电容式触控板的检测方法技术

技术编号:5152249 阅读:174 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种电容式触控板的检测方法,其特征在于包括以下步骤:第一步骤:间隔检测复数条第一迹线以及复数条第二迹线,产生复数个第一场域和复数个第二场域;第二步骤:内插计算所述第一场域,获得与所述第二场域具相同时间坐标的内插场域;以及第三步骤:组合所述第二场域与所述内插场域,产生重现帧。本发明专利技术的电容式触控板的检测方法具有减少检测电路运算量以提升电容式触控板的效能的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电容式触控板,具体地说,是一种。
技术介绍
二维式电容式触控板上设置有多条X方向迹线和Y方向迹线,这些X方向迹线和 Y方向迹线相互交错组成多个感应器,当使用者以导电性对象,例如手指,接近这些感应器 时,手指与所述感应器之间的耦合电容将使连接所述感应器的迹线的电容值增加,检测电 路便藉由检测这些迹线的电容值变化,定位出手指的位置,并将所述位置的变化转换成信 息,提供给主机执行相应操作。图1为手指对迹线造成电容值变化的示意图,横坐标表示横向的迹线Y1,迹线 Xl X8与迹线Yl交错,曲线10表示迹线Yl上的电容值变化。当手指接近迹线Yl与迹 线X4、X5的交点时,远离手指的迹线XI、X2和X7、X8的电容值未受影响,低于门坎值CTH, 较接近手指的迹线X3和X6的电容值上升,略高于门坎值CTH,距离手指更近的迹线X5的 电容值更高,而手指位置所在处的迹线X4和Yl的电容值则为曲线10的峰值,因此,将迹线 X4和Yl组合后,即可判断出手指位于(X4,Y1)。在图1中,迹线Χ1、Χ2和Χ7、Χ8的电容值 未受到手指影响,在检测时的值接近零,在后续的转换和运算判断中是无用的(useless)。已知取得一帧(frame)信息的方式是逐一扫瞄触控板上的每条迹线,将每条迹线 的电容值变化信息组合成一帧,定位出手指的位置。因此已知的逐一对每条迹线扫瞄,检测每条迹线电容值变化的方法存在着对无用 迹线检测,耗电和效能差的种种不便和问题。
技术实现思路
本专利技术的目的,在于提出一种。为实现上述目的,本专利技术的技术解决方案是一种,其特征在于包括以下步骤第一步骤间隔检测复数条第一迹线以及复数条第二迹线,产生复数个第一场域 和复数个第二场域;第二步骤内插计算所述第一场域,获得与所述第二场域具相同时间坐标的内插 场域;以及第三步骤组合所述第二场域与所述内插场域,产生重现帧。本专利技术的还可以采用以下的技术措施来进一步实现。前述的检测方法,其中所述第一迹线为分布在所述电容式触控板上的单数条迹 线。前述的检测方法,其中所述第二迹线为分布在所述电容式触控板上的双数条迹线。采用上述技术方案后,本专利技术的具有减少检测电路的运算量以提升电容式触控板的效能的优点。 附图说明图1为手指对迹线造成电容值变化的示意图;图2为根据本专利技术一实施例的示意图。图中,10、曲线。具体实施例方式以下结合实施例及其附图对本专利技术作更进一步说明。本专利技术提出的检测方法以多场域的方式(multi-field way),例如迹线跳略 (trace-skip),取代已知连续式的帧检测。图2为根据本专利技术一实施例的示意图,虚线横轴 表示时间,触控板上一般设有复数条纵向迹线和横向迹线,图2仅绘出纵向迹线以便于说 明。首先,在第一时间时依序检测电容式触控板上的所有单数条迹线,获得第一个场 域(field) 1,再于第二时间依序检测所有双数条迹线,获得场域2,接着,在第三时间再次 检测所有单数条迹线,获得第二个场域1,其中,第一时间、第二时间和第三时间之间的时间 间隔相同,对第一个场域1和第二个场域1取内插,计算得到和场域2具相同时间坐标的内 插场域,再将场域2与内插场域组合成为重现帧,供进行后续坐标计算。接着,以相同的间 隔检测步骤,依序取得第二个场域2以及第三个场域1,内插计算第二个场域1和第三个场 域1,获得与第二个场域2具相同时间坐标的第二个内插场域(图中未示),组合产生下一 帧。在其它实施例中,设计者可依需求调整每一场域检测的迹线群,并相应调整组合 方法,将每一帧拆成更多个场域。以上实施例仅供说明本专利技术之用,而非对本专利技术的限制,有关
的技术人 员,在不脱离本专利技术的精神和范围的情况下,还可以作出各种变换或变化。因此,所有等同 的技术方案也应该属于本专利技术的范畴,应由各权利要求限定。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种电容式触控板的检测方法,其特征在于包括以下步骤:第一步骤:间隔检测复数条第一迹线以及复数条第二迹线,产生复数个第一场域和复数个第二场域;第二步骤:内插计算所述第一场域,获得与所述第二场域具相同时间坐标的内插场域;以及第三步骤:组合所述第二场域与所述内插场域,产生重现帧。

【技术特征摘要】
1.一种电容式触控板的检测方法,其特征在于包括以下步骤第一步骤间隔检测复数条第一迹线以及复数条第二迹线,产生复数个第一场域和复 数个第二场域;第二步骤内插计算所述第一场域,获得与所述第二场域具相同时间坐标的内插场域;以及第三步骤组合所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:林嘉兴陶逸欣曾玄文
申请(专利权)人:义隆电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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