风扇测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种风扇测试治具，用以承载多个风扇。风扇测试治具包括多个承载板及多个直立板。承载板适于承载至少一风扇，且各该承载板分别位于不同的高度。各直立板连接于相邻的二承载板之间，而维持承载板之间的相对高度。各直立板具有至少一开口，且各风扇由对应的直立板的开口所暴露。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关于一种测试治具，且特别是有关于一种风扇测试治具。
技术介绍
随着电子产业持续地蓬勃发展，各式各样的电子产品使人们的生活更加便利。以计算机为例，随着其工作速度(工作频率)不断地向上攀升，容易造成电子元件(如中央处理器、硬盘、显示卡…等)温度过高。因此，小型风扇成为极为普遍的散热器而被广泛地使用着，但所有的风扇装置于电子元件之前，必须经过相关的测试，方能保证每一个风扇应用于电子产品时能保持良好的散热效果，并可维持电子产品工作的正常性。 —般而言，在对风扇进行测试时，会同时将多个风扇置于恒温恒湿的环境中，并依供货商的规格书来进行长时间温、湿度的转速、风量或寿命测试。为了避免各风扇在测试时受到其它风扇的影响，风扇测试治具通常会具有阻隔于各风扇之间的挡风板。然而，挡风板的存在会对风扇附近的气流造成影响，而使测试结果的准确性降低。换言之，较理想的测试环境应为各风扇前后皆无挡风板、风扇或其它对象的存在。
技术实现思路
本技术提供一种风扇测试治具，可使风扇测试获得较准确的测试结果。 本技术提出一种风扇测试治具，用以承载多个风扇。风扇测试治具包括多个 承载板及多个直立板。承载板适于承载至少一风扇，且各承载板分别位于不同的高度。各 直立板连接于相邻的二承载板之间，而维持承载板之间的相对高度。各直立板具有至少一 开口 ，且各风扇由对应的直立板的开口所暴露。 在本技术的一实施例中，上述的承载板实质上垂直直立板。 在本技术的一实施例中，上述的各风扇的一送风方向实质上垂直对应的直立板。 在本技术的一实施例中，上述的各直立板的一高度大于各风扇的一高度。 在本技术的一实施例中，上述的各承载板的一宽度大于各风扇的一宽度。 在本技术的一实施例中，上述的承载板及直立板构成一阶梯状结构。 在本技术的一实施例中，上述的风扇测试治具更包括两侧板，实质上相互平行且分别配置于阶梯状结构的两侧，其中各承载板的两端分别连接于两侧板，且各直立板的两端分别连接于两侧板。 在本技术的一实施例中，上述的各直立板具有一开口。 在本技术的一实施例中，上述的各直立板具有多个开口。 在本技术的一实施例中，上述的直立板包括多个第一直立板以及多个第二直 立板，各第一直立板具有一开口 ，且各第二直立板具有多个开口 。 基于上述，本技术的风扇测试治具的承载板分别位于不同高度，而可避免位 于相邻承载板上的风扇相互干扰。此外，各风扇被直立板的开口暴露，以避免风扇附近的气流被直立板阻挡而受到影响，故可提升测试结果的准确性。 为让本技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附 图式作详细说明如下。附图说明图1为本技术一实施例的风扇测试治具的前视图。 图2为图1的风扇测试治具的部分结构的侧视图。 图3为本技术另一实施例的风扇测试治具的前视图。 图4为本技术又一实施例的风扇测试治具的前视图。具体实施方式图1为本技术一实施例的风扇测试治具的前视图。图2为图1的风扇测试治 具的部分结构的侧视图。请参考图1及图2，本实施例的风扇测试治具100用以承载多个风 扇50(绘示为九个)。风扇测试治具100包括多个承载板110(绘示为三个)及多个直立板 120(绘示为三个)。承载板110分别位于不同的高度。各直立板120具有一开口 122且连 接于相邻的二承载板IIO之间，而维持承载板IIO之间的相对高度，其中各承载板110用以 承载至少一风扇50 (绘示为三个)，且各风扇50被对应的直立板120的开口 122暴露出。 当使用者同时对多个风扇50进行测试时，可将风扇50以如图1及图2所绘示的 方式配置于风扇测试治具100上。如此一来，当各风扇50开始运转送风时，前后相邻的风 扇50因位于不同的高度而不会相互干扰。此外，为了避免直立板120的存在影响风扇50 附近的气流，各直立板120具有开口 122，用以提供空气流动的空间与路径。