光雕片信号偏移校正方法技术

一种光雕片信号偏移校正方法，利用内环幅丝（ｓｐｏｋｅ）信号计数，至预定记号部读取外环信息图案，测量信息图案信号偏移量。检查已经过预定个的内环幅丝信号，未达到则续测量信号偏移量，达到则计算平均信号偏移量。利用平均信号偏移量，在光雕片径向校正或解码校正时，校正外环信息图案的信号偏移。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关一种光碟机，尤其是关于光碟机对光雕片标签面的操作特征区中，内 外环信号偏移的校正方法。
技术介绍
一般的光盘有两面，一面为数据面，一面为标签面，已知制作标签的方法为利用笔 或标签贴纸在标签面上做记号以为识别。近来发展出光雕(Light Scribe)标签的技术，利 用光碟机的光学读取头(Pick-up Head)发射一雷射光，将使用者所需的图形文字刻划在光 雕片的标签面上，制作美观且个人化的光盘。如图1 (a)及(b)所示，为先前技术光碟机读取光雕片操作特征区信号的示意图。 图1(a)中光雕片10的操作特征区(Control Feature hne) 11包含了外环(Outer Ring) 12 以及设置有400个幅丝(Spoke)的内环(Inner Ring) 13，前述幅丝以等角度的方式平均分 布在操作特征区11内环13。光检测器(Optical Encoder) 14固定于光碟机15中，发出光 束照射于内环13用以产生一如图1 (b)所示的幅丝信号，并提供光学读取头16在标签面17 进行描绘时相对位置的角度定位。外环12则提供了光雕片10的相关信息图案，例如媒体 ID (Media ID Field)、锯齿型(sawtooth)以及索引标记(index mark)等记号部，由光学 读取头16读取外环12信息图案形成如图1 (b)所示的信息图案信号。由于光雕片10的规格将起始幅丝的位置设定接续在外环12的索引标记终点。当 光雕片10置入光碟机15进行标签面17的描绘时，光碟机15必须同时利用内环13与外环 12 二个部分的图案来找出起始幅丝的位置。当起始幅丝的位置确定之后，光碟机15只要持 续计数经过内环13幅丝信号的数目即可得知光雕片10的旋转角度，及光学读取头16正读 取何种外环12信息图案信号。然而，光检测器14与光学读取头16为二个分离的元件，各元件电气处理信号的快 慢不同有所延迟或超前。因此，如图1(b)所示，产生的外环信息图案信号及内环幅丝信号 不可能同步，存在偏移d。此外，工厂制造光雕片的误差及品质，也使得外环信息图案不能全 然与规格所定的内环幅丝一一对齐，或盘片出现翘曲或不平整，亦会造成内环幅丝信号与 外环信息图案信号的偏移更加明显，导致读取的外环信息图案信号无法顺利解码，或让光 学读取头无法精确达到径向校正，进而影响后续的标签绘制正确性。因此，光碟机在读取内 外环信号偏移的校正上，仍有问题亟待解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光雕片信号偏移的校正方法，通过分别测量一记号部 中，各信息图案与内环幅丝的信号偏移量，利用平均信号偏移量，以校正内外环信号的偏 移。本专利技术另一目的在于提供一种光雕片信号偏移的校正方法，通过多记号部中各信 息图案与内环幅丝的平均信号偏移量，以减少整体的信号偏移。为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的光雕片信号偏移的校正方法，利用内环幅丝 信号计数，至预定记号部读取外环信息图案；测量信号偏移量；检查已经过预定个的内环 幅丝信号，未达到则继续测量信号偏移量，达到则计算平均信号偏移量；利用平均信号偏移 量，在光雕片径向校正或解码校正时校正外环信息图案的信号偏移。本专利技术计算平均信号偏移量的预定记号部，可为锯齿型记号部及媒体ID记号部， 或单一的媒体ID记号部或锯齿型记号部第一部或第二部。而测量信号偏移量的方法，是归 零计时；当产生外环信息图案信号时开始计时；当产生内环幅丝信号时停止计时；计算信 号偏移量则为利用开始计时及停止计时时间差，测量一个内环幅丝信号的单位时间，比较 时间差小于1/2单位时间，该时间差即为超前信号偏移量，如否，则以单位时间减去该时间 差作为延迟信号偏移量。附图说明图l(a)-(b)为先前技术光碟机读取光雕片操作特征区信号的示意图。图2为光雕片操作特征区的局部放大的示意图。图3为本专利技术读取锯齿型信息图案延迟信号的示意图。图4为本专利技术读取锯齿型信息图案超前信号的示意图。图5为本专利技术记号部信息图案与幅丝的信号偏移量的示意图。图6(a)_(b)为本专利技术测量信息图案信号偏移量的示意图。图7为本专利技术的流程图。主要元件符号说明20操作特征区21夕卜环22 内环23信息图案24 幅丝25读取头光束26内环幅丝信号具体实施例方式有关本专利技术为达成上述目的，所采用的技术手段及其效果，现在举优选实施例，并 配合附图加以说明如下。