偏光薄膜的检查方法技术

使用缺陷检查装置对带状的偏光薄膜进行缺陷的检出（Ｓ２），基于缺陷的检出结果制作出表示缺陷的位置的缺陷位置数据并保存到存储介质中（Ｓ３），将带状的偏光薄膜卷绕到滚筒上（Ｓ５），从滚筒拉出带状的偏光薄膜（Ｓ６），对带状的偏光薄膜层叠其它薄膜（Ｓ７），在层叠了其它薄膜后，读入保存在存储介质中的缺陷位置数据，且基于读入的缺陷位置数据来确定偏光薄膜的缺陷位置（Ｓ８），基于已确定的缺陷位置，在所述其它薄膜上的缺陷的附近位置上形成记号（Ｓ９）。由此，能够在偏光薄膜上被缺陷检查装置检出的缺陷的附近位置上形成记号，而不会出缺陷检查装置检出的缺陷中只包含允许缺陷的部分不能作为产品使用的情况。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种，是在检出带状偏光薄膜上存在的缺陷后将 薄膜卷绕到滚筒上，且将卷绕的带状偏光薄膜从滚筒拉出，并在带状的偏光薄膜上层叠其 它薄膜后在缺陷位置附近划线。
技术介绍
在液晶显示面板等中使用的偏光薄膜的制造工序中，一般是以固定宽度且又长又 大的带状状态自动地实施各种处理，并最终根据产品规格而切成规定的形状。过去有一种(譬如专利文献1)，是利用缺陷检查装置(自动 检查机)来自动地检出带状状态的偏光薄膜的缺陷，且为了在后道工序中容易识别缺陷， 在缺陷的附近位置上形成记号。一般情况下，已用缺陷检查装置检出缺陷的偏光薄膜并不是100%不能使用。有 时，在用缺陷检查装置检出的缺陷的大小较小时也允许使用。缺陷检查装置一般不能判断 出缺陷的大小超过了允许尺寸，而是与检出的缺陷为允许尺寸无关地将全部缺陷都进行检 出。一般情况下，最终还是要通过人的肉眼检查来判断缺陷检查装置检出的缺陷是否在允 许尺寸内。偏光薄膜上的记号一般不能除去。尤其是用毡笔形成的记号，一般不能从偏光薄 膜上擦掉。因此，如果像过去的检查方法那样，在用缺陷检查装置检出偏光薄膜的缺陷后即 在偏光薄膜表面的缺陷附近直接形成记号，则在后面的肉眼检查中判断该缺陷为在允许尺 寸内时，也不能将记号除去。因此，在偏光薄膜上，在用缺陷检查装置检出的缺陷中，只包含 允许缺陷的部分本来是可以作为产品使用的，但由于形成了记号，因此不能再作为产品使用。专利文献1 日本公开专利公报“2001-305070号公报”(2001年10月31日公开)
技术实现思路
本专利技术是鉴于上述问题而作出的，其目的在于提供一种，能 够在偏光薄膜上已用缺陷检查装置检出的缺陷的附近位置上形成记号，而不会出现用缺陷 检查装置检出的缺陷中只包含了允许缺陷的那部分不能作为产品使用的情况。为了解决上述问题，本专利技术的包括用缺陷检查装置对带状 的偏光薄膜进行缺陷的检出的工序；基于缺陷的检出结果而制作出表示缺陷的位置的缺陷 位置数据并保存到存储介质中的缺陷位置记录工序；在进行了上述缺陷的检出之后将带状 的偏光薄膜卷绕到滚筒上的工序；从上述滚筒拉出带状的偏光薄膜的工序；对已被拉出的 带状的偏光薄膜层叠其它薄膜的工序；在层叠了其它薄膜后，读入保存在存储介质中的缺 陷位置数据，且基于读入的缺陷位置数据来确定偏光薄膜的缺陷位置，并基于已确定的缺 陷位置而在上述其它薄膜上的缺陷附近位置上形成记号的记号形成工序。另外，为了解决上述问题，本专利技术的包括用缺陷检查装置对带状的偏光薄膜检出缺 陷的工序；基于缺陷的检出结果，对上述偏光薄膜的宽度方向端部印刷表示与缺陷的位置 有关的信息的识别码，且将印有上述识别码的带状的偏光薄膜卷绕到滚筒上的工序；从上 述滚筒拉出带状的偏光薄膜的工序；对拉出的带状的偏光薄膜层叠其它薄膜的工序；在层 叠了其它薄膜后，读出将偏光薄膜上的识别码，且基于读出的识别码来确定偏光薄膜的缺 陷位置，并基于已确定的缺陷位置，在上述其它薄膜上的缺陷附近位置上形成记号的记号 形成工序。采用现有的检查方法时，是在用缺陷检查装置检出偏光薄膜的缺陷的同时，在缺 陷的附近位置上形成记号，而本专利技术的检查方法则是将使用缺陷检查装置检出偏光薄膜的 缺陷的工序与在缺陷的附近位置上形成记号的工序分开，且在前者工序与后者工序之间实 施层叠其它薄膜的工序。由此获得以下效果。一般是在偏光薄膜上层叠剥离膜等其它薄膜。剥离膜一般在使用于液晶显示装置 等时被剥离。剥离膜等其它薄膜上的记号能够除去。尤其是用毡笔形成的记号，一般能够 从剥离膜等其它薄膜上擦掉。因此，本专利技术的检查方法在用缺陷检查装置检查缺陷时不形成记号，而是在偏光 薄膜上层叠了剥离膜等其它薄膜(譬如在偏光薄膜上隔着粘接剂而贴上剥离膜等其它薄 膜)之后，在其它薄膜(的最上层)的缺陷附近位置上形成记号，然后能够在通过肉眼检查 判定缺陷为允许尺寸时除去记号。