用于清洁接触器装置的系统和方法制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种用于清洁接触器装置的系统和方法。所述清洁系统包括自动化测试处理机和处理机控制器，所述处理机控制器用于控制所述处理机的操作并促进用户与所述处理机的交互。所述处理机进一步包括接触器，所述接触器具有多个引脚以用于建立与一个或一个以上输入装置的电连接。所述处理机经配置以容置一个或一个以上输入装置和一个或一个以上代用清洁装置。所述代用清洁装置经配置以清洁所述接触器的所述引脚。定位在所述处理机中的拾取和放置机构经配置以将所述输入装置和所述代用清洁装置两者输送到所述接触器。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
提供以下对本专利技术
技术介绍
的描述只是为了帮助理解本专利技术，而不承认其描述或构 成本专利技术的现有技术。本专利技术大体上涉及半导体装置测试的领域。具体地说，本专利技术涉及用于清洁自动化 测试设备("ATE")中的半导体装置接触器的系统和方法。
技术介绍
ATE在半导体行业中用于测试半导体装置。 一般来说，自动化测试设备经配置以接 纳一批或"堆"用-"T测试的半导体装置。ATE基于预定设置来实行测试，所述预定设置 取决于输入到ATE中以供测试的每一装置的特性。在实际测试期间，将经配置以操纵输 入装置的操作条件的各种测试系统应用于输入装置并记录结果。一般来说，为了进行测试，首先将输入装置连接到接触器。用于测试的接触器的特 性会影响测试的再现性以及测试产量。不良的接触器可能会造成无效故障或测试错误对 比，这又可能导致不应有的机器停机时间、无法解释的产量问题乃至客户退货。接触器包括一组引脚。这些引脚在电学测试期间接触输入装置的引线或焊球。接触 元件通常由表面镀金的铍铜基金属构成。接触元件的轮廓对于接触完整性和寿命延长来 说至关重要。在测试期间，必须将每一装置插入到接触器中以电连接到测试器。在测试每一装置 的整个过程中，接触器上的引脚会聚集碎屑和其它外来物质。外来物质或碎屑致使接触 器在欠佳条件下执行任务。这可能会产生欠准确的测试结果。因此，必须定期清洁接触 器引脚。当前，在大多数ATE中，使设备处理整体暂停来清洁接触器引脚。这种方法延 长了处理和测试一堆或批半导体装置所需的时间。因此，需要一种有效地清洁ATE屮的 接触器以便可高效地处理--'堆半导体装置的系统和方法。
技术实现思路
本专利技术的一个实施例涉及一种用于清洁接触器装置的系统，其包括自动化测试处理 机。所述处理机进一步包含接触器，其具有多个引脚以用于建立与一个或一个以上输入 装置的电连接。所述处理机经配置以容置一个或一个以上输入装置和一个或一个以上代 用清洁装置，其中所述代用清洁装置经配置以清洁接触器的引脚。拾取和放置机构定位 在处理机中且经配置以将输入装置和代用清洁装置两者输送到接触器。所述系统还包括 处理机控制器以用于控制处理机的操作并促进用户与处理机的交互。根据本专利技术的另一实施例， 一种用于清洁处理机中的接触器装置的方法包括提供 容置在处理机中的一个或一个以上代用清洁装置i;在处理机中提供一个或一个以上输 入装置；以及确定接触器是否需要清洁。如果接触器需要清洁，那么所述方法执行自动 清洁循环。如果接触器不需要清洁，那么所述方法执行装置处理循环。根据本专利技术的又一实施例，自动清洁循环的执行包括以下步骤确定代用清洁装置 是否可用于清洁接触器，并将代用清洁装置插入到接触器中以便清洁接触器。/豈j附，則还w;t安畑讼々wkA r'i^畑佃讼(^君"J'i乂疋乂J、氾'tttrj亇H將禾甲T土tni' iii、PK帀'j 所主张的本专利技术。 附图说明通过以下描述、所附权利要求书和附图中所展示的附随示范性实施例将容易明白本 专利技术的这些和其它特征、方面及优点，下文简要描述所述附图。图1是根据本专利技术的一个实施例的用于清洁接触器装置的系统的方框图。 图2是根据本专利技术的一个实施例的用于清洁接触器装置的系统的图形用户界面的截屏。图3是根据本专利技术的一个实施例的自动化测试设备处理机的方框图。 图4是根据本专利技术的一个实施例的代用清洁装置的图。图5是说明根据本专利技术的一个实施例的用于清洁接触器装置的方法的初始化序列的 流程图。图6是说明根据本专利技术的一个实施例的用于清洁接触器装置的方法的加载序列的流 程图。图7是说明根据本专利技术的一个实施例的用于清洁接触器装置的方法的自动清洁循环 序列的流程图。