连接检查板制造技术

技术编号:5328308 阅读:183 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术的连接检查板检测待测芯片样品的引脚与DUT板插座的管脚是否接触良好,包括牛角接头和印刷电路板;所述牛角接头固定设置在所述印刷电路板的一表面上;所述牛角接头设有多个接头,所述多个接头与所述DUT板的金手指相匹配;所述印刷电路板设有多个指示灯、多个电阻和一电源;一个所述接头串联一个所述指示灯,串联的所述接头和指示灯通过所述电阻选择连接所述电源的正极或者负极。本实用新型专利技术的连接检查板能直接定位接触不良的待测芯片样品的引脚,检测工作量小,效率高。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及封装的芯片级测试,尤其涉及一种连接检查板
技术介绍
在封装的芯片级测试中使用DUT(device under test, DUT)板连接待测芯片样品 和测试设备。参见图1,DUT板100上设有多个插座(sockets) 110和多个金手指 (gOldfingers)120,每个插座110又包括多个管脚111,测试时,待测芯片样品的引脚插入 所述插座110的管脚111,实现所述待测芯片样品与所述DUT板100的连接,所述DUT板100 的金手指120插入测试设备,实现所述DUT板100与所述测试设备的连接。所述插座110的 管脚111的数量等于所述金手指120的数量,一个所述管脚111与一个所述金手指120电 连接。DUT板的长期使用或者待测芯片样品的封装质量问题都会造成待测芯片样品与 DUT板无法形成良好接触,当插座的管脚与金手指的电连接通道出现问题时也会造成待测 芯片样品与DUT板无法形成良好接触,如果在封装的芯片级测试初级阶段没有检测出待测 芯片样品与DUT板的不良接触问题,就会直接导致测试失败。现有技术中,检测待测芯片样品与DUT板是否接触良好使用万用电阻表测量DUT 板的金手指,依靠万用电阻表显示的电阻值判断接触是否有异常,这就是说,如果在封装的 芯片级测试过程中发现待测芯片样品与DUT板出现接触不良的问题,因为无法具体知道是 哪个待测芯片样品的哪个引脚与插座的管脚接触不良,为找出问题的根源,就需要使用万 用电阻表检测所有待测芯片样品的所有引脚,检测工作量大,效率低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种连接检查板,用于检测待测芯片样品的引脚与 DUT板插座的管脚是否接触良好,该连接检查板能直接定位接触不良的待测芯片样品的引 脚,检测工作量小,效率高。为了达到上述的目的,本技术提供一种连接检查板,检测待测芯片样品的引 脚与DUT板插座的管脚是否接触良好,其特征在于,包括牛角接头和印刷电路板;所述牛角 接头固定设置在所述印刷电路板的一表面上;所述牛角接头设有多个接头,所述多个接头 与所述DUT板的金手指相匹配;所述印刷电路板设有多个指示灯、多个电阻和一电源;一个 所述接头串联一个所述指示灯,串联的所述接头和指示灯通过所述电阻选择连接所述电源 的正极或者负极。上述连接检查板,其中,所述牛角接头的接头平均分成多组,一组所述接头对应所 述DUT板的一个插座,按一定顺序,从每组取一个由所述接头和指示灯组成的串联支路并 联,并联后再串连一个所述电阻。上述连接检查板,其中,每组所述接头所包含的接头的个数等于所述DUT板一个插座所包含的管脚的个数。上述连接检查板,其中,所述电阻的数量等于每组所述接头所包含的接头的个数。上述连接检查板,其中,所述印刷电路板还设有多个电阻跳线端、多个电源正极跳 线端和多个电源负极跳线端;所述多个电源正极跳线端分别与所述电源的正极连接;所述 多个电源负极跳线端分别与所述电源的负极连接;一个所述电阻跳线端与一个所述电阻连接。上述连接检查板,其中,所述电源正极跳线端的数量等于所述电阻跳线端的数量。上述连接检查板,其中,所述电源负极跳线端的数量等于所述电阻跳线端的数量。本技术的连接检查板通过牛角接头与待测芯片样品及DUT板建立电连接,通 过跳线方式形成电回路,以指示灯显示待测芯片样品的引脚与DUT板插座的管脚是否接触 良好,能直接定位接触不良的待测芯片样品的引脚,检测工作量小,效率高;本技术的连接检查板按一定顺序,从每组取一个由所述接头和指示灯组成的 串联支路并联,在同时检测多个待测芯片样品时只要跳一次线,使用起来非常简单;本技术的连接检查板的牛角接头与DUT板的金手指匹配,适用于与DUT板匹 配的不同引脚数量的待测芯片样品,适用性广;本技术的连接检查板可同时检测多个待测芯片样品,不仅可以快速检测出接 触不良的待测芯片样品,还可以直接定位接触不良的引脚,功能齐全;本技术的连接检查板成本低。