衰减片测量仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种衰减片测量仪。衰减片测量仪主要由千分表，支架，把手，螺钉，底座，本体，软套，测头，测柱，保持套，弹性体，垫柱构成。千分表装入本体，软套套入千分表测量头，测头装入软套；垫柱装入本体，测柱装入垫柱，弹性体套入测柱，保持套套入测柱。使用时把衰减片放入保持套，测头下压至衰减片就可测厚度值，本实用新型专利技术有效地解决了用测微计测量不方便的问题，同时该测量仪提高了测量精度。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种机械式小直径厚度测量装置，具体涉及一种衰减片测量仪。
技术介绍
目前测量衰减片厚度通用的办法是用螺旋测微计，数显千分尺等用人手来旋转测 量，对测量人员技术素质要求较高。而且千分尺精度是±0. OOlmm，平行度误差是O. 001mm。 某些品种的衰减片厚度尺寸误差要求小于O. 001mm。用通用的办法很难判定衰减片合格否。 只能靠最终测光学指标判定。
技术实现思路
本技术的目的为了为解决用通用办法测量衰减片很难判定合格否而提供一 种衰减片测量仪。本技术在千分表测量头前加装一个浮动测头，可测平面而且浮动测 头平面自行贴平零件平面。 本技术解决其技术问题所采用的技术方案是衰减片测量仪，由千分表、支 架、把手、螺钉、底座、本体、软套、测头、测柱、保持套、弹性体、垫柱、支架和把手构成。千分 表装入本体，软套套入千分表测量头，测头装入软套与测量头的钢球接触；垫柱装入本体，测柱压入垫柱，弹性体套入测柱，保持套套入测柱。使用时把衰减片放入保持套，测头下压 至衰减片就可测厚度值。市面上购买的千分表一般误差0. 003 ii m，需要精调至0. 001 ii m以 内，用块规作基准校核。 本技术的有益效果是有效地解决用测微计使用不方便，同时该测量仪提高了 测量精度。附图说明图1是本技术的外形图。 图2是衰减片测量仪局部剖视图。 图中l-千分表，2-支架，3-把手，4-螺钉，5-底座，6-本体，7-软套，8-测头， 9-测柱，10-保持套，11-弹性体，12-垫柱。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术进一步说明 如图1、图2所示，衰减片测量仪由千分表1、支架2、把手3、螺钉4、底座5、本体6、 软套7、测头8、测柱9、保持套10、弹性体11和垫柱12构成，千分表1装入本体6，千分表1 的测量头套入软套7，测头8套入软套7并与千分表1测量头的钢球接触，本体6与底座5 固定，测柱9压入垫柱12，垫柱12装入本体6，弹性体11套入测柱9，保持套IO套入测柱 9，支架2由螺钉4装在本体6上，把手3套入支架2上与千分表1尾部相联，压住把手3被 测衰减片放入保持套中，轻放把手3测头8下降至零件就可测量了。权利要求衰减片测量仪，其特征是衰减片测量仪，由千分表、支架、把手、螺钉、底座、本体、软套、测头、测柱、保持套、弹性体和垫柱构成；千分表装入本体，软套套入千分表测量头，测头装入软套与千分表的测量头的钢球接触，垫柱装入本体，测柱装入垫柱，弹性体套入测柱，保持套套入测柱。专利摘要本技术涉及一种衰减片测量仪。衰减片测量仪主要由千分表，支架，把手，螺钉，底座，本体，软套，测头，测柱，保持套，弹性体，垫柱构成。千分表装入本体，软套套入千分表测量头，测头装入软套；垫柱装入本体，测柱装入垫柱，弹性体套入测柱，保持套套入测柱。使用时把衰减片放入保持套，测头下压至衰减片就可测厚度值，本技术有效地解决了用测微计测量不方便的问题，同时该测量仪提高了测量精度。文档编号G01B5/06GK201463807SQ20092008346公开日2010年5月12日 申请日期2009年1月19日 优先权日2009年1月19日专利技术者徐建国 申请人:徐建国本文档来自技高网...

【技术保护点】
衰减片测量仪，其特征是：衰减片测量仪，由千分表、支架、把手、螺钉、底座、本体、软套、测头、测柱、保持套、弹性体和垫柱构成；千分表装入本体，软套套入千分表测量头，测头装入软套与千分表的测量头的钢球接触，垫柱装入本体，测柱装入垫柱，弹性体套入测柱，保持套套入测柱。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐建国，
申请(专利权)人：徐建国，
类型：实用新型
国别省市：83[中国|武汉]