一种测试保险丝熔断时间的测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试保险丝熔断时间的测试电路，包括待测保险丝，测试取样电路，测试计数器和计数时钟；所述测试取样电路中设置取样电阻，取样电阻的一端与保险丝测试仪或可控恒流源的电流正极相接，取样电阻的另一端与待测保险丝相接，待测保险丝的另一端与保险丝测试仪或可控恒流源的电流负极相接，测试取样电路的输出端与测试计数器的输入端相接，计数时钟的脉冲输出端与测试计数器的输入端相接。本实用新型专利技术的突出贡献是解决了现有保险丝测试仪无法测试熔断时间小于１０ｍｓ的快熔性保险丝的问题，适用于对熔断时间小于１０ｍｓ的快熔性保险丝进行测试，填补了该测试仪器的空白。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种计数测试电路，尤其涉及一种测试保险丝熔 断时间的测试电路。
技术介绍
保险丝在各个电气及半导体领域都有着非常广泛的应用，而保险 丝对电路及电器也有着重要的保护作用，所以对保险丝的测试也显得 至关重要，现有技术中的各种保险丝测试仪品种繁多，可以测试各类 电流保险丝，汽车保险丝，摩托车保险丝等，主要用于测试各类电流 保险丝的熔断电流和熔断时间。针对巿场的需求，保险丝产品中出现了快熔性保险丝，这种快熔性保险丝的熔断时间非常短， 一般熔断时间的范围为10ns—10ms， 而现在技术中的保险丝测试仪， 一般的测试范围为1Oms—60分钟， 测试的最小时间分辨率为10ms,这样，常用的保险丝测试仪就无法对 熔断时间小于10ms的快熔性保险丝进行测试。
技术实现思路
本技术所要解决的问题，是针对现有技术中存在的缺陷或不 足，解决现有保险丝测试仪无法测试熔断时间小于10ms的快熔性保 险丝的问题。为了解决上述技术问题，本技术是通过釆用以下技术方案来 实现设计一种测试保险丝熔断时间的测试电路，本技术的使用基 于待测保险丝和保险丝测试仪或可控恒流源，其特点是，所述测试电路包括一测试取样电路，所述测试取样电路内含一取样电阻；一测试计数器，一计数时钟，所述取样电阻的一端与保险丝测试仪或可控恒流源的电流正极 相接，取样电阻的另一端与待测保险丝相接，待测保险丝的另一端与 保险丝测试仪或可控恒流源的电流负极相接，测试取样电路的输出端 与测试计数器的输入端相接，计数时钟的脉冲输出端与测试计数器的 输入端相接。所述测试取样电路的输出端的输出信号可以为高电平也可以是 低电平。所述测试取样电路还包括一光电耦合器，光电耦合器的输入端与 取样电阻并联，光电耦合器输出端连接测试取样电路的输出端。所述测试计数器的输出端与一显示器连接，所述显示器接收计数 结果，并将计数结果显示。这个显示器可以设置任何地方。最佳的，所述光电耦合器输出端接一非门电路，再与测试取样电 路的输出端连接。与现有技术相比，本技术的突出贡献是解决了现有保险丝 测试仪无法测试熔断时间小于10ms的快熔性保险丝的问题，填补了 该测试仪器的空白。本技术用常用保险丝测试仪或可控恒流源和本技术的 测试电路就可完成快熔性保险丝的熔断时间测试，其测试精度可高达 lu s,实现了对测试熔断时间小于10ms的快熔性保险丝进行测试的目 的。附图说明图1是本技术一种测试保险丝熔断时间的测试电路的电路示意图2是本技术一种测试保险丝熔断时间的测试电路的测试计 数器示意图3是本技术一种测试保险丝熔断时间的测试电路的测试取 样电路示意图。图中标号说明1测试计数器输入端，2测试计数器，3计数时钟， 4取样电阻，5光电耦合器，6待测保险丝，7测试取样电路，8保险 丝测试仪或可控恒流源，9测试取样电路输出端，ll非门电路。具体实施方式以下结合附图与具体实施方式对本技术作进一步详细描述。如图1至图3所示，设计一种测试保险丝熔断时间的测试电路， 所述测试电路的使用基于待测保险丝6和保险丝测试仪或可控恒流源 8,尤其是，所述测试电路包括一测试取样电路7,所述测试取样电路7内含一取样电阻4;一测试计数器2，一计数时钟3，所述取样电阻4的一端与保险丝测试仪或可控恒流源8的电流正 极相接，取样电阻4的另一端与待测保险丝6相接，待测保险丝6的 另一端与保险丝测试仪或可控恒流源8的电流负极相接，测试取样电 路输出端9与测试计数器输入端1相接，计数时钟3的脉冲输出端与 测试计数器2的输入端相接。所述测试取样电路输出端9的输出信号可以是高电平或是低电平。