附图说明本技术的连接检查板由以下的实施例及附图给出。图1是现有技术中DUT板的结构示意图。图2是本技术连接检查板一较佳实施例的结构示意图。图3是本技术中印刷电路板的俯视图。图4是本技术连接检查板一较佳实施例的电路图。图5是本技术中测试结构的示意图。具体实施方式以下将结合图2 图5对本技术的连接检查板作进一步的详细描述。现以一具体实施例详细说明本技术的连接检查板参见图2,本实施例的连接检查板包括牛角接头210和印刷电路板220 ;所述牛角接头210固定设置在所述印刷电路板220的一表面上。所述牛角接头210与DUT板的金手指相匹配;本实施例中,所述DUT板如图1所示,该DUT板100上设有6个插座110,每个插座 110包括8个管脚111,相应地,该DUT板100上设有48个金手指120 ;所述牛角接头210设有多个接头211,所述接头211的数量等于所述DUT板100所 包含的金手指120的数量,本实施例中,所述牛角接头210有48个接头211 ;所述牛角接头210与所述DUT板的金手指相匹配是指所述牛角接头210的接头 211与所述DUT板的金手指相匹配;将所述牛角接头210的48个接头211平均分成6组,每组包含8个接头211,每 组接头对应于一个插座,即使用本实施例连接检查板时,同一组的8个接头将分别与同一 插座的8个管脚建立电连接,为了表述的清楚,将6个组分别命名为A组、B组、C组、D组、 E组和F组,对于A组的8个接头按顺序分别命名为A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7和A8,对于B 组的8个接头按顺序分别命名为附、82、83、84、85、86、87和B8,其他各组接头的命名以此 类推。参见图3和图4,所述印刷电路板220上设有多个指示灯221、多个电阻222、多个 跳线端223和电源224 ;所述指示灯221的数量等于所述接头211的数量;所述跳线端223包括三种类型,分别是电源正极跳线端jump P、电源负极跳线端 jump N、以及电阻跳线端jump R,每种类型的跳线端均包括多个;继续参见图4,本实施例中,所述印刷电路板220上设有48个指示灯221,所述牛 角接头210的一个接头211串联一个指示灯221 ;与A组接头中第一个接头Al串联的指示灯的另一端、与B组接头中第一个接头Bl 串联的指示灯的另一端、与C组接头中第一个接头Cl串联的指示灯的另一端、与D组接头 中第一个接头Dl串联的指示灯的另一端、与E组接头中第一个接头El串联的指示灯的另 一端、与F组接头中第一个接头Fl串联的指示灯的另一端连接,即各组接头中第一个接头 与一个指示灯串联形成的支路是并联的,并联后再串联一个电阻,该电阻的另一端与一个 电阻跳线端jump R连接;与A组接头中第二个接头A2串联的指示灯的另一端、与B组接头中第二个接头B2 串联的指示灯的另一端、与C组接头中第二个接头C2串联的指示灯的另一端、与D组接头 中第二个接头D2串联的指示灯的另一端、与E组接头中第二个接头E2串联的指示灯的另 一端、与F组接头中第二个接头F2串联的指示灯的另一端连接,即各组中第二个接头与一 个指示灯串联形成的支路是并联的,并联后再串联本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种连接检查板,检测待测芯片样品的引脚与DUT板插座的管脚是否接触良好,其特征在于,包括牛角接头和印刷电路板;  所述牛角接头固定设置在所述印刷电路板的一表面上;  所述牛角接头设有多个接头,所述多个接头与所述DUT板的金手指相匹配;  所述印刷电路板设有多个指示灯、多个电阻和一电源;  一个所述接头串联一个所述指示灯,串联的所述接头和指示灯通过所述电阻选择连接所述电源的正极或者负极。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:冯军宏马瑾怡郑雅文王晓韬许晓锋
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司
类型:实用新型
国别省市:31

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