换言之，各风 扇50的前后皆不会被物体(如其它风扇或直立板)阻挡，故当风扇50同时送风时可维持 正常的空气流动，以确保测试结果的准确性。 值得注意的是，图1及图2所绘示的各构件的数量仅为举例。本技术对于承 载板110及直立板120的数量，及各承载板110适于承载的风扇50的数量并不加以限制。 可依使用者的实际需求(例如受测试的风扇的总数量及测试环境的空间限制…等)来决定 各构件的数量。 请参考图2，在本实施例中，各承载板110为水平配置且各直立板120为垂直配置， 而使承载板110适于承载风扇50且实质上垂直直立板120。各直立板120的一高度Hl大 于各风扇50的一高度H2，且各承载板110的一宽度W1大于各风扇50的一宽度W2，以具有 足够的空间承载风扇50。此外，各风扇50的一送风方向D实质上垂直对应的直立板110， 而使位于同一承载板110上的风扇50同时送风时不会相互干扰，且使风扇50附近的空气 可顺畅地透过开口 122流动。 请参考图1及图2，在本实施例中，承载板110及直立板120构成一阶梯状结构60。 风扇测试治具100更包括两侧板130(仅绘示于图1)。两侧板130实质上相互平行且分别 配置于阶梯状结构60的两侧。各承载板110的两端分别连接于两侧板130，且各直立板120 的两端分别连接于两侧板130，而可使风扇测试治具100具有较高的结构强度。 图3为本技术另一实施例的风扇测试治具的前视图。请参考图3，本实施例的 风扇测试治具100'与图1的风扇测试治具100的不同处在于，各直立板120'具有多个开口 122'，且风扇50分别对应于开口 122'而由对应的开口 122'所暴露。图4为本实用新 型又一实施例的风扇测试治具的前视图。请参考图4，本实施例的风扇测试治具IOO与图 1的风扇测试治具100的不同处在于，各直立板120具有一开口 122，且直立板120'具有多 个开口 122'。部分风扇50分别对应于开口 122'而由对应的开口 122'所暴露，且其它风 扇50是由开口 122所暴露。值得注意的是，本技术并不对各直立板的开口数量、形状 或大小加以限制，在其它未绘示的实施例中，开口可具有任何适当的数量、形状或大小。 综上所述，本技术的风扇测试治具的承载板分别位于不同高度，而可避免位 于相邻承载板上的风扇相互干扰。各风扇被直立板的开口暴露，以避免风扇附近的气流被 直立板阻挡而受到影响，故可提升测试结果的准确性。此外，承载板及直立板的数量，及各 承载板适于承载的风扇的数量皆可依使用者需求而适当地配置，以使风扇测试治具适用于 各种不同的测试环境。 虽然本技术已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本技术，任何所属
中具有通常知识者，在不脱离本技术的精神和范围内，当可作些许的更动与 润饰，故本技术的保护范围当以权利要求所界定的为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种风扇测试治具，其特征在于，用以承载多个风扇，该风扇测试治具包括：　　多个承载板，适于承载至少一风扇，且各该承载板分别位于不同的高度；以及　　多个直立板，各该直立板连接于相邻的二该承载板之间，而维持该些承载板之间的相对高度，其中各该直立板具有至少一开口，且各该风扇由对应的该直立板的该开口所暴露。

【技术特征摘要】
一种风扇测试治具，其特征在于，用以承载多个风扇，该风扇测试治具包括多个承载板，适于承载至少一风扇，且各该承载板分别位于不同的高度；以及多个直立板，各该直立板连接于相邻的二该承载板之间，而维持该些承载板之间的相对高度，其中各该直立板具有至少一开口，且各该风扇由对应的该直立板的该开口所暴露。2. 如权利要求1所述的风扇测试治具板。3. 如权利要求1所述的风扇测试治具 直该对应的直立板。4. 如权利要求1所述的风扇测试治具 扇的一高度。5. 如权利要求1所述的风扇测试治具 扇的一宽度。6. 如权利要求1所述的风扇测试治具 阶梯状结构。7. 如权利要求6所述的风扇测试治具，其特征在于，更包括两侧板，实质上相互平行且 分别配置于...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔华涛，陈志丰，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]