物理设计中基于双向优先选择的扫描链重构方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种物理设计中基于双向优先选择的扫描链重构方法与装置，该扫描链的结构重构方法首先针对该若干条扫描链中的每一条分别建立其对该若干扫描元件的第一偏好序列；针对该若干扫描元件中的每一个分别建立其对该若干扫描链的第二偏好序列；然后该若干扫描链与该若干扫描元件基于各自相应的该第一偏好序列与该第二偏好序列进行双向选择，从而将该若干扫描元件重新分配给该若干条扫描链。本发明专利技术的扫描链的结构重构方法与装置将全局的扫描链进行整体优化，大幅度缩短全局的布线长度，提高布线效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种扫描链的结构重构方法与装置，尤其是关于芯片物理设计中基 于双向优先选择的扫描链的结构重构方法与装置。
技术介绍
为了芯片的可测试性考虑，目前绝大多数芯片中都会设置用于测试的扫描链。由 于扫描链是在芯片逻辑设计阶段插入，插入时没有计入物理信息，导致在物理设计阶段扫 描链占用过多的布线资源，引起布线拥塞甚至无法布线的问题。因此，在物理设计阶段对扫 描链进行结构优化以尽可能减少其占用的布线资源，变得十分必要。然而，现有的一些扫描链结构优化方法大都只着眼于一局部或单一指标的优化， 如优化时间等，优化的方法过于粗略而无法取得理想的效果。例如，只考虑扫描元件的纵向 位置或横向位置，甚至不考虑扫描链的起点与终点位置。此外，业界也有少数全局考虑扫描 元件和扫描链位置的优化方法，但是在优化效率或者优化时间上都存在一些不足。因而，如何获得一种更有效的扫描链结构优化方法一直是业界关注的问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种物理设计中基于双向优先选择的扫描链重构方法与装置，在物理 设计阶段对全局的扫描链结构进行重构优化，在保证测试的同时解决了不合理的扫描链结 构导致的布线资源浪费问题。 本专利技术提供一种扫描链的结构重构方法，其重构若干条扫描链，该若干条扫描链 共包含若干个扫描元件。该扫描链的结构重构方法包含步骤一针对该若干条扫描链中 的每一条分别建立其对该若干扫描元件的第一偏好序列；步骤二 针对该若干扫描元件中 的每一个分别建立其对该若干扫描链的第二偏好序列；步骤三该若干扫描链与该若干扫 描元件基于各自相应的该第一偏好序列与该第二偏好序列进行双向选择，从而将该若干扫 描元件重新分配给该若干条扫描链。其中，该若干扫描链中的每一个的该第一偏好序列是根据该若干扫描元件中的每 一个与该扫描链的起点、终点的距离的和由小到大排列建立。该若干扫描元件中的每一个 的第二偏好序列是根据该扫描元件至该若干扫描链中的每一个的起点、终点的距离和再加 上该相应扫描链的起点至终点的距离由小到大排列建立。该步骤三进一步包含步骤I 从 一可用扫描元件集中选择一个可用扫描元件；步骤II 基于该可用扫描元件的第二偏好序 列找出其偏好优先级最高的一扫描链；步骤III 步骤a 判断该扫描链是否被分配满，如果 该扫描链未被分配满，则执行步骤b 将该可用扫描元件分配给该扫描链，并将其从该可用 扫描元件集中移除；否则进入步骤c 根据该扫描链的第一偏好序列判断该扫描链中是否 存在偏好优先级低于该可用扫描元件的扫描元件。其中该步骤c进一步包含如存在，则在 步骤Cl 将该扫描链中偏好优先级最低的一扫描元件从该扫描链中移除，将其加入到该可 用扫描元件集；同时将该可用扫描元件分配给该扫描链；如不存在，则至步骤c2 根据该可5用扫描元件的第二偏好序列选择其偏好优先级较该扫描链次之的一扫描链，并返回步骤a。 此外，该步骤III进一步包含在步骤b或步骤Cl之后执行步骤d 检查该可用扫描元件集 是否为空，如空则该若干扫描链重构结束，否则返回步骤I。在另一实施例中，该步骤三进一步包含步骤I 在一待重构扫描链集中选择一待 重构扫描链；步骤II 根据该待重构扫描链的第一偏好序列选择其偏好优先级最高的一扫 描元件；步骤III 在步骤a:检查该扫描元件是否已被使用如未被使用，则在步骤b:将该 扫描元件分配该扫描链，并将其自一可用扫描元件集中移除；否则，在步骤c 根据该扫描 元件的第二偏好序列检查其所在的扫描链是否较该待重构扫描链具有更高的偏好优先级。 