一种单板测试支架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种单板测试支架，所述支架包括横梁和导轨，所述横梁和导轨上含有多个安装孔，所述导轨通过安装孔固定在横梁上。本实用新型专利技术提供了能够满足在单板测试阶段对单板底面信号进行采集测试的支架，通过调节该支架的横梁和导轨的相对位置，可以满足各种不同大小的母卡及子卡的配置形式，是一种通用化的单板测试支架。本实用新型专利技术的支架装配简单，操作方便，实现成本低。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及单板测试
，特别是涉及一种单板测试支架。
技术介绍
目前，在进行单板配置时，为了满足客户多样化的配置需求，现有技术中经常采用 如图1所示的单板配置形式。其中，母卡11的前端可能配置一块或多块带有不同业务功能 的子卡12，以满足客户多样化的使用要求。在这种情况下，面板13需要托住整个母卡11和 子卡12的底面，通过面板13上的支撑及导向结构，对母卡11和子卡12起到支撑和彼此间 导向的作用，从而将两者形成一个整体放置在系统内。而在每个单板实际的研发、调试、测试的过程中，需要对单板底面的一些器件的信 号进行采集、测试和研究，如果装上面板13则无法进行此项工作。而当不装面板13，直接 将母卡11和子卡12进行对插，由于失去了面板13对两者的支撑和导向作用，使得连接插 座14承受不正常的工作应力，在单板的测试、搬运和插拔过程中很容易导致连接插座14损 坏，甚至导致整个单板报废。
技术实现思路
本技术要解决的问题是提供一种单板测试支架，以克服现有技术中测试单板 底面信号时由于缺少支撑而造成单板损坏的缺陷。为达到上述目的，本技术的技术方案提供一种单板测试支架，所述支架包括 横梁和导轨，所述横梁和导轨上含有多个安装孔，所述导轨通过安装孔固定在横梁上。进一步，所述导轨包括长导轨和短导轨，所述长导轨用于固定单板的母卡，所述短 导轨用于固定单板的子卡。进一步，根据母卡的形状选择横梁和长导轨的安装孔，所述长导轨通过选择的安 装孔固定在横梁上。进一步，根据子卡的形状选择横梁和短导轨的安装孔，所述短导轨通过选择的安 装孔固定在横梁上。进一步，所述横梁上的相邻安装孔之间的距离为44. 45毫米。进一步，所述导轨上的相邻安装孔之间的距离为10毫米。与现有技术相比，本技术有益效果如下本技术提供了能够满足在单板测试阶段对单板底面信号进行采集测试的支 架，通过调节该支架的横梁和导轨的相对位置，可以满足各种不同大小的母卡及子卡的配 置形式，是一种通用化的单板测试支架。本技术的支架装配简单，操作方便，实现成本 低。附图说明图1是现有技术的一种单板配置形式示意图；图2是本技术实施例的一种单板测试支架的结构示意图；图3是本技术实施例的单板测试支架的结构分解示意图；图4是本技术实施例的单板测试支架配置一块子卡的示意图；图5是本技术实施例的单板测试支架配置两块子卡的示意图；图6是本技术实施例的一种利用单板测试支架测试单板背面信号的示意图。其中，11为母卡，12为子卡，13为面板，14为连接插座，1为横梁，2为长导轨，3为 短导轨，21为母卡，22为测试支架，23为子卡，24为子卡。具体实施方式以下结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下 实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。本技术实施例的一种单板测试支架的结构如图2所示，该支架的结构分解示 意图如图3所示。参照图2和图3，本实施例的单板测试支架包括横梁1、长导轨2和短导 轨3，长导轨2和短导轨3固定在横梁1上。长导轨用于固定单板的母卡，短导轨用于固定 单板的子卡。在导轨固定时，根据母卡的形状选择横梁和长导轨的安装孔，长导轨通过选择 的安装孔固定在横梁上；并根据子卡的形状选择横梁和短导轨的安装孔，短导轨通过选择 的安装孔固定在横梁上。横梁1上设置有间距为1U(1U = 44. 45mm)的安装孔，长导轨2和短导轨3上设置 有间距为IOmm的安装孔。