由此，能够对偏光薄膜上被缺陷检查装置检出的缺陷中 只包含允许缺陷的那部分除去记号后作为产品使用。从而，本专利技术能够提供这样一种能够在偏光薄膜上已用缺 陷检查装置检出的缺陷的附近位置上形成记号，而不会出现用缺陷检查装置检测出的缺陷 中只包含了允许缺陷的那部分不能作为产品使用的情况。也曾考虑到现有的检查方法是在偏光薄膜上将其它薄膜全部层叠后，在用缺陷检 查装置检出偏光薄膜的缺陷的同时，在缺陷的附近位置上形成记号。然而，采用这种方法 时，不能判断用缺陷检查装置检出的缺陷究竟是偏光薄膜的缺陷还是层叠在偏光薄膜上的 其它薄膜的缺陷。而本专利技术的检查方法是在层叠其它薄膜之前用缺陷检查装置来检出缺 陷，因此能够可靠地检出偏光薄膜的缺陷。专利文献1公开的现有的检查方法是在检查到偏光薄膜的缺陷时在缺陷的附近 位置上形成记号。而本专利技术的方法是在对带状的偏光薄膜进行缺陷检查的工序与在带状的偏光薄 膜上层叠其它薄膜的工序之间，实施将带状的偏光薄膜卷绕到滚筒上的工序和从滚筒拉出 带状的偏光薄膜的工序。这是因为，制造带状的偏光薄膜并检查缺陷的工序与在带状的偏 光薄膜上层叠其它薄膜的工序一般是分别在不同工厂进行的，因此需要将带状的偏光薄膜 从一个工厂运送到另一个工厂，而带状的偏光薄膜一般都是长带状的，如果不卷绕到滚筒 上，就很难在工厂之间搬运。现有的检查方法是在检查缺陷的同时形成记号，因此不必记录与缺陷有关的信 息，只要从缺陷检查装置向划线装置转送信号即可。而本专利技术的检查方法如上所述，是将缺 陷检查工序与记号形成工序分开，且在缺陷检查工序与记号形成工序之间实施将偏光薄膜 卷绕到滚筒上的工序以及将偏光薄膜从滚筒拉出的工序，因此必须做到在检查缺陷时以某4一种形式记录缺陷检查结果，并在其后的记号形成工序中加以利用。为此，本专利技术的检查方法在缺陷位置记录工序中，基于缺陷的检出结果而制作出 表示缺陷的位置的缺陷位置数据并保存到存储介质中，且在层叠了其它薄膜后的记号形成 工序中，读入保存在存储介质中的缺陷位置数据，并基于读入的缺陷位置数据来确定偏光 薄膜的缺陷位置，且基于已确定的缺陷位置而在上述其它薄膜上的缺陷附近位置上形成记 号。由此，即使将缺陷工序与记号工序分开，并在缺陷检查工序与记号形成工序之间实施将 偏光薄膜卷绕到滚筒上的工序以及将偏光薄膜从滚筒拉出的工序，也能在缺陷的附近位置 上形成记号。在本专利技术的检查方法中，优选为在上述缺陷位置记录工序中，基于缺陷的检出结 果，对多个区域中的含缺陷区域的偏光薄膜宽度方向端部印刷用于识别含缺陷区域的识别 码，作为上述缺陷位置数据，制作出表示含缺陷区域内的缺陷位置的缺陷位置数据并与各 个含缺陷区域建立对应地保存到存储介质中，上述多个区域是用沿着偏光薄膜的宽度方向 形成的分割线对整个带状偏光薄膜分割而成，且在上述记号形成工序中读出偏光薄膜上的 识别码，并基于与由读出的识别码识别的区域建立了对应的缺陷位置数据来确定偏光薄膜 的缺陷位置。作为本专利技术的方法，考虑过如下方法只是基于缺陷位置数据来确定偏光薄膜的 缺陷位置，这种缺陷位置数据表示以偏光薄膜的先头位置为基准的缺陷位置的坐标。然而， 偏光薄膜在缺陷检查后，有时在形成记号之前会沿长度方向延伸。因此，如果只是基于缺陷 位置数据来确定偏光薄膜的缺陷位置，且这种缺陷位置数据表示以偏光薄膜的先头位本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种偏光薄膜的检查方法，其特征在于，包括：用缺陷检查装置对带状的偏光薄膜进行缺陷的检出的工序；基于缺陷的检出结果制作出表示缺陷的位置的缺陷位置数据并保存到存储介质中的缺陷位置记录工序；在进行了所述缺陷的检出之后将带状的偏光薄膜卷绕到滚筒上的工序；从所述滚筒拉出带状的偏光薄膜的工序；对已被拉出的带状的偏光薄膜层叠其它薄膜的工序；在层叠了其它薄膜后，读入保存在存储介质中的缺陷位置数据，且基于读入的缺陷位置数据来确定偏光薄膜的缺陷位置，并基于已确定的缺陷位置而在所述其它薄膜上的缺陷的附近位置上形成记号的记号形成工序。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：篠塚淳彦，笠井利行，山根尚德，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[]