图8是根据本专利技术的一个实施例的用于接触器的弹簧引脚在清洁之前的照片。 图9是根据本专利技术的一个实施例的用于接触器的弹簧引脚在清洁之后的照片。图IO是说明根据本专利技术的一个实施例的后清洁序列的流程图。 具体实施例方式下文将参看附图来描述本专利技术实施例。应了解，以下描述内容意图描述本专利技术的示 范性实施例，而非限制本专利技术。图l展示根据本专利技术的一个实施例的装置清洁系统。所述装置清洁系统包括处理机 (ATE) 10和控制器20。根据本专利技术的一个实施例，控制器20是以可操作方式连接到处 理机10的个人计算机、工作站或服务器。在本专利技术的另一实施例中，控制器20可集成 到处理机10中。控制器20包括处理器和存储器，其经配置以运行软件以供操作装置清 洁系统。控制器20还允许用户30输入命令以供处理机IO执行。另外，控制器20向用 户30提供输出。根据本专利技术的一个实施例，用户30可通过使用由控制器20实施的图 形用户界面40来输入命令和査看输出。图2中展示图形用户界面的示范性实施例。用户30可使用GUI40来输入命令并建 立和改变装置清洁系统的设置。本文将论述用户30可使用GUI40来建立的命令和设置 的实例。这些命令和设置可直接影响处理机IO的操作和总体清洁系统性能。图3中展示处理机10的方框图。处理机30包括至少一个接触器50、具有梭65的 拾取和放置机构60以及箱仓70，所述箱仓70可填充有一个或一个以上JEDEC托盘80。 所述JEDEC托盘包括用于测试的输入装置90。另外，代用清洁装置(SCD) 100容置 在标准JEDEC托盘110中。优选地，唯一箱仓70还由装置清洁系统识别以用于容置SCD JEDEC托盘110。箱仓位置存储在控制器20的存储器中以有利于装置清洁系统软件。输入装置90放置与接触器50物理接触以进行测试。接触器50建立与输入装置90 的电连接以便测试输入装置90的所需特性。 一般来说，接触器50的配置取决于输入装 置90。接触器50的配置影响包括测试产量在内的测试结果以及再现测试结果的能力。接触器50具有一组称为弹簧引脚的触点55。触点55还可称为接触指和/或接触元 件。弹簧引脚55是附接到接触器以接触输入装置90的一类钉子。 一般来说，弹簧引脚 55和类似元件由表面镀金的基于铍铜的金属构成。图8和图9中展示弹簧引脚55的放 大视图。弹簧引脚55优选相对较干净(没有碎屑)以便确保装置清洁系统的高质量操 作。装置清洁系统使用SCD100确保了弹簧引脚55的干净度，且因此确保了处理机IO 的高效操作。通常，对于每一群组的接触器50来说，存在若干倍所述量的用以清洁接 触器50的不同SCD 100。如图4所示，根据本专利技术的一个实施例，SCD由若干层构成。根据本专利技术的一个实6施例，SCD 100大约为450lam厚。优选地，SCD 100在输入装置卯的尺寸的+/-0.010"内。 一般来说，形成SCD 100的层由碎屑俘获材料构成。举例来说，基层包含粘附剂 101。 PET膜102放置在粘附剂101之上。聚氨酯泡沫103搁置在PET膜102之上。聚 氨酯泡沫103含有树脂105和研磨物质104。这些物质能够清洁接触器50，尤其是弹簧 引脚55。现在将描述所述系统的操作。图5是展示根据本专利技术的一个实施例的用于装置测试 系统的通电/启动序列的流程图。首先，将处理机10通电(步骤IOOO)。控制器20开始 处理机IO的初始化序列(步骤1010)。根据本专利技术的一个实施例，在初始化序列期间执 行的一个操作检测处理机1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于清洁接触器装置的系统，其包含：　自动化测试处理机，其中所述处理机进一步包含：　接触器，其具有多个引脚以用于建立与一个或一个以上输入装置的电连接；　一个或一个以上输入装置；　一个或一个以上清洁装置，其中所述清洁 装置经配置以清洁所述接触器的所述引脚；　拾取和放置机构，其经配置以将所述输入装置和所述清洁装置两者输送到所述接触器；以及　处理机控制器，其用于控制所述处理机的操作并促进用户与所述处理机的交互。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：恩佐贝尔塔吉亚，克雷格加德，詹姆斯麦克法兰，
申请(专利权)人：三角设计公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]