请参考图2，为光雕片操作特征区的局部放大。操作特征区20包含外环21与内 环22，外环21具有光雕片的多个记号部的信息图案23，内环22则为并排的幅丝24。光雕 片规格设定每一外环21的信息图案23起头，各自对齐第特定根的幅丝24，并含盖特定数根 幅丝对，作为信号判读区。以锯齿型记号部为例，锯齿型记号部相隔分为第一部及第二部， 每一部包含8个锯齿图案，第一部锯齿图案自第64根幅丝M起，每一锯齿图案含盖8根幅 丝24，而第二部锯齿图案则自第264根幅丝M起，每一锯齿图案含盖8根幅丝M。因此， 随着工厂制造误差及品质，造成外环21信息图案23与内环22的幅丝M无法对齐产生偏 移量D，将影响信号判读区的精确性。如图3所示，为读取一锯齿型信息图案23的延迟信号。读取锯齿型信息图案23的 信号时，光雕片以转动方向R旋转，读取头光束25投射在线L上。当内环幅丝的信号沈，计 数至特定第64+Sn或沈4+811根幅丝信号出现时，读取头光束25即触及锯齿型信息图案23， 出现读取的高信号(Level High)，直到离开锯齿型信息图案23为止，并利用光碟机的单位 脉冲计时其高信号长度X。读取头光束25 —离开锯齿型信息图案23，就出现读取的低信号 (Level Low)，并于含盖的8根幅丝信号终止，结束读取信号，并利用光碟机的单位脉冲计时 其低信号长度1。由高信号长度χ与低信号长度y的比值，即可计算出读取头光束25径向 移动位置h，作为读取头径向移动校正的依据。然而，信息图案23与幅丝无法对齐产生的偏 移量D，延迟出现的信息图案23信号，将在8根幅丝信号终止，结束读取低信号，使未完的低 信号被截断，而减少低信号的长度y，造成高信号长度χ与低信号长度ι的比值的错误，影响 径向校正精确度。如图4所示，为读取一锯齿型信息图案23的超前信号。在信息图案23与幅丝无 法对齐产生的超前偏移量D，超前出现的信息图案23信号，在信息图案23经过后，仍未到达 8根幅丝信号终点，继续读取低信号，而增加低信号的长度y，造成高信号长度χ与低信号长 度y的比值的错误。同样造成读取高信号长度χ与低信号长度y的变动，高信号长度χ与 低信号长度y的比值一改变，径向移动位置h就会跟着改变，而无法精确径向校正。此外，如图5所示，为记号部中每一信息图案与幅丝的信号偏移量。记号部每一信 息图案与其相对应幅丝不对齐的信号偏移量D各有不同，校正的信息图案一改变，精确性 也会改变，将导致前后绘制的标签无法对正。因此，本专利技术针对锯齿型记号部的第一部或第 二部或两部，测量其中每一信息图案与幅丝的信号偏移量D1、D2、D3. . . Dn，计算平均信号偏 移量DA = (D1+D2+D3+. . . +Dn)/n，作为校正每一信息图案与幅丝的信号偏移量，让高信号 长度χ与低信号长度y维持本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光雕片信号偏移校正方法，其步骤包含：（１）利用内环幅丝信号计数，至预定记号部读取外环信息图案；（２）测量信号偏移量；（３）检查是否已经过预定个的内环幅丝信号？若未达到则回到步骤（２），如果达到则进入步骤（４）；（４）计算平均信号偏移量；及（５）利用平均信号偏移量校正外环信息图案的信号偏移。

【技术特征摘要】
1.一种光雕片信号偏移校正方法，其步骤包含(1)利用内环幅丝信号计数，至预定记号部读取外环信息图案；(2)测量信号偏移量；(3)检查是否已经过预定个的内环幅丝信号？若未达到则回到步骤0)，如果达到则 进入步骤⑷；(4)计算平均信号偏移量；及(5)利用平均信号偏移量校正外环信息图案的信号偏移。2.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为锯齿型记号部。3.如权利要求2所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为锯齿型记号部第一部或第二部。4.如权利要求3所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该锯齿型记号部的每一部包含 预定8个锯齿信息图案，作为计算平均信号偏移量。5.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为媒体ID记号部。6.如权利要求1所述的光雕片信号偏移校正方法，其中该预定记号部为锯齿型记号部 及媒体ID记号部。7.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊文，蔡家怡，郭起祥，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]