光碟机测试方法技术

一种光碟机测试方法，归零计数及设定测试成功次数上限，以预定功率的雷射光束，进行虚拟烧录；检测输出功率；检查输出功率对预定功率的变化，产生变化判断光碟机测试失败，未产生变化，在完成虚拟烧录将测试成功次数加一，在测试次数达上限，判断通过光碟机测试，以节省测试时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光碟机的测试方法，尤其是涉及光碟机利用对光盘烧录次数，检 查光碟机使用寿命的测试方法。
技术介绍
为了确保光碟机出厂的品质及稳定度，出厂前光碟机必需经过测试，将数据重复 多次实际烧录在光盘上，并经由检查烧录后的结果，判断光碟机性能是否正常，以测试光碟 机耐久性的使用寿命。如图1所示，台湾第095146141号专利申请案所公开的先前技术，为一光碟机测试 功能方块图，是对可重复读写的光碟机1进行测试。其测试过程首先针对CD、DVD或是BD 等可覆写的光盘2，设定光碟机测试光盘1模式。利用微处理器3归零计数器4并设定测试 成功次数上限。由微处理器3移动光学读取头5至光盘2内圈的起始点，并控制聚焦伺服 单元6将雷射驱动单元7驱动光学读取头5发射烧录功率的雷射光束，聚焦在光盘2的数 据层8。再由微处理器3控制循轨伺服单元9移动光学读取头5，沿着光盘2的数据轨，由 内圈至外圈开始烧录数据。烧录完成后，由微处理器3控制光学读取头5，重头沿着光盘2 的数据轨读取烧录至光盘的数据记号，解码成数据信号。接着，由读取数据与原烧录数据比对，判断是否成功将数据烧录至光盘？若未成 功将数据烧录至光盘，光碟机未通过使用寿命检验，判定为测试失败，并结束测试；若成功 将数据烧录至光盘上，则由微处理器3控制计数器4将测试成功次数加一。然后检查测试成 功次数是否达到上限？若未达到上限，则由微处理器3控制雷射驱动单元7驱动光学读取 头5发射擦除功率的雷射光束擦除烧录至光盘上的数据，回至光盘2内圈的起始点重新测 试；若已达到测试成功次数的上限，则判定光碟机1通过使用寿命检验测试，并结束测试。然而，先前技术利用可覆写的光盘进行光碟机的测试，虽可以节省光盘的消耗，但 先前技术在每次测试过程皆需聚焦在光盘2的数据层8，进行烧录、读取数据、判断烧录成 功以及擦除光盘数据等程序，在光碟机的测试过程中，耗费大量的测试时间，使得测试效率 变低，增长光碟机制造时间，且先前技术仅能对可烧录的光碟机进行测试，无法适用测试其 他光碟机。因此先前技术光碟机在测试的方法上，仍有问题亟待解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，通过检测光学读取头的雷射光束输 出功率的变化，直接判断光碟机是否正常通过测试，简化测试程序，以节省测试时间。本专利技术另一目的在于提供一种，利用光学读取头的雷射光束聚焦 偏移离光盘数据层或标签面，避免烧录光盘，以节省光盘的损耗。本专利技术再一目的在于提供一种，通过虚拟烧录光盘，而可测试各 种光碟机，以增加测试的适用范围。为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的，归零测试成功次数计数及设定测试成功次数上限；以预定功率的雷射光束，聚焦偏移离光盘数据层或标签面进行虚 拟烧录；检测输出功率；检查输出功率的变化，产生变化判断光碟机测试失败，未产生变 化，完成虚拟烧录将测试成功次数加一，测试次数达上限，判断通过光碟机测试。附图说明图1为先前技术光碟机测试的功能方块图。图2为本专利技术测试光碟机的功能方块图。图3为本专利技术测试的预定聚焦电平的示意图。图4为本专利技术的流程图。主要元件符号说明10光碟机11微处理器12雷射驱动单元13光学读取头14聚焦伺服单元15循轨伺服单元16功率检测单元17计数器18光盘19数据层20上偏移聚焦电平20’下偏移聚焦电平具体实施例方式有关本专利技术为达成上述目的，所采用的技术手段及其效果，现在举优选实施例，并 配合附图加以说明如下。请参考图2，为本专利技术测试的光碟机10。光碟机10主要包含微处理器11、雷射驱 动单元12、光学读取头13、聚焦伺服单元14、循轨伺服单元15、功率检测单元16及计数器 17等。在测试过程中，光碟机10的微处理器11控制雷射驱动单元12发出驱动控制信号， 使光学读取头13依据驱动控制信号输出预定功率的雷射光束。微处理器11再控制聚焦伺 服单元14，驱动光学读取头13将雷射光束聚焦，照射在光盘18的数据层19附近的预定聚 焦电平。微处理器11还控制循轨伺服单元15，驱动光学读取头13沿着光盘18径向移动， 进行测试。由于本专利技术测试中雷射光束未聚焦在光盘18的数据层19，数据并未烧录至光盘 18，仅进行虚拟烧录。