一种X射线荧光光谱分析装置制造方法及图纸

技术编号:5185398 阅读:182 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种X射线荧光光谱分析装置,包括机板、固定在机板一面的发射源装置、接收探测装置和成像装置所述机板的另一面设有可移动的载物台和驱动动力源,机板上设有通孔,发射源装置的发射端和接收探测装置接收端通过通孔发射和接收,该载物台中间区域设有通孔,载物台与机板之间设有载物台移动导向机构,通孔与通孔对通;本实用新型专利技术可以对被分析物的一个面的一部分进行检测分析,从而提高分析仪的测试精度。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种X射线荧光光谱分析仪,属于测量设备领域。
技术介绍
现有的X射线荧光光谱分析仪设有发射源、接收探测装置和成像装置,但都是采 用单点发射和接收方式,也就是发射源(X射线枪)的焦点固定地打在被测物体表面上的一 点产生荧光,然后由接收探测装置接收和成像装置成像。这种方式只能检测被测物体的一 点,所以这种方式受被测物体的原材料材质均勻程度和其它杂质的影响很大。
技术实现思路
本技术的目的就是提供一种可以进行被测物体一个面检测的X射线荧光光 谱分析装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种X射线荧光光谱分析装 置,包括机板、固定在机板一面的发射源装置、接收探测装置和成像装置所述机板的另一面 设有可移动的载物台和驱动动力源,机板上设有通孔,发射源装置的发射端和接收探测装 置接收端通过通孔发射和接收,该载物台中间区域设有通孔,载物台与机板之间设有载物 台移动导向机构,通孔与通孔对通。进一步,所述导向机构包括滑轨和滑轨支架,滑轨支架设有滑槽,滑槽与滑轨动配I=I O其中,所述滑轨和滑轨支架包括X轴的滑轨、滑轨支架和Y轴的滑轨、滑轨支架,X 轴滑轨支架安装在载物台上,X轴滑轨安装在Y轴滑轨支架上,Y轴滑轨安装在机板上,X轴 驱动连接轴通过转接器与X轴滑轨支架连接,Y轴驱动连接轴通过转接器与Y轴滑轨连接。其中,所述滑轨和滑轨支架包括X轴的滑轨、滑轨支架和Y轴的滑轨、滑轨支架,X 轴滑轨安装在载物台上,X轴滑轨支架安装在Y轴滑轨上,Y轴滑轨支架安装在机板上,X轴 驱动连接轴通过转接器与载物台连接,Y轴驱动连接轴通过转接器与Y轴滑轨支架连接。本技术的有益效果是可以对被分析物的一个面的一部分进行检测分析,从 而提高分析仪的测试精度。附图说明图1是本技术的结构示意图;图2是本技术的分解示意图。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步详细说明。参照图1、图2所示,一种X射线荧光光谱分析装置,包括机板1、固定在机板一面 的发射源装置3、接收探测装置4和成像装置5,所述机板1的另一面设有可移动的载物台2和驱动动力源,机板1上设有通孔11,发射源装置3的发射端和接收探测装置4接收端通 过通孔11发射和接收,该载物台2中间区域设有通孔21,载物台2与机板1之间设有载物 台移动导向机构6。通孔21与通孔11对通,发射源装置3的发射端发射的射线通过通孔 11射在放置在通孔21上的被测物体的表面产生荧光,接收探测装置4接收端通过通孔11 探测并接收信号。导向机构6可以采用多种方式来实现载物平台在一个平面上任意移动。采用滑轨 是方法之一,所述导向机构6包括滑轨61和滑轨支架62,滑轨支架62设有滑槽621,滑槽 621与滑轨61动配合。通过滑槽621,滑轨支架62与滑轨61可相对移动。所述导向机构也可以为其他形式,如在机板1上设置一块滑板,滑板与机板之间 可相对滑动,设一驱动装置驱动滑板作X轴方向移动,载物台2安装在滑板上,载物台2与 滑板之间可相对移动,设一驱动装置驱动载物台2作Y轴方向移动。所述滑轨61和滑轨支架62包括X轴的滑轨6Γ、滑轨支架62'和Y轴的滑轨 61〃、滑轨支架62,X轴滑轨支架62'安装在载物台2上,X轴滑轨61'安装在Y轴滑轨 支架62上,Y轴滑轨61安装在机板1上,X轴驱动连接轴7通过转接器与X轴滑轨支架 62'连接,Y轴驱动连接轴7通过转接器与Y轴滑轨61 “连接。