液晶显示装置的阵列基板制造方法及图纸

一种液晶显示装置的阵列基板，包括：基板、形成在所述基板上的多条信号线，以及形成在所述基板上的多条与所述信号线交叉排列的短路棒，所述各条信号线与至少两条短路棒连接。所述液晶显示装置的阵列基板可以降低因短路棒缺陷而在电性测试时检测出信号线缺陷的发生率，因而提高了检测阵列基板的有效性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示
，特别涉及液晶显示装置的阵列基板。
技术介绍
平板显示器，例如液晶显示装置(LCD)由于具备轻薄、省电、无辐射等优点而 逐渐取代阴极射线管(CRT)显示器，成为显示器发展的主流趋势。通常，液晶显示装置包括用于显示画面的液晶显示面板和用于向所述液晶显示 面板提供驱动信号的驱动电路模块，所述液晶显示面板通常包括阵列基板和滤色片基 板，它们彼此粘接在一起并通过液晶间隙(CELLGAP)彼此间隔开，而液晶材料注入到 所述薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板之间的CELLGAP中。液晶显示装置的阵列基板包括玻璃基板，形成在所述玻璃基板上的多条扫 描线和多条数据线，由扫描线和数据线的相互交叉而限定出的多个像素区域，设置在 相应的每个像素区域中的像素电极，和与每个像素电极连接的薄膜晶体管(ThinFilm Transistor, TFT)；其中，多条扫描线以固定的间隔彼此分开并沿着第一方向延伸，而多 条数据线以固定的间隔彼此分开并且沿着基本上垂直于第一方向的第二方向延伸；所述 薄膜晶体管能够响应提供给相应的每条扫描线的信号并将来自数据线的信号发送给对应 的每个像素电极。在液晶显示装置的制造过程中，为了节省成本及有效的控制良率，在向液晶显 示面板上安装驱动电路模块之前，需要对阵列基板进行电性测试(CellVisualTest)，以检 出不能正常工作的阵列基板，从而在后续工艺前及时的排除不良产品，以此来节约生产 成本。目前的一种阵列基板的检测方法是用若干短路棒(Shorting Bar)分别将各信号线 (数据线或扫描线)短路连接在一起，再通过所述短路棒向薄膜晶体管阵列输入测试信 号，测试完成后用激光将短路棒与各信号线的连接切断，以便进行下一步的驱动电路模 块组装。短路棒的另一作用是避免静电放电(Electrostatic Discharge，ESD)对TFT器件 的破坏。图1显示了现有的短路棒与信号线连接的一种结构，数据线1005-1、1005-2、 1005-3分别表示红色信号(R)数据线、绿色信号(G)数据线、蓝色信号(B)数据线。短 路棒与数据线交叉排列，短路棒和数据线位于不同的电路层，可以通过过孔连接，具体 来说，短路棒的过孔与数据线的过孔通过连接金属连接，使短路棒1001、1002、1003分 别与数据线1005-1、1005-2、1005-3短路连接，例如，短路棒1001的过孔1000-1与数 据线1005-1的过孔1001-2通过连接金属1006连接，使短路棒1001与数据线1005-1短 路连接，连接金属一般为氧化铟锡(ITO)或者氧化铟锌(IZO)。可视化测试端子(visual test pad) 1007-1、1007-2、1007-3 分别与短路棒 1001、1002、1003 相连。类似地，短路 棒还可以与扫描线短路连接。通过给可视化测试端子(Visual TestPad) 1007-1、1007-2、 1007-3加上电测信号(例如电压)，就能进行电性测试。整个图1的结构表面被一层或者两层透明的绝缘层覆盖(图中未示出)，过孔处除外，绝缘层一般为氮化硅或氧化硅。然而，在制造工艺过程中，例如阵列工艺取放玻璃、制盒工工艺的取向膜涂布 以及取向膜摩擦工序，由于静电过大容易将过孔处的ITO或者IZO烧毁，例如图2的短 路棒与信号线交叠处的电子显微镜照片所示，这种过孔缺陷不仅使短路棒的防静电功能 失效，而且导致电测信号不能通过信号线输入TFT器件中，电性测试不能进行，就会认 为阵列基板出现不良现象，例如信号线的线缺陷，由于在实际测试时无法确定是因过孔 损坏造成的线缺陷，为避免阵列基板留到下一制造流程可能导致材料的浪费，因此产品 会作报废处理。同样地，在短路棒出现线缺陷，例如短路棒的一处或者多处断路而导致电性测 试不能进行，也会认为阵列基板出现不良现象，例如一条或多条信号线的线缺陷，产品 必须报废。因此，对于上述短路棒与信号线的连接结构，在短路棒出现缺陷(过孔缺陷或 线缺陷)时，不能有效地检测阵列基板是否合格，并且，产品会因短路棒的缺陷而报 废。
