光盘厚度测量仪制造技术

一种光盘厚度测量仪，包括的测量底座、测量臂和精密高度表，其特征在于：所述测量底座呈Ｌ形，光盘中心固定柱与所述测量底座水平端的端部固定连接，测量臂的一端置于所述测量底座垂直端的水平向孔中，并可前后移动调节，所述测量臂另一端与垂直向的精密高度表固定连接。本实用新型专利技术优点是：结构简单、操作非常方便，测量员只需将待测量光盘中心孔套在固定柱上，然后即可通过旋转光盘或前后移动调节所述测量臂，测量光盘的各个点位的厚度，测得的厚度读数直接显示在精密高度表的数字显示屏上，操作读数都很方便，工作效率高。本实用新型专利技术纯机械结构，成本低、维护保养简单，而且坚固耐用。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种厚度测量工具，具体涉及用于光盘厚度测量
技术介绍
在计算机科技曰新月异，不断进步的时代，许多计算机中的资料 在使用过程中或作业完成时，均需要将资料做存储，而存储计算机的资料的方式，以前均使用1.44"或者3.5"的磁盘片来存储，但是磁 盘片有不易保存，容量有限的缺陷。较大容量的应用程序软件就需要 许多张磁盘来分开存储，成本高，存放的磁盘片制作要求高，成本大。 由于光盘(又称为碟片)可存入大量的资料或者多媒体内容，同时保 存也相对容易，所以近年来光盘生产业，用光盘来存储资料获得了较 大的发展。由于光盘是一张直径约为120mm的薄圆盘，光盘厚度的均一性， 将影响到光驱或其他播放器能不能以正常的速度读取光盘并播放。为 了保证光盘的质量，所以质量检查时有必要精确测量光盘各点位的厚 度。现有的测量方法是使用游标卡尺手工测量光盘的厚度。该方法有 以下不足(l)用游标卡尺只能测量光盘最外圏的厚度，不能测量光 盘内部区域和中部区域的厚度，不能考察整个光盘厚度的均一性。(2)由于光盘是一张薄圆盘，游标卡尺的卡口测量光盘碟片时，与光盘表 面接触点过多，不能精确表示光盘某个点的厚度，同时也不能测量光3盘厚度的变化趋势。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单、坚固耐用、成本低 的光盘厚度测量仪，可以方便快速精确测量各种光盘的厚度，并且可 以随意调节测量点位。为了达到上述目的，采用的技术方案是 一种光盘的厚度测量仪， 包括测量底座、测量臂和精密高度表，其特征在于所述测量底座呈 L形，光盘中心孔固定柱与所述测量底座水平端的端部固定连接，测 量臂的一端置于所述测量底座垂直端的水平向孔中，并可前后移动调 节，所述测量臂的另一端与垂直向的精密高度表固定连接。本技术光盘厚度测量仪具有下列优点结构简单、操作非常 方便，测量员只需将待测量光盘中心孔套在固定柱上，然后即可通过 旋转光盘和前后移动调节所述测量臂，测量各个点位的光盘厚度；测 得的厚度读数直接显示在精密高度表的数字显示屏上，操作读数都很 方便，工作效率高。附图说明图1为本技术使用状态结构示意图2为图1的A向结构示意图。图中，l一光盘；2—光盘中心孔固定柱；3—测量底座；4—孔； 5—测量臂；6 —高度表。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术作进一步说明。由图1、 2可见， 一种光盘的厚度测量仪，包括测量底座3、测量臂5和精密高度表6，其特征在于所述测量底座3呈L形，光盘 中心孔固定柱2与所述测量底座3水平端的端部固定连接，测量臂5 的一端置于所述测量底座3垂直端的水平向孔4中，并可前后移动调 节，所述测量臂5的另一端与垂直向的精密高度表6固定连接。使用时测试人员打开精密高度表6电源开关，确认精密高度表 6的探头轻压在测量底座3的上表面上后，按零设置零位。将待测厚 度的光盘1套在光盘中心孔固定柱2上，精密高度表6的探头压在光 盘1表面，这时读得的精密高度表6的数值即为在精密高度表6探头 处光盘l的厚度值。然后，可通过旋转光盘l，测量在高度表6的探 头所在半径上，该光盘l各个点位的厚度值。或通过调节测量臂5伸 出长度，测量不同半径上光盘l的厚度值。本光盘厚度测量仪也适用于不同类型的光盘，只需调节测量臂5 的长度即可。本技术为不锈钢材质经精密加工而成，纯机械结构，成本低、 维护保养简单，而且坚固耐用、不易损坏。质量监控人员可方便快速 确认光盘的厚度分布，从而可根据测量结果迅速调节设备的运行状 态。权利要求1.光盘厚度测量仪，包括测量底座(3)、测量臂(5)和精密高度表(6)，其特征在于所述测量底座(3)呈L形，光盘中心孔固定柱(2)与所述测量底座(3)水平端的端部固定连接，所述测量臂(5)的一端置于所述测量底座(3)垂直端的水平向孔(4)中，并可前后移动调节，所述测量臂(5)的另一端与垂直向的精密高度表(6)固定连接。专利摘要一种光盘厚度测量仪，包括的测量底座、测量臂和精密高度表，其特征在于所述测量底座呈L形，光盘中心固定柱与所述测量底座水平端的端部固定连接，测量臂的一端置于所述测量底座垂直端的水平向孔中，并可前后移动调节，所述测量臂另一端与垂直向的精密高度表固定连接。本技术优点是结构简单、操作非常方便，测量员只需将待测量光盘中心孔套在固定柱上，然后即可通过旋转光盘或前后移动调节所述测量臂，测量光盘的各个点位的厚度，测得的厚度读数直接显示在精密高度表的数字显示屏上，操作读数都很方便，工作效率高。本技术纯机械结构，成本低、维护保养简单，而且坚固耐用。文档编号G01B7/06GK201413120SQ20092007329公开日2010年2月24日 申请日期2009年6月2日 优先权日2009年6月2日专利技术者强 丁, 朱磊磊 申请人:上海新索音乐有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
光盘厚度测量仪，包括测量底座（３）、测量臂（５）和精密高度表（６），其特征在于：所述测量底座（３）呈Ｌ形，光盘中心孔固定柱（２）与所述测量底座（３）水平端的端部固定连接，所述测量臂（５）的一端置于所述测量底座（３）垂直端的水平向孔（４）中，并可前后移动调节，所述测量臂（５）的另一端与垂直向的精密高度表（６）固定连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：丁强，朱磊磊，
申请(专利权)人：上海新索音乐有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[]