光学特性检测机台制造技术

技术编号:5108505 阅读:245 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种光学特性检测机台,检测一用以切割成多个非偏振液晶面板半成品的整件非偏振液晶面板半成品,包含一机台本体、一探针模块、一第一光源装置、一光电转换器、一第一偏光片与一第二偏光片,机台本体承载整件非偏振液晶面板半成品,探针模块电性连接整件非偏振液晶面板半成品以通电驱动其液晶,第一光源装置与光电转换器对应设置于整件非偏振液晶面板半成品的两侧,第一偏光片设置于第一光源装置与整件非偏振液晶面板半成品之间,第二偏光片设置于光电转换器与整件非偏振液晶面板半成品之间,光电转换器感应穿透液晶的光线的光学特性。借此,在整件非偏振液晶面板半成品未切割为多个液晶面板与未贴附偏光片之前,查验其光学特性以提早淘汰不良品。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光学特性检测机台,尤其涉及一种用于检测整件非偏振液 晶面板半成品的各种光学特性的检测机台,其中该整件非偏振液晶面板半成品未黏附偏 光片,并且用以切割为多个非偏振液晶面板半成品。
技术介绍
现今的工业自动化检测程序中,常利用自动光学检查(Automated OpticalInspection; AOI)检测LCD液晶屏幕面板,首先对液晶屏幕面板通电,并利用样板产生 器(Pattern Generator)产生特定样板,再利用光学方式取得液晶屏幕面板的表面状态,以 影像处理来检查液晶屏幕面板是否有亮点、暗点、点瑕疵或画面颜色不均等缺陷。在现有技术中,前述液晶屏幕面板往往为一模块组装后的液晶面板半成品,已 经过裁切与黏贴偏光片的程序。然,当这样的液晶面板半成品一旦被检测出辉度异常或 影像瑕疵,受到淘汰的同时等于也浪费了已耗费其上的裁切工时与偏光片的材料成本。为了及早发现瑕疵以提升检测效率,本技术的主要目的在于提供一种光学 特性检测机台,在液晶面板半成品未黏贴偏光片及未裁切而尚为一整件非偏振液晶面板 半成品时,对该整件非偏振液晶面板半成品进行包含辉度、影像变异与液晶反应时间等 各种光学特性项目的检测。如此,即可间接节省在不良品上的不必要耗材与工时,提升 生产效率及良率。
技术实现思路
本技术的目的在提供一种光学特性检测机台,该光学特性检测机台用以检 测一整件非偏振液晶面板半成品。有别于现有技术中,以一已经过裁切并且已贴附偏光 片的液晶面板半成品作为检测标的,本技术的光学特性检测机台可在该整件非偏振 液晶面板半成品尚未切割为多个液晶面板与尚未贴附偏光片之前,查验其辉度、瑕疵与 液晶反应时间(Response Time)等光学特性,以提早淘汰不良品,解决现有技术中会间接 浪费较多任务时与材料的问题,提升影像检测的效率。为了实现上述目的,本技术提供一种光学特性检测机台,用以检测至少一 个整件非偏振液晶面板半成品,该整件非偏振液晶面板半成品具有多个液晶,用以切割 成多个非偏振液晶面板半成品,并电性连接一样板产生器以自该样板产生器接收一样板 图案,其特征在于,该光学特性检测机台包含一机台本体,用以承载该整件非偏振液晶面板半成品;一探针模块,电性连接该整件非偏振液晶面板半成品,以通电驱动该多个液晶 显示该样板图案;一第一光源装置,设置于该整件非偏振液晶面板半成品的一侧,并产生光线照 射至该整件非偏振液晶面板半成品;一光电转换器,对应该第一光源装置设置于该整件非偏振液晶面板半成品的另一侧,并感应穿透该多个液晶的光线的光学特性;一第一偏光片,设置于该第一光源装置与该整件非偏振液晶面板半成品之间; 以及一第二偏光片,设置于该光电转换器与该整件非偏振液晶面板半成品之间。上述的光学特性检测机台,其中,该光电转换器为一光二极管、一光电倍增 管、一互补式金氧半导体、一电荷耦合装置以及一辉度计中之一。上述的光学特性检测机台,其中,还包含一第二光源装置、一辉度传感器、一 第三偏光片以及一第四偏光片,该第二光源装置与该辉度传感器对应设置于该整件非偏 振液晶面板半成品的两侧,该第三偏光片设置于该第二光源装置与该整件非偏振液晶面 板半成品之间,该第四偏光片设置于该辉度传感器与该整件非偏振液晶面板半成品之 间。上述的光学特性检测机台,其中,还包含一第三光源装置、一影像传感器、一 第五偏光片以及一第六偏光片,该第三光源装置与该影像传感器对应设置于该整件非偏 振液晶面板半成品的两侧,该第五偏光片设置于该第三光源装置与该整件非偏振液晶面 板半成品之间,该第六偏光片设置于该影像传感器与该整件非偏振液晶面板半成品之 间。本技术的功效在于,通过第一偏光片至第六偏光片的配置,即使该整件非 偏振液晶面板半成品未组装背光模块并且未黏贴偏光片,本技术的光学特性检测机 台仍可模拟整件非偏振液晶面板半成品已黏贴偏光片的情况,准确地检测包含液晶反应 时间、辉度及影像变异度等各项光学特性。相较于现有技术中,对已裁切并且已贴附偏 光片的液晶面板半成品进行检测与不良品淘汰的作业,本技术的光学特性检测机台 可及早将不良品排除,提升液晶屏幕面板的生产效率与良率。