一种动态配置上行导频信道的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种配置上行导频信道的方法及装置，其中方法包括：测量所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果；将所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果与上行导频信道干扰门限进行比较；当所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果小于或等于所述上行导频信道干扰门限时，将所述上行导频时隙作为上行导频信道的承载位置；当所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果大于所述上行导频信道干扰门限时，基于所述上行导频信道干扰结果与所述上行导频信道干扰门限和上行导频信道覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频信道的承载位置，通过本发明专利技术，能有效避免邻区ＤｗＰＴＳ对本小区ＵｐＰＣＨ造成的干扰，保证小区内用户随机接入成功率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及时分同步码分多址(Time Division SynchronizationCDMA, TD-SCDMA)蜂窝移动通讯系统中，一种动态配置上行导频信道的方法及装置。
技术介绍
在TD-SCDMA系统的时隙结构中，上行导频时隙(UpPTS)是三个特殊时隙之 一，其位于下行导频时隙(DwPTS)和保护间隔时隙(GP)之后，长度有160chips。UpPTS 上承载上行导频信道UpPCH。随机接入时，UE用UpPCH来发送上行导频码(SYNC_ UL码)，用于建立上行同步。由于UpPTS位于DwPTS之后，这样基站在接收UE发射的上行导频信号SYNC_ UL时，会收到本基站发射的和其它基站发射的经过一段时间传播过来的下行导频信号， 这些信号会对SYNCJJL的检测造成干扰，如果干扰较高，就会导致用户接入困难。为避免系统的下行导频信号对移动终端上行同步的干扰，3GPP从Release 7版本 开始支持UpPCH Shifting技术，即UpPCH的承载位置从UpPTS时隙扩展到了常规时隙， 当UpPTS受到较大干扰而无法承载UpPCH时，可将UpPCH配置在干扰较小的上行常规 时隙(TS1、TS2等)上。现有的策略，是在UpPTS和常规时隙中，选择一个最靠近TSO且其UpPCH干扰值小于一定门限的位置，作为新的UpPCH配置位置。这样，保证UpPCH调整到常规时 隙后，尽量减少对系统资源的占用。但是，这里用来判断UpPCH承载位置的干扰门限一 般都大于链路规划时保证UpPCH覆盖的底噪门限，因此根据此方法找到的新位置并不能 够保证UpPCH的覆盖。目前，NodeB可以通过干扰消除等方法可以对同时对同时隙的UpPCH和业务数 据进行检测和解调，解决了 UpPCH和业务共时隙的问题，降低了 UpPCH调整到上行常 规时隙后对系统容量的影响。这样，所有的上行常规时隙都可以接入业务。由此，在利 用该位置受到的干扰是否小于一定门限来判断该位置是否适合承载UpPCH的同时，可以 优先将UpPCH承载在最能保证UpPCH覆盖的位置上，而不必限定所选的UpPCH承载位 置要最靠近TS0。
技术实现思路
本专利技术提供一种上行导频信道UpPCH位置动态调整的方法，在UpPTS时隙的 UpPCH干扰过大而不适合承载UpPCH时，将UpPCH调整到一个干扰较小且最能保证 UpPCH覆盖的位置。本专利技术提出了一种配置上行导频信道的方法，包括以下步骤测量上行导频时 隙的上行导频信道干扰结果；将上行导频时隙的上行导频信道干扰结果与上行导频信道 干扰门限进行比较；当上行导频时隙的上行导频信道干扰结果小于或等于上行导频信道 干扰门限时，将上行导频时隙作为上行导频信道的承载位置；当上行导频时隙的上行导频信道干扰结果大于上行导 频信道干扰门限时，基于上行导频信道干扰结果与上行导频 信道干扰门限和上行导频信道覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频信道的承载 位置。其中，在基于上行导频信道干扰结果与上行导频信道干扰门限和上行导频信道 覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频信道的承载位置的步骤中，具体包括以下 步骤在常规时隙的可测位置测量上行导频信道干扰结果；将常规时隙的上行导频信道 干扰结果与上行导频信道覆盖门限进行比较；当常规时隙的上行导频信道干扰结果小于 或等于上行导频信道覆盖门限时，选择测量常规时隙的上行导频信道干扰结果的位置作 为上行导频信道的承载位置；当常规时隙的上行导频信道干扰结果大于上行导频信道覆 盖门限时，根据上行导频信道干扰门限来选择上行导频信道的承载位置。其中，在当常规时隙的上行导频信道干扰结果大于上行导频信道覆盖门限时， 根据上行导频信道干扰门限来选择上行导频信道的承载位置的步骤中，具体包括将常 规时隙的上行导频信道干扰结果进行比较；选择常规时隙的最小上行导频信道干扰结果 与上行导频信道干扰门限进行比较；当所选择的常规时隙的最小上行导频信道干扰结果 小于所述干扰门限时，选择测量常规时隙的最小上行导频信道干扰结果的位置作为上行 导频信道的承载位置。其中，在将常规时隙的上行导频信道干扰结果与上行导频信道覆盖门限进行比 较的步骤中，一旦找到干扰结果小于或等于所述上行导频信道覆盖门限的位置，即将测 量干扰结果的位置作为上行导频信道的承载位置。其中，在将常规时隙中的上行导频信道干扰结果与上行导频信道覆盖门限进行 比较的步骤中，选择常规时隙的最小上行导频信道干扰结果来与上行导频覆盖门限进行 比较。其中，在基于上行导频信道干扰结果与上行导频信道干扰门限和上行导频信道 覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频信道的承载位置的步骤中，具体包括以下 步骤将常规时隙分为两个常规时隙集；在第一时隙集的所有可测位置测量上行导频 信道干扰结果；当第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果小于上行导频信道覆盖门限 时，选择测量第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频信道的承载 位置；当所述第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果大于上行导频信道覆盖门限并且 小于上行导频信道干扰门限时，测量第二时隙集的上行导频信道干扰结果；当第二时 隙集的最小上行导频信道干扰结果小于上行导频信道的覆盖门限时，选择测量第二时隙 的最小上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频信道的承载位置，当第二时隙集的最 小上行导频信道干扰结果大于上行导频信道覆盖门限并且小于上行导频信道的干扰门限 时，将所述第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果与所述第二时隙集的最小上行导频 信道干扰结果进行比较，并选择测量较小的上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频 信道的承载位置，当第二时隙集的最小上行导频信道干扰结果大于上行导频信道干扰门 限时，选择测量第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频信道的承 载位置；当第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果大于上行导频信道干扰门限时，测 量第二时隙集的上行导频信道干扰结果；当第二时隙集的最小上行导频信道干扰结果小 于上行导频信道干扰门限时，选择测量第二时隙中的最小上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频信道的承载位置。