自发光平面显示器及用于组装该自发光平面显示器之对位系统技术方案

本发明专利技术公开一种自发光平面显示器及用于组装该自发光平面显示器的对位系统。于本发明专利技术，自发光平面显示器包含须相互对位的第一基板与第二基板。于第一基板上设置由自发光元件实施的第一标记，并于第二基板对应位置设置第二标记。藉由对位第一标记与第二标记，即可达到对位第一基板与第二基板的目的。由于第一标记本身可发光，因此对位系统不需要利用外部光源，可省除使用外部光源造成的成本与校准问题，并提高对位准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术公开了一种自发光平面显示器之组装，更明确而言，特别是关于一种自发 光平面显示器组装对位系统以及利用此种系统进行对位的自发光平面显示器。
技术介绍
于诸如有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode ；OLED)显示器等平面显 示器的制程中，基板之间的对位是一种对于精确度要求很高的程序。以OLED显示器的制程 为例，目前现行的对位系统是与用于液晶显示器(Liquid Crystal Display ；IXD)的对位系 统相同。图1是显示一种现有技术用于组装之平面显示器的对位系统100之示意图。如图 所示，于对位系统100，是在一组装室110中进行OLED显示器120的第一基板122与第二基 板124之间的对位程序。通常该第一基板122为一玻璃基板，上面设置有OLED阵列131。 该第二基板124通常为一彩色滤光片。该第一基板122与第二基板124系迭合并以密封胶 126密封周缘间隙。于该OLED显示器120中，是在第一基板122相对于该第二基板124的表面(亦即 图中所示第一基板122之上表面)之特定位置设置一第一标记145，并在第二基板124相对 于该第一基板122的表面(亦即图中所示第二基板124之下表面)对应对置设置一第二标 记157。该第一标记145与该第二标记157通常是由不透光的材料制成，例如金属。第一标 记145可制作为例如十字形，而第二标记157则制作为具有矩形开口，该矩形开口之面积可 容纳第一标记145。藉由对位该第一标记145与该第二标记157，以达成对位第一基板122 与第二基板124的目的。于系统100中，必须设置一外部光源160。如图所示，该外部光源一般设置于该对 位系统100靠第二基板124那一侧，亦即图中所示之上方。该外部光源160发出光线透过 组装室110投射穿过第二基板124与第一基板122。为使光线可通过，该组装室110至少在 光线行进的路径必须为透光，例如可局部设置玻璃。在第一基板122这一侧之对应处则设 有一光学传感器170，如电荷耦合元件(Charge Coupled Device ；CCD)设备，上面设置有一 显微镜174，用以将外部光源投射而造成的影像摄入光学传感器170。由于该第一基板122 与该第二基板124均为透光，而该第一标记145与第二标记157为不透光而会遮挡住光线， 因此可轻易观察第一标记145与第二标记157的影像。该第一标记145与第二标记157之 间的对位可参见图2。图2是显示根据现有技术之标记对位之示意图。于图中，参考符号178表示光学 传感器170之影像窗口 178。于该影像窗口 178中，可观察到呈十字形的第一标记145完 整地出现在第二标记157的矩形开口 157a中，表示对位良好。如果第一标记145未能完整 出现在第二标记157的矩形开口 157a中，则表示对位不良，此时第一基板122与第二基板 124之相对位置需要加以调整。此种方式存有缺点。首先，先前技术的系统100必须使用外部光源160。由于光源 来自组装室110之外，光的路径会受到组装室110、第一基板122及第二基板124影响，而 使光学传感器170无法侦测正确的第一标记145及第二标记157之图形，进而影响第一标 记145与第二标记157之间对位的准确性。又，外部光源160与光学传感器170之间的角 度必须经常校准以维持对位的精确度。此外，对位的精确度会受到第一基板122与第二基 板124上设置的第一标记145与第二标记157之反射率影响。因此，于自发光平面显示器 的组装中，需要有更可靠且不需经常校准的对位方式。因此需要一种方法解决上述噪声影响感测信号的问题。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种组装时利于基板之间对位的自发光 平面显示器，并提供用于组装此种自发光平面显示器的对位系统。为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案一种自发光平面显示器包含一第一 基板；一自发光元件阵列，包括若干个第一自发光元件，并设置于该第一基板之一表面上； 一第一标记，包含一第二自发光元件，设置于第一基板之该表面的特定位置；一第二基板， 迭置于该第一基板；以及一第二标记，提供于第二基板对应该第一基板之该表面之一表面 上，该第二标记系设置于该第二基板之该表面对应于该第一标记之位置，该第二标记具有 一开口，该开口之面积与形状可容纳该第一标记。