其中该步骤c进一步包含如该扫描元件所在的扫描链的偏好优先级较低，则进入步骤Cl 该扫描元件自所在扫描链中移除并将其分配给该待重构扫描链，将移除该扫描元件的扫描 链加入该待重构扫描链集。如该扫描元件所在的扫描链的偏好优先级更高，则进入步骤c2: 根据该待重构扫描链的第一偏好序列找出其偏好优先级较该扫描元件次之的一扫描元件， 然后返回步骤a。此外，该步骤III进一步包含在步骤b或步骤Cl之后执行步骤d 判断该 扫描链是否完成重构，如完成则进入步骤e检查该待重构扫描链集中是否为空；否则返回 步骤II。该步骤e进一步包含如该待重构扫描链集为空，则全部扫描链重构结束；否则， 返回步骤I。本专利技术还提供一种扫描链的结构重构装置，包含一第一偏好序列构建器，其针 对该若干条扫描链中的每一条分别建立其对该若干扫描元件的第一偏好序列；一第二偏 好序列构建器，其针对该若干扫描元件中的每一个分别建立其对该若干扫描链的第二偏好 序列；一双向选择分配器，其使该若干扫描链与该若干扫描元件基于各自相应的该第一偏 好序列与该第二偏好序列进行双向选择，从而将该若干扫描元件重新分配给该若干条扫描 链。其中，该双向选择分配器进一步包含一选择器、一扫描元件管理器，及一扫描链 管理器；该选择器从该扫描元件管理器的一可用扫描元件集中选择一个可用扫描元件；该 第二偏好序列构建器找出该可用扫描元件的偏好优先级最高的扫描链；该扫描链管理器判 断该扫描链是否被分配满，如果该扫描链未被分配满，则将该可用扫描元件分配给该扫描 链，该扫描元件管理器将该可用扫描元件自可用扫描元件集中移除；否则该第一偏好序列 构建器检查该扫描链是否存在偏好优先级低于该可用扫描元件的扫描元件。当该扫描链中 存在偏好优先级低于该可用扫描元件的扫描元件时，该扫描链管理器将其中偏好优先级最 低的扫描元件从该扫描链中移除，该扫描元件管理器将其加入可用扫描元件集；同时该扫 描链管理器将该可用扫描元件分配给该扫描链。当该扫描链中不存在偏好优先级低于该可 用扫描元件的扫描元件时，该第二偏好序列构建器选择该可用扫描元件的偏好优先级较该 扫描链次之的一扫描链，以再次分配该可用扫描元件。该扫描元件管理器在该可用扫描元 件成功分配后，检查是否仍有可用扫描元件，如无则该若干扫描链重构结束，否则选择器再 次选择一可用扫描元件进行分配。在另一实施例中，该双向分配器进一步包含一选择器、一扫描元件管理器，及一扫 描链管理器；该选择器自该扫描链管理器的一待重构扫描链集中选择一待重构扫描链；该 第一偏好序列构建器找出该待重构扫描链的偏好优先级最高的一扫描元件；该扫描元件管 理器检查该扫描元件是否可用；如可用，则该扫描链管理器将该扫描元件分配该扫描链，该扫描元件管理器将其移除；否则，该第二偏好序列构建器检查其所在的扫描链是否较该待 重构扫描链具有更高的偏好优先级。其中该扫描链管理器在该扫描元件所在的扫描链的偏 好优先级较低时，将该扫描元件自其所在扫描链中移除而分配给该待重构扫描链，并将移 除该扫描元件的扫描链加入该待重构扫描链集。该第一偏好序列构建器在该扫描元件所在 的扫描链的偏好优先级更高时，找出偏好优先级较该扫描元件次之的一扫描元件以再次尝 试重构该待重构扫描链。该扫描链管理器在将该扫描元件分配给该待重构扫描链后，进一 步判断其是否完成重构，如完成则检查是否还有待重构扫描链；否则该选择器继续为该待 重构扫描链选择一扫描元件。当该扫描链管理器发现无待重构扫描链时，则全部扫描链重 构结束；否则，该选择器继续选择一待重构扫描链进行重构。本专利技术的扫描链结构重构方法与装置，其通过扫描链与扫描元件之间的双向选 择，使得整个芯片设计中的扫描链结构得到优化本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种扫描链的结构重构方法，重构若干条扫描链，该若干条扫描链共包含若干个扫描元件；该扫描链的结构重构方法包含如下步骤：步骤一：针对该若干条扫描链中的每一条分别建立其对该若干扫描元件的第一偏好序列；步骤二：针对该若干扫描元件中的每一个分别建立其对该若干扫描链的第二偏好序列；步骤三：该若干扫描链与该若干扫描元件基于各自相应的该第一偏好序列与该第二偏好序列进行双向选择，从而将该若干扫描元件重新分配给该若干条扫描链。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘榜，刘渤海，
申请(专利权)人：新思科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]