技术实现思路
本专利技术解决现有技术由于短路棒缺陷而导致不能有效检测阵列基板是否合格的 问题。为解决上述问题，本专利技术实施方式提供一种液晶显示装置的阵列基板，包括 基板，形成在所述基板上的多条信号线，以及形成在所述基板上的多条与所述信号线交 叉排列的短路棒，所述各条信号线与至少两条短路棒连接。可选的，所述信号线为扫描线或数据线。可选的，所述信号线和短路棒通过信号线的过孔和短路棒的至少一个过孔相 连。可选的，所述液晶显示装置的阵列基板还包括连接金属，连接所述信号线的 过孔和短路棒的过孔。可选的，所述连接金属在同一数据线方向上连接所述信号线的过孔和短路棒的 过孔。可选的，所述连接金属在同一短路棒线方向上连接所述信号线的过孔和短路棒 的过孔。可选的，所述连接金属为氧化铟锡或氧化铟锌。可选的，所述信号线和短路棒通过信号线的过孔相连。可选的，所述液晶显示装置的阵列基板还包括与所述短路棒相连的测试端子。可选的，所述测试端子的数量与短路棒的数量相同。可选的，所述测试端子的数量小于短路棒的数量。可选的，所述短路棒的数量为测试端子的数量的N倍，其中N为连接同一数据 线的短路棒的数量。可选的，所述短路棒为氧化铟锡或氧化铟锌。可选的，所述数据线在数据线和短路棒的交叉位置的线宽小于所述数据线在其他位置的线宽。可选的，所述短路棒在数据线和短路棒的交叉位置的线宽小于所述短路棒在其他位置的线宽。上述技术方案将各条信号线分别与至少两条短路棒相连，与现有技术将各条信 号线分别与一条短路棒相连，会因短路棒的过孔缺陷或线缺陷而在电性测试时检测出一 条或多条信号线的一处或多处线缺陷相比，上述技术方案可以降低因短路棒缺陷(过孔 损伤或短路棒断线)而在电性测试时检测出信号线缺陷的发生率，因而提高了检测阵列 基板的有效性。并且，相比于现有技术，上述技术方案增加了过孔的数量，因此当出现一定量 的静电荷时，平均分配到每个过孔的电荷量相应地减小，这样可以降低由于ITO过孔烧 坏而出现亮线的风险。附图说明图1是现有阵列基板的短路棒与信号线连接的一种结构示意图；图2是现有的短路棒与数据线交叠处过孔烧毁的电子显微镜照片；图3是本专利技术实施例1阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图4是图3所示结构中短路棒出现过孔缺陷的示意图；图5是图3所示结构中短路棒出现一处断路的示意图；图6是图3所示结构中短路棒出现两处断路的示意图；图7是本专利技术实施例2阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图8是本专利技术实施例3阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图9是本专利技术实施例4阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图10是本专利技术实施例的阵列基板的截面结构示意图；图11是本专利技术实施例5阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图12是本专利技术实施例6阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图13是本专利技术实施例7阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图14是本专利技术实施例8阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图；图15是本专利技术实施例9阵列基板的短路棒与数据线连接的结构示意图。具体实施例方式本专利技术实施方式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示装置的阵列基板，包括基板和形成在所述基板上的多条信号线，其特征在于，还包括：形成在所述基板上的多条与所述信号线交叉排列的短路棒，所述各条信号线与至少两条短路棒连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄贤军，袁剑峰，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]