电容式位置侦测的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术是有关于一种电容式位置侦测的方法与装置。其中的方法包括：提供包括多个感测器的一电容式感测装置，上述感测器包括多个第一感测器与多个第二感测器，其中第一感测器与第二感测器交叠于多个叠点；侦测每一个触碰相关的感测器；依据所有触碰相关的感测器判断出至少一互电容式侦测范围；对至少一互电容式侦测范围进行一互电容式侦测，以判断出至少一互电容式侦测范围的感测资讯；依据至少一互电容式侦测范围的感测资讯产生一二维度感测资讯。本发明专利技术提供的技术方案能够尽可能的省时省电。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种位置侦测的方法与装置，特别是涉及一种电容式位置侦测的方法与装置。
技术介绍
触控显示器(Touch Display)已广泛地应用于许多电子装置中，一般的做法是采 用一触控面板(Touch Sensing Panel)在触控显示器上定义出一二维的触摸区，藉由在触 摸板上纵轴与横轴的扫瞄来取得感测资讯(Sensinghformation，即感测资讯)，以判断外 在物件(如手指)在触摸屏上的碰触或接近，例如美国专利号US4639720所提供的一种电 容式触摸显示器。感测资讯可由模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter，ADC，即模拟数位 转换器)转换为多个连续信号值，藉由比较这些信号值在外部物件碰触或接近前与后的变 化量，可判断出外部物件碰触或最接近触摸屏的位置。一般而言，控制触摸屏的控制器会先取得没有外部物件触碰或接近时的感测资 讯，作为基准值(baseline)。例如在电容式触摸屏中，每一条导电条相应于各自的基准值。 控制器藉由判断后续的感测资讯与基准值的比较判断是否有外部物件接近或触碰，以及更 进一步判断外部物件的位置。例如，在未被外部物件接近或触碰时，后续的感测资讯相对于 基准值为零值或趋近零值，藉由感测资讯相对于基准值是否为零值或趋近零值判断是否有 外部物件接近或触碰。如图IA所示，当外部物件12(如手指)碰触或接近触控显示器10的感测装置120 时，在一轴向(如X轴向)上的感测器140的感测资讯转换成如图IB所示的信号值，相应 于手指的外型，信号值呈现一波形或一指廓(Finger profile)，指廓上的峰14(peak)的位 置即代表手指碰触或接近的位置。一般二维度感测资讯是由多个一维度感测资讯组成，亦即需要对多个感测器进行 多次侦测才能产生，需要一段相当长的时间。当触碰位置的取样频率要求较高时，如何降低 产生二维度感测资讯的产生时间将会变得很关键。然而二维度感测资讯中大部份都与触碰 无关，持续地进行与触碰无关的侦测将耗时耗电，如何省时省电为重要的技术关键。由此可见，上述现有技术显然存在有不便与缺陷，而极待加以进一步改进。为了解 决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的 设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然 是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的技术，实属当前重要研发课题之一， 亦成为当前业界极需改进的目标。
技术实现思路
本专利技术是采用自电容式侦测与互电容式侦测并用的方式来产生二维度感测资讯 或由二维度感测资讯判断触碰相关感测资讯。一般二维度感测资讯是由多个一维度感测资讯组成，亦即需要对多个感测器进行 多次侦测才能产生，需要一段相当长的时间。当触碰位置的取样频率要求较高时，如何降低 产生二维度感测资讯的产生时间将会变得很关键。然而二维度感测资讯中大部份的范围都是与触碰无关，如果可以只侦测触碰相关 的感测器的信号，将可以省下大量的时间。此外，在二维度感测资讯中侦测触碰相关资讯时，随着二维度感测资讯越大，所需 侦测的范围也越大，相应的运算量也越大。然而二维度感测资讯中大部份的范围都是与触 碰无关，如果可以只在可能有触碰的部份侦测触碰相关的感测资讯，将可以省下大量的时 间。本专利技术的目的至少在于以自电容式侦测的结果决定互电容式侦测的范围；以降低水渍或导电杂质干扰的电容式侦测的结果决定互电容式侦测的范围；仅凭触碰相关感测资讯产生遍及整个感测装置的二维度感测资讯；以及以自电容式侦测的结果或由二维度感测资讯所衍生的一维度感测资讯决定在二 维度感测资讯上侦测触碰相关感测资讯的范围。从而克服现有的感测器存在的缺陷。本专利技术提供的电容式位置侦测的方法与装 置，所要解决的技术问题包括尽量的省时省电，非常适于实用。