所述测试取样电路7还包括一光电耦合器5，光电耦合器5的输入端与取样电阻4并联，光电耦合器5输出端连接测试取样电路输出 端9。如图2所示，所述测试计数器2的输出端与一显示器连接，所述显示器接收计数结果，并将计数结果显示。最佳的，如图3所示，所述光电耦合器5输出端接一非门电路11， 再与测试取样电路输出端9连接。一般地，人们按照待测保险丝6的额定电流值的2倍，4倍，6 倍来测量待测保险丝6的熔断时间，电流越大，熔断时间越短。如图3所示，在本技术的最佳实施例中，如果待测保险丝6 的额定电流值为2A，取样电阻4如果选用].Q ,保险丝测试仪或可控恒 流源8输出2A电流，那么在取样电阻4上有2V的电压降，上负下正。这个2V的电压降已经能够点亮光电耦合器5中的光电二极管， 合理选择光电二极管的限流电阻R2,在电流2 ~ 6A时，使取样电阻4 上有2-6V的电压降时，光电二极管都可以工作在正常的工作状态。这样的选择是有效的，因为光电二极管有很宽的工作电流范围， 在这个工作电流范围内，光电二极管都可以瞬间导通，所以不管按待 测保险丝6的额定电流值的2倍，4倍，6倍来测量待测保险丝6的熔 断时间，限流电阻R2都可以适应工作需要。限流电阻R2还可设计为可调电阻，其阻值大小与保险丝测试仪或可控恒流源8输出电流相关。 '在图2所示的测试计数器2中，测试取样电路输出端9在保险丝测试仪或可控恒流源8的电流开始输出时，输出一个计数触发脉冲的 上升沿到测试计数器2的测试计数器输入端1，当待测保险丝6熔断 时，这个计数触发脉冲结東，对应图2中的计数触发脉冲下降沿。在测试计数器2内，当计数触发脉冲的上升沿来到时，测试计数 器2打开计数时钟3的脉冲输出端与测试计数器2连接的输入通道， 测试计数器2开始计数，如果测试计数器2每个时钟脉冲周期是1 P s， 那么在计数触发脉冲下降沿停止计数，计数结果有多少个脉冲，就是多少微秒。如图2所示，所述测试计数器2的输出端连接显示器，这个显示 器可以设置在任何地方。例如，在另一个实施例中，可以使测试计数器2本身有显示器。例如，在再一个实施例中，可以使测试计数器2连接独立显示器。例如，在另一个特殊的实施方式中，所述测试计数器2的输出端 与保险丝测试仪或可控恒流源8相接，利用保险丝测试仪或可控恒流 源8的显示器，显示测试结果。最佳的，所述光电耦合器5输出端接一非门电路11，再与测试取 样电路7的输出端9连接。这样在测试计数器2方面，计数触发脉冲的开始就是上升沿，计 数脉冲的结束就是下降沿。当然，所述测试取样电路输出端9的输出信号为高电平或是低电 平均可，现有技术均可以随意变换这个电平，来进行控制。本技术所做过的一个实施例是利用常用的ST-FU3001型智能 保险丝测试仪作为本技术的保险丝测试仪或可控恒流源8,然后 与本技术一种测试保险丝熔断时间的测试电路联接。具体的过程是当保险丝测试仪8加上工作电流时，工作电流同 时也流经取样电阻4，该取样电阻选取的电阻值很小，不影响待测保 险丝6的工作电流和工作电压。当取样电阻4有工作电流流过时， 一个电压降在取样电阻4两端 产生，它使光电耦合器5工作，光电耦合器5的输出端置低电平，经 非门电路11置高电平后输出，即在测试取样电路输出端9输出一高电 平，将此高电平接到测试计数器输入端1,测试计数器2打开计数时 钟3的时钟脉冲计数器，开始计数。当待测保险丝6熔断时，工作电流停止，取样电阻4上的工作电 流也停止，测试取样电路输出端9将输出一低电平，此低电平接到测试计数器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试保险丝熔断时间的测试电路，基于待测保险丝和保险丝测试仪或可控恒流源，其特征在于，所述测试电路包括：　一测试取样电路，所述测试取样电路内含一取样电阻；　一测试计数器，　一计数时钟，　所述取样电阻的一端与保险丝测 试仪或可控恒流源的电流正极相接，取样电阻的另一端与待测保险丝相接，待测保险丝的另一端与保险丝测试仪或可控恒流源的电流负极相接，测试取样电路的输出端与测试计数器的输入端相接，计数时钟的脉冲输出端与测试计数器的输入端相接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙元鹏，李建辉，陈保青，
申请(专利权)人：深圳市振华微电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]