借以下结合附图和具体实施例对本技术进行详细描述,但不作为对本实用 新型的限定。附图说明图1为整件非偏振液晶面板半成品的示意图;图2为本技术较佳实施例的第一实施例中, 示意图;图3为本技术较佳实施例的第一实施例中, 图;图4为本技术较佳实施例的第一实施例中, 图;图5为本技术较佳实施例的第二实施例中, 图;以及图6为本技术较佳实施例的第二实施例中, 图。其中,附图标记整件非偏振液晶面板半成品200光学特性检测机台的局部外观 光学特性感测模块的放大示意 光学特性检测机台的功能方框 光学特性感测模块的放大示意 光学特性检测机台的功能方框非偏振液晶面板半成品210、210’偏光片310、320机台本体1探针模块2光学特性感测模块3、3’电压感测模块31第一光源装置311光电转换器312第一偏光片313第二偏光片314辉度感测模块32第二光源装置321辉度传感器322第三偏光片323第四偏光片324瑕疵影像感测模块33第三光源装置331影像传感器332相机332I镜头3322第五偏光片333第六偏光片334处理单元5检测模块具体实施方式以下结合附图对本技术的结构原理和工作原理作具体的描述 本技术的光学特性检测机台的应用范围,主要是在PSA UV工艺前后检测一 整件未经过切割、未贴附偏光片的液晶面板半成品的各项光学特性表现,包含液晶反应 时间(Response Time)、光学影像变异以及辉度等。该整件非偏振液晶面板半成品未黏附 偏光片而不具偏振性,并且具有多个被封装的液晶以及多个电性接点。其中,液晶反应时间是指开启(TumOn)或关闭(TumOff)液晶所需耗费的时 间。液晶反应时间过慢会对液晶屏幕成品在动态影像方面的展示能力,以及追踪显示快 速移动光标的能力产生严重负面影响。本技术的光学特性检测机台可分别针对液晶 开启与关闭的液晶反应时间进行检测,提早将液晶反应时间过慢的整件非偏振液晶面板 半成品淘汰。以下列举本技术的两个较佳实施例以供所属
普通技术人员可 据以实施。请参阅图1,图1为整件非偏振液晶面板半成品的示意图。如图所示,该整件非 偏振液晶面板半成品200是用以切割成多个非偏振液晶面板半成品210。被切割为较小尺寸的非偏振液晶面板半成品210’是供黏合偏光片310、320以成为一具有偏振性的液晶 面板半成品。请参阅图2,图2为本技术较佳实施例的第一实施例中,光学特性检测机 台的局部外观示意图。如图所示,本技术的光学特性检测机台在外观上包含一机台 本体1、一探针模块2以及一光学特性感测模块3。机台本体1是用以承载整件非偏振 液晶面板半成品200。整件非偏振液晶面板半成品200的液晶为电性连接一样板产生器 (Pattern Generator)(图未示),以自该样板产生器接收一样板图案。探针模块2设置于机 台本体1四侧,为电性连接该整件非偏振液晶面板半成品200的该些电性接点,以在检测 过程中通电驱动该些液晶以显示该本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种光学特性检测机台,用以检测至少一个整件非偏振液晶面板半成品,该整件非偏振液晶面板半成品具有多个液晶,用以切割成多个非偏振液晶面板半成品,并电性连接一样板产生器以自该样板产生器接收一样板图案,其特征在于,该光学特性检测机台包含:一机台本体,用以承载该整件非偏振液晶面板半成品;一探针模块,电性连接该整件非偏振液晶面板半成品,以通电驱动该多个液晶显示该样板图案;一第一光源装置,设置于该整件非偏振液晶面板半成品的一侧,并产生光线照射至该整件非偏振液晶面板半成品;一光电转换器,对应该第一光源装置设置于该整件非偏振液晶面板半成品的另一侧,并感应穿透该多个液晶的光线的光学特性;一第一偏光片,设置于该第一光源装置与该整件非偏振液晶面板半成品之间;以及一第二偏光片,设置于该光电转换器与该整件非偏振液晶面板半成品之间。

【技术特征摘要】
1.一种光学特性检测机台,用以检测至少一个整件非偏振液晶面板半成品,该整件 非偏振液晶面板半成品具有多个液晶,用以切割成多个非偏振液晶面板半成品,并电性 连接一样板产生器以自该样板产生器接收一样板图案,其特征在于,该光学特性检测机 台包含一机台本体,用以承载该整件非偏振液晶面板半成品;一探针模块,电性连接该整件非偏振液晶面板半成品,以通电驱动该多个液晶显示 该样板图案;一第一光源装置,设置于该整件非偏振液晶面板半成品的一侧,并产生光线照射至 该整件非偏振液晶面板半成品;一光电转换器,对应该第一光源装置设置于该整件非偏振液晶面板半成品的另一 侧,并感应穿透该多个液晶的光线的光学特性;一第一偏光片,设置于该第一光源装置与该整件非偏振液晶面板半成品之间;以及一第二偏光片,设置于该光电转换器与该整件非偏振液晶面板半成品之间。2.根据权利要求1所述的光学特性检测机台,...

【专利技术属性】
技术研发人员:林钲杰许家胜周圣彬
申请(专利权)人:宏濑科技股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:71

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