触控面板及触碰点的侦测方法技术

本发明专利技术提供了一种触控面板及触碰点的侦测方法，其中，触控面板包括至少一触控侦测列以及触碰点侦测模组。触控侦测列则包括Ｎ个第一触控侦测单元，其中Ｎ为正整数。各第一触控侦测单元依据被碰触的面积，来传送第一电容变化值。触碰点侦测模组依照第一触控侦测单元的排列顺序，使两个相邻的第一触控侦测单元传送的第一电容变化值进行差值运算，并藉以获得第一电容变化顺序分布。触碰点侦测模组并依据第一电容变化顺序分布来计算获得触控面板上的至少一个的第一触碰点数及第一触碰点的坐标。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触控面板，且特别涉及一种触控面板及触控点的侦测方法。
技术介绍
随着电子技术的日益精进，消费者对于电子产品的品值及功能上的要求也相形增 加。而为了使消费者针对这些电子产品的使用更容易上手，以吸引消费者的喜爱，许多人性 化的人机接口分别被提出。在多个不同种类的人机接口中，最常见的就是所谓的触控面板。触控面板是个可 直接接收触头(无论是手指或胶笔尖等)等输入信号的装置，当使用者的手指接触到触控 面板时，面板上的触控感应器回传相对应产生的电器信号，并利用这个触控信号来获知使 用者在触控面板上所做的相对应的动作为何。在现有的电容式触控面板中，都是利用其上的触控单元所传送的电容变化值来直 接侦测出触碰点的数目及其坐标的。但是，在实际的应用环境中，总是充满了很多的噪声的 影响。因此，在现有的触控面板中，为了降低环境中的噪声总是需要增加很多复杂的电路装 置，无形中增加了许多的成本。另外，由于使用者按压触控面板的力道并不会相等，这种因 为不同使用者所产生的差异在现有的触控面板中并不容易被考量进去。因此，现有的触控 面板在侦测触控点的数量及其坐标时，常出现许多的误差。
技术实现思路
本专利技术提供一种触控面板，用以精确侦测出触碰点的数目，并定位出触碰点的位置。本专利技术另提供一种触控面板的触控点侦测方法，用以精确侦测出触碰点的数目， 并定位出触碰点的位置。本专利技术提供一种触控面板，包括至少一触控侦测列以及触碰点侦测模组。触控侦 测列则包括N个第一触控侦测单元，其中N为正整数。各第一触控侦测单元依据被碰触的 面积，来传送第一电容变化值。触碰点侦测模组耦接第一触控侦测单元，并依照第一触控 侦测单元的排列顺序，使两个相邻的第一触控侦测单元传送的第一电容变化值进行差值运 算，并藉以获得第一电容变化顺序分布。触碰点侦测模组并依据第一电容变化顺序分布来 计算获得该触控面板上的至少一个的第一触碰点数及第一触碰点的坐标。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据第一触控侦测单元的排列顺 序，使第i个第一触控侦测单元传送的第一电容变化值减去第i+ι个第一触控侦测单元传 送的第一电容变化值以进行差值运算，并使第i个第一触控侦测单元传送的第一电容变化 值减去第i-1个第一触控侦测单元传送的第一电容变化值以进行差值运算，其中i为偶数。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据第一触控侦测单元的排列顺 序，使第i个第一触控侦测单元传送的第一电容变化值减去第i+ι个第一触控侦测单元传 送的第一电容变化值以进行差值运算，并使第i个第一触控侦测单元传送的第一电容变化5值减去第i-Ι个第一触控侦测单元传送的第一电容变化值以进行差值运算，其中i为奇数。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据第一触控侦测单元的排列顺 序，使第i个第一触控侦测单元传送的第一电容变化值减去第i+ι个第一触控侦测单元传 送的第一电容变化值以进行该差值运算，其中i为正整数。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据差值运算以获得多数个符号 结果及多数个绝对差值。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组还依据比较各绝对差值与阀值的 比较结果来决定是否记录各绝对差值及对应的各符号结果至第一电容变化顺序分布。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据第一电容变化顺序分布中出 现的符号结果来获得第一触碰点数。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据第一电容变化顺序分布中连 续的绝对差值来计算，以获得第一触碰点的坐标。在本专利技术的一实施例中，上述的触控面板还包括至少一触控侦测行。