测试中经由功率检测单元16检测光学读取头13雷射光束实际的输 出功率，传回微处理器11。微处理器11根据功率检测单元16所传回的雷射光束实际的输 出功率，与雷射驱动单元12输出雷射光束的预定功率进行比较，以判断雷射光束输出功率 是否产生变化。对于完成虚拟烧录测试，则由微处理器11控制计数器17累计虚拟烧录测 试的次数。由于光盘18上的数据记号，烧录后是否可正确读取，取决于雷射驱动单元12驱动光学读取头13所发出的雷射光束，是否维持在一定强度的功率。一定强度功率的雷射光 束，才能在高速转动的光盘18数据轨上，形成清晰稳定的数据记号。反之，雷射光束的输出 功率一衰减，将造成数据记号模糊，而无法正确读取。因此，本专利技术直接利用检测虚拟烧录 测试中，光学读取头13雷射光束实际的输出功率变化，作为判断光碟机是否通过测试的依 据。因而可免除读取数据、判断烧录成功及擦除数据等烦琐的程序，达到简化测试过程及节 省测试时间。此外，为避免检测输出功率的误差，影响判断的正确性，本专利技术也可利用输出 功率与预定功率的变化差值超出预定的门槛值，作为产生变化的根据。如图3所示，为本专利技术测试中的预定聚焦电平。由于本专利技术利用检测雷射光束实 际输出的功率变化，作为判断光碟机通过测试的依据，并未以正确读取烧录后数据进行判 断。因此在本专利技术中，可将光学读取头13投射的雷射光束聚焦在预定聚焦 电平上，预定聚焦电平可向上或向下偏移离光盘18的数据层19，形成上偏移聚焦电平20或 下偏移聚焦电平20’，进行虚拟烧录测试。在测试过程中，光盘的数据层19就不会因为光学 读取头13所发出预定功率的雷射光束，而被烧录数据记号，使得光盘18在测试时保持原有 状态，不受虚拟烧录的影响，而能重复使用，达到节省光盘损耗的目的。再者，本专利技术测试光 碟机，在虚拟烧录时仅持续发射及检测预定功率的雷射光束，并未实际烧录数据在光盘数 据层。对于非烧录型的光碟机，本专利技术的测试方法，也可适用。尤其对于可在标签面绘制标 签图案的光雕机，本专利技术的测试方法可以绘制标签的雷射光束功率，将聚焦偏移离标签面， 进行虚拟绘制标签的测试，也可达到本专利技术节省测试时间及光盘损耗的目的。请参考图4，为本专利技术的流程图。本专利技术利用虚拟烧录测试光碟机 的详细步骤说明如下首先进入步骤Si，开始进行光碟机测试，将光盘置入光碟机中。在步 骤S2，归零计数器并设定测试成功次数的上限进入步骤S3移动光学读取头至起始烧录位 置，并以上偏移聚焦电平或下偏移聚焦电平，以预定功率的雷射光束偏移焦点虚拟烧录光ο接着再进入步骤S4检测光学读取头雷射光束实际的输出功率。进入步骤S5根 据雷射光束预定功率，检查检测光学读取头实际输出的雷射光功率相对预定功率是否有改 变？若光学读取头输出的雷射光功率产生变化，代表光学读取头无法正常烧录光盘，则进 入步骤S6，判断光碟机测试失败，然后进入步骤Sll结束光碟机测试；若光学读取头输出的 雷射光功率未产生变化，则进入步骤S7继续虚拟烧录测试，并检查是否完成虚拟烧录？若 未完成，则回至步本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光碟机测试方法，其步骤包含：（１）归零测试成功次数计数及设定测试成功次数上限；（２）雷射光束以预定功率，进行虚拟烧录光盘；（３）检测雷射光束的输出功率；（４）检查雷射光束输出功率对预定功率是否有变化？若产生变化，则判断光碟机测试失败，然后进入步骤（７），如果未产生变化，则进入步骤（５）；（５）检查是否完成虚拟烧录？若未完成，则进入步骤（３），如果完成则将测试成功次数加一，并进入步骤（６）；（６）检查测试次数是否已达上限？若未达到上限则回至步骤（２），如果达到上限则判断通过光碟机测试再进入步骤（７）；及（７）结束测试。

【技术特征摘要】
1.一种光碟机测试方法，其步骤包含(1)归零测试成功次数计数及设定测试成功次数上限；(2)雷射光束以预定功率，进行虚拟烧录光盘；(3)检测雷射光束的输出功率；(4)检查雷射光束输出功率对预定功率是否有变化？若产生变化，则判断光碟机测试 失败，然后进入步骤(7)，如果未产生变化，则进入步骤(5)；(5)检查是否完成虚拟烧录？若未完成，则进入步骤(3)，如果完成则将测试成功次数 加一，并进入步骤(6)；(6)检查测试次数是否已达上限？若未达到上限则回至步骤0)，如果达到上限则判 断通过光碟机测试再进入步骤(7)；及(7)结束测试。2.如权利要求1所述的光碟机测试方法，其中该虚拟烧录是将雷射光束聚焦在预定聚 焦电平。3.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊文，郭起祥，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]