弹性，便是目前亟需努力的目标。
技术实现思路
针对上述问题，本技术目的之一是提供一种自动光学检测装置，其将连接缺陷扫描单元和/或缺陷影像获取单元的支架，以可移动的方式设置在基座上，以使缺陷扫描单元与缺陷影像获取单元之间的间距可根据需求任意配置。这样，缺陷扫描单元与缺陷影像获取单元之间的间距可以縮减至最小，而自动光学检测装置的体积也因而减縮，但是在维修自动光学检测装置时，移动缺陷扫描单元和/或缺陷影像获取单元可使缺陷扫描单元与缺陷影像获取单元之间仍有足够的空间供维修人员通过。为了达到上述目的，本技术的一个实施例的自动光学检测装置包括基座、第一支架、至少一个缺陷扫描单元、第二支架以及至少一个缺陷影像获取单元。第一支架跨接在基座的两侧。缺陷扫描单元设置在第一支架上，用来检测出基板上的至少一处缺陷并输出该缺陷的坐标。第二支架也跨接在基座的两侧。缺陷影像获取单元则设置在第二支架上，用来根据前述坐标获取缺陷的影像，其中该第一支架和/或该第二支架可以移动。以下通过具体实施例配合附图予以详加说明，可以更容易了解本技术的目的、
技术实现思路
、特点及其所达成的功效。附图说明图1为示出现有的自动光学检测装置的侧视图。图2为示出另一现有的自动光学检测装置的侧视图。图3a为示出本技术优选实施例的自动光学检测装置的检测状态的侧视图。图3b为示出本技术优选实施例的自动光学检测装置的维修状态的侧视图。主要组件符号说明1、 2 现有的自动光学检测装置11 基座12、 14、 支架2113 缺陷扫描单元15 缺陷影像获取单元16 走道3 本技术的自动光学检测装置31 基座311 滑轨32 第一支架33 缺陷扫描单元331 第一电荷藕合组件332 第一镜头组34 第二支架35 缺陷影像获取单元351 第二电荷藕合组件352 第二镜头组36 走道4 基板Dl、 D2、 间距D3具体实施例如下请参照图3a，本技术的优选实施例的自动光学检测装置3包括基座31、第一支架32、缺陷扫描单元33、第二支架34以及缺陷影像获取单元35。第一支架32跨接在基座31的两侧；第二支架34也跨接基座31的两侧，举例而言，第一支架32以及第二支架34可以是倒U型。基板4即可依照箭头A的方向通过第一支架32以及第二支架34的两立柱之间。在实施例中，基座4包括运送单元(未示出)，其用来移动基板4;而基板4可为玻璃基板或是液晶显示面板等平面待测物。应当注意的是，第二支架34以可移动的方式与基座31连接。承上所述，缺陷扫描单元33设置在第一支架32上，用来检测出基板4上的至少一处缺陷，并且输出该缺陷的坐标。缺陷影像获取单元35设置在第二支架34上，用来根据缺陷扫描单元33输出的坐标来获取缺陷的影像。举例而言，缺陷影像获取单元35包括驱动单元(未示出)，其用来根据缺陷扫描单元33输出的坐标来驱动缺陷影像获取单元35到缺陷所在的位置。在实施例中，基座31包括滑轨311，其使第二支架34可以沿着滑轨311移动。第二支架34可包括固定组件(未示出)，其使第二支架34可以固定在基座31上。根据上述结构，自动光学检测装置3在检测时，第二支架34可以移向第一支架32，使缺陷扫描单元33与缺陷影像获取单元35之间具有一较小的间距D2，如图3a所示；而自动光学检测装置3在维修时，第二支架34可沿着滑轨311远离第一支架32，使缺陷扫描单元33与缺陷影像获取单元35之间具有一较大的间距D3，如图3b所示。须注意的是，移动第二支架34的时机并不限定在维修时，操作者可根据需求任意移动第二支架34以调整缺陷扫描单元33与缺陷影像获取单元35之间的间距。此外，上述实施例是以移动第二支架34作说明，然而，根据需求，也能够将第一支架32相对于基座31移动来实施本专利技术。此外，基座31可以还包括相对于第一支架32的滑轨；第一支架32可以还包括相对应的固定组件。请参照图3b，本技术的自动光学检测装置3还包括走道36，其可拆卸地跨接于基座31的两侧。优选的是，走道36的设置位置邻近缺陷扫描单元33和/或缺陷影像获取单元35。请再参照图3a，缺陷扫描单元33包括第一电荷藕合组件(ChargeCoupled Device, CCD)331、第一镜头组332以及至少一个第一光源(未示出)。第一镜头组332设置在第一电荷藕合组件331的前端；而第一光源可设置在基板4的上方和/或下方。缺陷影像获取单元35包括第二电荷藕合组件351、第二镜头组352以及至少一个第二光源(未示出)。第二镜头组352设置在第二电荷藕合组件351的前端；而第二光源则设置在基板4的上方和/或下方。综合上述，本技术的自动光学检测装置将连接缺陷扫描单元和/或缺陷影像获取单元的支架，以可移动的方式设置在基座上，使缺陷扫描单元与缺陷影像获取单元之间的间距可根据需求任意配置。如此，缺陷扫描单元与缺陷影像获取单元之间的间距得以縮减至最小，而自动光学检测装置的体积也因而减縮，但在维修自动光学检测装置时，移动缺陷扫描单元和/或缺陷影像获取单元，可使缺陷扫描单元与缺陷影像获取单元之间仍有足够的空间供维修人员通过。以上所述的实施例仅为说明本实本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动光学检测装置，其包括： 一基座； 一第一支架，其跨接于所述基座的两侧； 至少一个缺陷扫描单元，其设置于所述第一支架上，用来检测出所述基板上的至少一处缺陷并且输出该缺陷的坐标； 一第二支架，其跨接于所述基座的两 侧；以及 至少一个缺陷影像获取单元，其设置于所述第二支架上，用来根据所述坐标获取所述缺陷的影像，其中所述第一支架和／或所述第二支架是可移动的。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：叶东益，
申请(专利权)人：晶彩科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]
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