本专利技术的目的及解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提出 的一种电容式位置侦测的方法，包括提供包括多个感测器的一电容式感测装置，上述感测 器包括多个第一感测器与多个第二感测器，其中上述第一感测器与上述第二感测器交叠于 多个叠点；侦测每一个触碰相关的感测器；依据所有触碰相关的感测器判断出至少一互电 容式侦测范围；对该至少一互电容式侦测范围进行一互电容式侦测，以判断出该至少一互 电容式侦测范围的感测资讯；以及依据该至少一互电容式侦测范围的感测资讯产生一二维 度感测资讯。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中该侦测每一个触碰相关的感测器是 以上述第一感测器进行一自电容式侦测，以判断出每一个触碰相关的感测器，并且该至少 一互电容式侦测范围为该至少一触碰相关的感测器上所有的叠点。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中该自电容式侦测是同时提供一驱动 信号给上述第一感测器，并且侦测上述第一感测器的信号。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中该侦测每一个触碰相关的感测器是 以上述感测器进行一自电容式侦测，以判断出每一个触碰相关的感测器，并且该至少一互 电容式侦测范围为该至少一触碰相关的感测器交叠的叠点。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中该侦测每一个触碰相关的感测器包 括同时提供一驱动信号给上述第一感测器；在上述第一感测器同时被提供该驱动信号时，侦测上述第一感测器的信号以产生一第一一维度感测资讯；在上述第一感测器同时被提供该驱动信号时，侦测上述第二感测器的信号以产生一第二一维度感测资讯；以及依据该第一一维度感测资讯与该第二一维度感测资讯判断出每一个触碰相关的 感测器。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中该二维度感测资讯中非相应于该至 少一互电容式侦测范围的部份为零值，以产生遍及上述叠点的该二维度感测资讯。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中更包括在该相应于该至少一互电容式侦测范围的感测资讯或该二维度感测资讯进行一 分析，以分析出每一个触碰相关感测资讯，其中该分析至少包括分析出每一个内低外高的 触碰相关感测资讯。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中更包括在该分析前将相应于该至少 一互电容式侦测范围的感测资讯的所有负值转为正值或所有正值转为负值。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中该相应于该至少一互电容式侦测范 围的感测资讯的每一个值是依据一对感测器的信号的差产生。较佳地，前述的电容式位置侦测的方法，其中该相应于该至少一互电容式侦测范 围的感测资讯的每一个值是依据三个感测器的信号产生。本专利技术的目的及解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现，依据本专利技术提出 的一种电容式位置侦测的装置，包括包括多个感测器的一电容式感测装置，上述感测器包 括多个第一感测器与多个第二感测器，其中上述第一感测器与上述第二感测器交叠于多个 叠点；以及一控制器，该控制器至少执行下列作业侦测每一个触碰相关的感测器；依据所 有触碰相关的感测器判断出至少一互电容式侦测范围；对该至少一互电容式侦测范围进行 一互电容式侦测，以判断出该至少一互电容式侦测范围的感测资讯；以及依据该至少一互 电容式侦测范围的感测资讯产生一二维度感测资讯。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。较佳地，前述的电容式位置侦测的装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容式位置侦测的方法，其特征在于包括：提供包括多个感测器的一电容式感测装置，上述感测器包括多个第一感测器与多个第二感测器，其中上述第一感测器与上述第二感测器交叠于多个叠点；侦测每一个触碰相关的感测器；依据所有触碰相关的感测器判断出至少一互电容式侦测范围；对该至少一互电容式侦测范围进行一互电容式侦测，以判断出该至少一互电容式侦测范围的感测资讯；以及依据该至少一互电容式侦测范围的感测资讯产生一二维度感测资讯。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张钦富，李政翰，唐启豪，何顺隆，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]