通过调节长导轨2、短导轨3在横梁1上的安装位置，从而满足不 同高度单板的使用要求；通过调节横梁1在长导轨2、短导轨3上的安装位置，从而满足不 同深度单板的使用要求。通过横梁和导轨之间安装位置的调节，可以实现单板测试支架的 通用化。图4-图6显示了本技术的单板测试支架实际运用时的示意图。本技术实施例的单板测试支架配置一块子卡的示意图如图4所示，该单板测 试支架22包含了 3个横梁，2个长导轨和2个短导轨。一块母卡21安装在2个长导轨之 间；一块子卡23安装在2个短导轨之间，母卡21和子卡23通过单板上的信号插座进行连 接。可以通过调整长导轨和短导轨在横梁上的安装位置，满足配置不同大小的母卡21及子 卡23的使用要求。本技术实施例的单板测试支架配置两块子卡的示意图如图5所示，该单板测试支架22包含了 3个横梁，2个长导轨和4个短导轨。一块母卡21安装在2个长导轨之 间；2块子卡24分别安装在4个短导轨之间，母卡21和子卡24通过单板上的信号插座进 行连接。本技术实施例的一种利用单板测试支架测试单板背面信号的示意图如图6 所示，当需要测试单板背面信号时，可以将整个单板测试支架立起来，由于导轨和横梁均具 有一定的高度，从而提供了单板测试支架立起来的支撑面。当单板测试支架立起来之后，可 以方便的检测到单板背面的任何信号。本技术的单板测试支架能够满足在单板测试阶段对单板底面信号的采集测 试，通过调节该支架的横梁和导轨的相对位置，可以满足各种不同大小的母卡及子卡的配 置形式，是一种通用化的单板测试支架。本技术的支架具备可维护、方便测试现场进行快速更换的特点，其结构形式加工、装配简单，操作方便，实现成本低。本技术可有效的 提高研发效率，降低研发成本。 以上仅为测试支架装置在单板中的应用实例说明，该通用化的单板测试支架装 置，其运用可以延伸到其他需要具备类似功能的使用环境上。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技 术人员来说，在不脱离本技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改 进和润饰也应视为本技术的保护范围。权利要求一种单板测试支架，其特征在于，所述支架包括横梁和导轨，所述横梁和导轨上含有多个安装孔，所述导轨通过安装孔固定在横梁上。2.如权利要求1所述的单板测试支架，其特征在于，所述导轨包括长导轨和短导轨，所 述长导轨用于固定单板的母卡，所述短导轨用于固定单板的子卡。3.如权利要求2所述的单板测试支架，其特征在于，根据母卡的形状选择横梁和长导 轨的安装孔，所述长导轨通过选择的安装孔固定在横梁上。4.如权利要求2所述的单板测试支架，其特征在于，根据子卡的形状选择横梁和短导 轨的安装孔，所述短导轨通过选择的安装孔固定在横梁上。5.如权利要求1至4任一项所述的单板测试支架，其特征在于，所述横梁上的相邻安装 孔之间的距离为44. 45毫米。6.如权利要求1至4任一项所述的单板测试支架，其特征在于，所述导轨上的相邻安装 孔之间的距离为10毫米。专利摘要本技术公开了一种单板测试支架，所述支架包括横梁和导轨，所述横梁和导轨上含有多个安装孔，所述导轨通过安装孔固定在横梁上。本技术提供了能够满足在单板测试阶段对单板底面信号进行采集测试的支架，通过调节该支架的横梁和导轨的相对位置，可以满足各种不同大小的母卡及子卡的配置形式，是一种通用化的单板测试支架。本技术的支架装配简单，操作方便，实现成本低。文档编号G01R1/04GK201773115SQ20092035017公开日2011年3月23日 申请日期2009年12月28日 优先权日2009年12月28日专利技术者万钧, 江煜煌 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单板测试支架，其特征在于，所述支架包括横梁和导轨，所述横梁和导轨上含有多个安装孔，所述导轨通过安装孔固定在横梁上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：江煜煌，万钧，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]