触控侦测行 耦接触碰点侦测模组，其中，触控侦测行包括M个第二触控侦测单元，各第二触控侦测单元 依据被碰触的面积，来传送第二电容变化值，其中M为正整数。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组还依照第二触控侦测单元的排列 顺序，使两个相邻的第二触控侦测单元传送的第二电容变化值进行差值运算，以获得第二 电容变化顺序分布。触碰点侦测模组并依据第二电容变化顺序分布来计算获得触控面板上 的第二触碰点数及第二触碰点的坐标。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组还依据比较各绝对差值与阀值的 比较结果来决定是否记录各绝对差值及对应的各符号结果至第二电容变化顺序分布。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据第二电容变化顺序分布中出 现连续符号结果的次数来获得第二触碰点数。在本专利技术的一实施例中，上述的触碰点侦测模组依据第二电容变化顺序分布中连 续的绝对差值来计算，以获得第二触碰点的坐标。本专利技术另提供一种触控面板的触控点侦测方法，包括首先，提供多个第一触控侦 测单元以排列成至少一触控侦测列。接着，提供触碰点侦测模组来依照第一触控侦测单元 的排列顺序，针对两个相邻的第一触控侦测单元所传送的多个第一电容变化值进行差值运 算，并藉以获得第一电容变化顺序分布。最后，提供触碰点侦测模组来依据第一电容变化顺 序分布来计算获得触控面板上的至少一第一触碰点数及第一触碰点的坐标。基于上述，本专利技术利用依序侦测同一触控侦测列或同一触控侦测行中的相邻的触 控侦测单元所传送的电容变化值来进行差值运算，并利用差值运算中所获得的符号结果的 分布状况来判断触碰点的个数及触碰点的坐标。此外，本专利技术还利用差值运算所产生的绝 对差值来补偿所计算出的触碰点的坐标，使触碰点的坐标更能正确的被标示出来。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详 细说明如下。附图说明图IA为本专利技术的一实施例的触控面板100的示意图。图IB为本专利技术实施例的触控面板100的另一实施方式。图2为本专利技术的另一实施例的触控面板200的示意图。图3为本专利技术的一实施例的触控面板的触控点侦测方法的流程图。主要元件符号说明100、200:触控面板110:触控侦测列120,230 触碰点侦测模组160 触碰点231 238 差值运算器211 215、221 225 轴线111 115、2211 2214 触控侦测单元S310 S330 触控点侦测方法的步骤具体实施例方式首先，请参照图1A，图IA为本专利技术的一实施例的触控面板100的示意图。触控面 板100包括触控侦测列110以及触碰点侦测模组120，且触控侦测列110中包括多个的触控 侦测单元111 115。其中，各触控侦测单元都会依据其所被触碰的面积大小，来传送出相 对应的电容变化值。触碰点侦测模组120与触控侦测列110相耦接，当触碰点侦测模组120要进行触 控侦测列110上的触碰点的侦测时，触碰点侦测模组120会依照触控侦测单元111 115的 排列顺序，来使两个相邻的触控侦测单元传送的电容变化值进行差值运算。换句话说，触碰 点侦测模组120可以依据如图1所绘示的由左至右的顺序，先使触控侦测单元111、112所 传送的电容变化值来进行差值运算。接着，再使触控侦测单元112、113所传送的电容变化 值来进行差值运算。依此类推，直至所有的触控侦测单元111 115中两相邻的触控侦测 单元所传送的电容变化值都进行过差值运算才结束。当然，触碰点侦测模组120也可以改变另一个顺序由如图1所绘示的由右至左的 顺序，先使触控侦测单元115、114所传送的电容变化值来进行差值运算。接着，再使触本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控面板，包括：至少一触控侦测列，所述触控侦测列包括：Ｎ个第一触控侦测单元，各所述第一触控侦测单元依据被碰触的面积，来传送一第一电容变化值，其中Ｎ为正整数；以及一触碰点侦测模组，耦接所述多个第一触控侦测单元，依照所述Ｎ个第一触控侦测单元的排列顺序，使两个相邻的第一触控侦测单元传送的所述多个第一电容变化值进行一差值运算，以获得一第一电容变化顺序分布，所述触碰点侦测模组并依据所述第一电容变化顺序分布来计算获得所述触控面板上的至少一第一触碰点数及所述第一触碰点的坐标。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴仓志，
申请(专利权)人：联阳半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]