其中，当第一时隙集的最小干扰结果和第二时隙集的最小干扰结果均大于上行 导频信道干扰门限时，取消承载位置的选择。本专利技术还提出了一种配置上行导频信道的装置，包括测量单元，测量上行导 频时隙的上行导频信道干扰结果；比较单元，将上行导频时隙的上行导频信道干扰结果 与上行导频信道干扰门限进行比较；选择单元，当上行导频时隙的上行导频信道干扰 结果小于或等于上行导频信道干扰门限时，将上行导频时隙作为上行导频信道的承载位 置，当上行导频时隙的上行导频信道干扰结果大于上行导频信道干扰门限时，基于上行 导频信道干扰结果与上行导频信道干扰门限和上行导频信道覆盖门限的比较，在常规时 隙中选择上行导频信道的承载位置。其中，在基于上行导频信道干扰结果与上行导频信道干扰门限和上行导频信道 覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频信道的承载位置时，测量单元在常规时隙 的可测位置测量上行导频信道干扰结果；比较单元将常规时隙的上行导频信道干扰结果 与上行导频信道覆盖门限进行比较；选择单元在当所述常规时隙的上行导频信道干扰 结果小于或等于所述上行导频信本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种配置上行导频信道的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：测量上行导频时隙的上行导频信道干扰结果；将所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果与上行导频信道干扰门限进行比较；当所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果小于或等于所述上行导频信道干扰门限时，将所述上行导频时隙作为上行导频信道的承载位置；当所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果大于所述上行导频信道干扰门限时，基于所述上行导频信道干扰结果与所述上行导频信道干扰门限和上行导频信道覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频信道的承载位置。

【技术特征摘要】
1.一种配置上行导频信道的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤测量上行导频时隙的上行导频信道干扰结果；将所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果与上行导频信道干扰门限进行比较；当所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果小于或等于所述上行导频信道干扰门 限时，将所述上行导频时隙作为上行导频信道的承载位置；当所述上行导频时隙的上行导频信道干扰结果大于所述上行导频信道干扰门限时， 基于所述上行导频信道干扰结果与所述上行导频信道干扰门限和上行导频信道覆盖门限 的比较，在常规时隙中选择上行导频信道的承载位置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于所述上行导频信道干扰结果与所 述上行导频信道干扰门限和上行导频信道覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频 信道的承载位置的步骤中，具体包括以下步骤在常规时隙的可测位置测量上行导频信道干扰结果；将所述常规时隙的上行导频信道干扰结果与所述上行导频信道覆盖门限进行比较；当所述常规时隙的上行导频信道干扰结果小于或等于所述上行导频信道覆盖门限 时，选择测量所述常规时隙的上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频信道的承载位 置；当所述常规时隙的上行导频信道干扰结果大于所述上行导频信道覆盖门限时，根据 所述上行导频信道干扰门限来选择上行导频信道的承载位置。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在当所述常规时隙的上行导频信道干扰 结果大于所述上行导频信道覆盖门限时，根据所述上行导频信道干扰门限来选择上行导 频信道的承载位置的步骤中，具体包括将所述常规时隙的上行导频信道干扰结果进行比较；选择所述常规时隙的最小上行导频信道干扰结果与所述上行导频信道干扰门限进行 比较；当所选择的常规时隙的最小上行导频信道干扰结果小于所述干扰门限时，选择测量 所述常规时隙的最小上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频信道的承载位置。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述常规时隙的上行导频信道干扰 结果与所述上行导频信道覆盖门限进行比较的步骤中，一旦找到干扰结果小于或等于所 述上行导频信道覆盖门限的位置，即将测量所述干扰结果的位置作为上行导频信道的承 载位置。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述常规时隙中的上行导频信道干 扰结果与所述上行导频信道覆盖门限进行比较的步骤中，选择常规时隙的最小上行导频 信道干扰结果来与所述上行导频覆盖门限进行比较。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于所述上行导频信道干扰结果与所 述上行导频信道干扰门限和上行导频信道覆盖门限的比较，在常规时隙中选择上行导频 信道的承载位置的步骤中，具体包括以下步骤将所述常规时隙分为两个常规时隙集；在第一时隙集的所有可测位置测量所述上行导频信道干扰结果；当所述第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果小于所述上行导频信道覆盖门限时，选择测量所述第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果的位置作为上行导频信道的承载位置；当所述第一时隙集的最小上行导频信道干扰结果大于所述上行导频信道覆盖门限并且小于所述上行导频信道干扰门限时，测量第二时隙集的上行导频信道干扰结果；当所述第二时隙集的最小上行导频...

【专利技术属性】
技术研发人员：许靖，江海，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94