为实现上述目的，本专利技术还采用如下技术方案一种自发光平面显示器之对位系 统包含一组装室，用于组装并对位该自发光平面显示器之第一基板与第二基板；一光学传 感器，设置于该组装室外位于靠近该自发光平面显示器之第二基板那一侧，用于感测该自 发光平面显示器设置的第一标记所发出的光，该第一标记所发出的光系透过该自发光平面 显示器设置的第二标记之开口而由该光学传感器感测，该光学传感器并将感测到的光转换 为信号；以及一处理器，用于接收该光学传感器所传递的信号，根据该信号来判断该自发光 平面显示器的第一基板与第二基板的对位状况。与现有技术相比，由于本专利技术的第一标记是以自发光元件实施，与第一基板上所 设置的自发光元件阵列可同时以相同程序制成于该第一基板上，不需独立制作第一标记的 额外程序。此外，由于第一标记本身可发光，因此对位系统不需要利用外部光源，可省除使 用外部光源造成的成本与校准问题，并提高对位准确度。以下结合附图与实施例对本专利技术做进一步的说明。附图说明图1是显示一种现有技术用于组装之平面显示器的对位系统之示意图。图2是显示根据现有技术之标记对位之示意图。图3是显示根据本专利技术实施例之平面显示器组装对 位系统之示意图。图4A与图4B是分别显示根据图3所示本专利技术实施例之系统其标记对位的对位良 好与对位不良情况。图5是显示根据本专利技术之第一标记与第二标记之一种不同于上述实施例之型态 的示意图。图6是显示根据本专利技术之第一标记与第二标记之另一种型态的示意图。 图7是显示根据本专利技术之第一标记与第二标记之又一种型态的示意图。图8是显示根据本专利技术之平面显示器组装对位系统不同对位偏移误差的光强度 图表。图9是显示根据本专利技术之平面显示器组装对位系统不同对位偏移误差的亮度图表。图10是显示一电子装置，其包含根据本专利技术之自发光平面显示器。 具体实施例方式有关本专利技术的详细说明及
技术实现思路
，现就结合附图说明如下。以下实施例的说明 是参考附加的图示，用于例示本专利技术可用于实施的特定实施例。图3是显示根据本专利技术实施例之平面显示器组装对位系统300之示意图。根据本 实施例，组装对位系统300包括一组装室310，在组装室310中进行组装平面显示器320的 程序。于组装室310中所组装的平面显示器320为一自发光平面显示器，例如为OLED显示 器，或是其它类型的自发光平面显示器，像是电浆显示面板(Plasma Display Panel ；PDP) 或是表面传导电子发射式显示器(Surface-Conduction Electron Emitter Display ；SED) 等等。以下是以OLED显示器为例说明。进行组装的OLED显示器320具有第一基板322，该第一基板322可为玻璃基板、塑 料基板、硅晶圆基板、薄膜晶体管(Thin Film Tr本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自发光平面显示器，其特征在于：包含：一第一基板；一自发光元件阵列，包括若干个第一自发光元件，是设置于该第一基板之一表面上；一第一标记，包含一第二自发光元件，设置于该第一基板之该表面上；一第二基板，迭置于该第一基板上；以及一第二标记，提供于第二基板相对于该第一基板之该表面之一表面上对应于该第一标记之位置，该第二标记具有一开口，该开口之面积与形状能容纳该第一标记。

【技术特征摘要】
1.一种自发光平面显示器，其特征在于包含一第一基板；一自发光元件阵列，包括若干个第一自发光元件，是设置于该第一基板之一表面上；一第一标记，包含一第二自发光元件，设置于该第一基板之该表面上；一第二基板，迭置于该第一基板上；以及一第二标记，提供于第二基板相对于该第一基板之该表面之一表面上对应于该第一标 记之位置，该第二标记具有一开口，该开口之面积与形状能容纳该第一标记。2.如权利要求1所述的自发光平面显示器，其特征在于该第一标记是与该自发光元 件阵列彼此分开。3.如权利要求1所述的自发光平面显示器，其特征在于该第一标记之第二自发光元 件是独立被驱动与控制。4.如权利要求1所述的自发光平面显示器，其特征在于该第一标记之第二自发光元 件是与该自发光元件阵列之各个第一自发光元件为相同类型的自发光元件。5.如权利要求1所述的自发光平面显示器，其特征在于该自发光平面显示器为选自 有机发光二极管显示器、电浆显示面板以及表面传导电子发射式显示器所组成的群组中的 一种。6.如权利要求1所述的自发光平面显示器，其特征在于该第二标记是由不透光的材 料制成。7.如权利要求6所述的自发光平面显示器，其特征在于该第二标记是由金属或黑色 屏蔽制成。8.如权利要求6所述的自发光平面显示器，其特征在于该第二基板为玻璃基板，该第 二标记是藉由喷沙使该第二基板局部区域的透光度降低变成喷沙玻璃来形成该第二标记， 且该第二标记之开口处是保留而不加以喷沙处理。9.如权利要求1所述的自发光平面显示器，其特征在于该第二标记之开口的面积不 小于该第一标记之面积。10.如权利要求1所述的自发光平面显示器，其特征在于该第二标记之开口的形状与 该第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏伯昆，西川龙司，
申请(专利权)人：统宝光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]