新型零点检测电路制造技术

一种新型的零点检测电路，其中稳压管（Ｚ１）、电容（Ｃ１）及第一电阻（Ｒ１）并联，此并联支路的阳极侧连接零点检测绕组（Ｌ１）的上端，此并联支路的阴极侧连接第二电阻（Ｒ２）的一端；零点检测绕组（Ｌ１）下端连接集成电路（ＩＣ）的参考地（ＧＮＤ）；第二电阻（Ｒ２）另一端连接集成电路（ＩＣ）的零点检测（ＺＣＤ）端；二极管（Ｄ１）的阴极连接在集成电路（ＩＣ）的零点检测（ＺＣＤ）端，二极管（Ｄ１）的阳极连接在集成电路（ＩＣ）的参考地（ＧＮＤ）。本实用新型专利技术提高了零点检测的有效电压，以此解决功率因数校正（ＰＦＣ）效果不佳的问题。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及临界模式的功率因数校正(PFC)器中，电感器绕组电压的零点检测的 方法。
技术介绍
临界模式的功率因数校正(PFC)器，可以实现输入电流波形和输入电压同步的效 果，提高电能利用率。这种临界模式的功率因数校正(PFC)电路具有较高的效率，但是需要 一个零点检测电路。传统的方法参考图一，现有技术的连接方式为电阻(R2) —端连接集成电路的零 点检测端，另一端连接零点检测绕组的上端；零点检测绕组的下端则连接到集成电路的参 考地(GND)。上述电路的原理是利用零点检测的绕组的电磁感应来实现零点检测，当此绕组的 有效电压下降到集成电路零点检测的阀值电压后，触发集成电路的其它部分工作。此种方 式的缺陷是，当功率因数校正(PFC)电路的输入电压与输出电压接近时，零点检测的绕组 的电磁感应的有效电压会降低到集成电路的阀值以下，使集成电路(IC)无法正常工作，从 而影响了功率因数校正(PFC)的效果。
技术实现思路
本专利技术的目的是，解决当功率因数校正(PFC)电路的输入电压与输出电压接近 时，功率因数校正(PFC)效果不佳的问题。为了实现上述目的，本专利技术包括稳压管(Z1)、电容(Cl)及第一电阻(Rl)并联，此并联支路的阳极侧连接零点检测 绕组(Li)的上端，此并联支路的阴极侧连接第二电阻(R2)的一端；零点检测绕组(Li)的下端连接集成电路(IC)的参考地(GND)；第二电阻(R2)另一端连接集成电路(IC)的零点检测(ZCD)端；二极管(Dl)的阴极连接在集成电路(IC)的零点检测(ZCD)端，二极管(Dl)的阳 极连接在集成电路(IC)的参考地(GND)；附图说明图1现有技术图2本专利技术第一实施例电路图图3第一实施例状态1图4第一实施例状态2图5本专利技术第二实施例电路图具体实施方式图2本专利技术第一实施例，其原理为当零点检测绕组(Li)的电压极性为下正上负时，参考图3 第一实施例状态1 ；电流通过二极管(Dl)的阳极到阴极，流经第二电阻(R2)，给电容(Cl)充电，充电 的极性为左正右负，当零点检测绕组(Li)的电压极性改变为上正下负时，参考图4:第一实施例状态2 ；零点检测绕组(Li)的电压与电容(Cl)的电压相加，上述两个电压的和共同作用 到集成电路的零点检测(ZCD)端，相当于提高了零点检测的有效电压，由此解决当功率因 数校正(PFC)电路的输入电压与输出电压接近时，功率因数校正(PFC)效果不佳的问题。与电容(Cl)并联的稳压管(Zl)作用为限制电容(Cl)两端的电压，与电容(Cl) 并联的第一电阻(Rl)作用是给电容(Cl)放电。图5 本专利技术第二实施例电路图当集成电路内部设有稳压二极管连接在零点检测(Z⑶)端与参考地(GND)端时， 可以由第一实施例简化为本实施例，即当集成电路内部设有稳压二极管连接在零点检测 (ZCD)端与参考地(GND)端时，二极管(Dl)及稳压管(Zl)可省略。本实施例的工作原理与本专利技术第一实施例相同。以上仅是对某个特定实施例具体介绍，并非对本专利技术做任何形式的限制，任何熟 悉本专业的技术人员，均可利用上述方法及内容做出多种更改、变换，仍属本专利技术技术方案 的范围内。权利要求一种新型的零点检测电路，其特征是，稳压管(Z1)、电容(C1)及第一电阻(R1)并联，此并联支路的阳极侧连接零点检测绕组(L1)的上端，此并联支路的阴极侧连接第二电阻(R2)的一端；零点检测绕组(L1)下端连接集成电路(IC)的参考地(GND)；第二电阻(R2)另一端连接集成电路(IC)的零点检测(ZCD)端；二极管(D1)的阴极连接在集成电路(IC)的零点检测(ZCD)端，二极管(D1)的阳极连接在集成电路(IC)的参考地(GND)。专利摘要一种新型的零点检测电路，其中稳压管(Z1)、电容(C1)及第一电阻(R1)并联，此并联支路的阳极侧连接零点检测绕组(L1)的上端，此并联支路的阴极侧连接第二电阻(R2)的一端；零点检测绕组(L1)下端连接集成电路(IC)的参考地(GND)；第二电阻(R2)另一端连接集成电路(IC)的零点检测(ZCD)端；二极管(D1)的阴极连接在集成电路(IC)的零点检测(ZCD)端，二极管(D1)的阳极连接在集成电路(IC)的参考地(GND)。本技术提高了零点检测的有效电压，以此解决功率因数校正(PFC)效果不佳的问题。文档编号G01R19/175GK201654117SQ20102030056公开日2010年11月24日 申请日期2010年1月13日 优先权日2010年1月13日专利技术者马丽娟 申请人:马丽娟本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型的零点检测电路，其特征是，稳压管（Ｚ１）、电容（Ｃ１）及第一电阻（Ｒ１）并联，此并联支路的阳极侧连接零点检测绕组（Ｌ１）的上端，此并联支路的阴极侧连接第二电阻（Ｒ２）的一端；零点检测绕组（Ｌ１）下端连接集成电路（ＩＣ）的参考地（ＧＮＤ）；第二电阻（Ｒ２）另一端连接集成电路（ＩＣ）的零点检测（ＺＣＤ）端；二极管（Ｄ１）的阴极连接在集成电路（ＩＣ）的零点检测（ＺＣＤ）端，二极管（Ｄ１）的阳极连接在集成电路（ＩＣ）的参考地（ＧＮＤ）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马丽娟，
申请(专利权)人：马丽娟，
类型：实用新型
国别省市：11[]