导向机构6的滑轨形式也可以采用其他方式,所述滑轨61和滑轨支架62包括X 轴的滑轨61'、滑轨支架62'和Y轴的滑轨61、滑轨支架62,X轴滑轨61'安装在载 物台上,X轴滑轨支架62'安装在Y轴滑轨61上,Y轴滑轨支架62安装在机板1上,X 轴驱动连接轴7通过转接器与载物台1连接,Y轴驱动连接轴7通过转接器与Y轴滑轨支 架62〃连接。设射线焦点大小为δ,Y轴步进次数为N,X轴的行程为L,这样测试物体的面积S 为S = δ XNXL,这样我们可以根据实际情况设定相关变量的数值得到不同的测试面积。所述驱动连接轴7的前端设有螺杆,在螺杆上装配有连接轴滑块,连接轴滑块与 导轨支架62连接。本实施例中,Χ/Υ轴驱动连接轴的前端是有精密螺纹的螺杆,在螺杆上 装配有连接轴滑块,连接轴滑块通过螺钉和导轨支架连接。驱动连接轴转动通过前端的螺 杆带动连接轴滑块前后移动,连接轴滑块使导轨支架前后移动,Χ/Υ轴分别驱动,这样就实 现了 Χ/Υ轴方向的运动。所述动力源为伺服电机。本实施例中采用伺服电机,也可以采用其他的动力源,如 液压杆、步进电机等等。工作时,载物台中间圆孔处摆放被测物。载物台Χ、Υ轴均采用伺服电机控制,在测 试的过程中载物台可以带动被测物沿轴方向前后移动。Y轴做步进运动,每步的行程约等于 射线的焦点大小,X轴做勻速直线运动。这样通过设定Y轴的步进次数和X轴的行程就可 以完成在被测物体的一个面上的一部分激发荧光和探测接收。这样可以根据实际情况设定 相关变量的数值得到不同的测试面积。上述实施例仅例示性说明本技术的原理及其功效,以及部分运用的实施例, 对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本技术创造构思的前提下,还可以做出若 干变形和改进,这些都属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线荧光光谱分析装置,包括机板(1)、固定在机板一面的发射源装置(3)、接收探测装置(4)和成像装置(5),其特征在于:所述机板(1)的另一面设有可移动的载物台(2)和驱动动力源,机板(1)上设有通孔(11),发射源装置(3)的发射端和接收探测装置(4)接收端通过通孔(11)发射和接收,该载物台(2)中间区域设有通孔(21),载物台(2)与机板(1)之间设有载物台移动导向机构(6),通孔(21)与通孔(11)对通。

【技术特征摘要】
一种X射线荧光光谱分析装置,包括机板(1)、固定在机板一面的发射源装置(3)、接收探测装置(4)和成像装置(5),其特征在于所述机板(1)的另一面设有可移动的载物台(2)和驱动动力源,机板(1)上设有通孔(11),发射源装置(3)的发射端和接收探测装置(4)接收端通过通孔(11)发射和接收,该载物台(2)中间区域设有通孔(21),载物台(2)与机板(1)之间设有载物台移动导向机构(6),通孔(21)与通孔(11)对通。2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述导向机构 (6)包括滑轨(61)和滑轨支架(62),滑轨支架(62)设有滑槽(621),滑槽(621)与滑轨 (61)动配合。3.根据权利要求2所述的一种X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述滑轨(61) 和滑轨支架(62)包括X轴的滑轨(61')、滑轨支架(62')和Y轴的滑轨(61)、滑轨支 架(62〃),X轴滑轨支架(62')安装在载物台(2)上,X轴滑轨(61')安装在Y轴滑...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁志宏
申请(专利权)人:东莞市鑫海金属制品有限公司
类型:实用新型
国别省市:44[中国|广东]

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