一种超声波探伤专用试块制造技术

本实用新型专利技术涉及一种超声波探伤专用试块，涉及超声波探伤技术领域。形状为柱状体，其横截面是由两个等直径的双半圆二弧面相对重叠而构成的双弧形；柱状体上设有由两个同轴孔形成的标准反射体，孔轴线和柱状体的中心线平行；两个同轴孔形成的标准反射体的中心通过双弧形的公共弦线，且通过端面双弧形中以二圆心连线为斜边的直角三角形的直角顶点；两个同轴孔为平底孔。本实用新型专利技术解决了中、小直径管道或弯头内壁纵向裂纹超声波探伤时，曲面超声波斜探头前沿尺寸、Ｋ值及分辨力参数等参数进行测量问题，且测试方法简单实用，试块携带方便。主要用于测试曲面超声波斜探头的参数测量。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及超声波探伤

技术介绍
目前已知的各种超声波探伤标准及其规定的标准试块或对比试块，均仅适用于平面超声波斜探头的参数测量。如GB11345-89《钢焊缝手工 超声波探伤方法和探伤结果分级》标准中规定的CSK- I B、 RB—1、 RB—2、 RB—3试块；DL/T820-2002《电力建设施工及验收技术规范(管道焊接接 头超声波检篇)》标准中的CSK-IB、 RB—3、 SD-III、 SD-IV、 1IW2试块； JB/T4730-2005《承压设备无损检测》标准中的CSK-IA、 CSK-IIA、 CSK-IIIA试块等。而对中、小直径管道或弯头内壁纵向裂纹进行超声波探伤 时，超声波斜探头接触面需修磨为曲面，上述所有试块均无法对曲面探 头的前沿尺寸、K值等参数进行测量。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种超声波探伤专用试块，能够满足曲面超 声波斜探头前沿尺寸、K值等参数的测量，解决了中、小直径管道或弯头 内壁纵向裂纹超声波探伤时，曲面超声波斜探头前沿尺寸、K值等参数的 测量问题，且测试方法简单实用，试块携带方便。本技术的主要技术方案是 一种超声波探伤专用试块，其特征在于其形状为柱状体，其横截面是由两个等直径的双半圆二弧面相对重叠而构成的双弧形；柱状体上设有由两个同轴孔形成的标准反射体，孔 轴线和柱状体的中心线平行；两个同轴孔形成的标准反射体的中心通过 双弧形的公共弦线，且通过端面双弧形中以二圆心连线为斜边的直角三 角形的直角顶点；两个同轴孔为平底孔。所述的端面双弧形中两半圆圆心处设有短线切割标记结构为佳。所述的两个同轴孔为等高孔为佳。本技术的积极效果是与已有技术对比，能够满足曲面超声波斜探头前沿尺寸、K值等参数进行的测量，解决了中、小直径管道或弯头内壁纵向裂纹超声波探伤时，曲面超声波斜探头前沿尺寸、K值及分辨力参数等参数进行测量问题，且测试方法简单实用，试块携带方便。以下结合实施例及附图作详述，但不作为对本技术的限定。附图说明图l是本技术的结构示意图。图2是图1的左视图。图3是图1的俯视图。图l中各标号含义为l为双弧形，2、 3为同轴孔，4为短线切割标记结构。具体实施方式参见图l、图2、图3，该超声波探伤专用试块(属于对比试块)，其特征在于其形状为柱状体，其横截面是由两个等直径的双半圆二弧面相对重叠而构成的双弧形l。柱状体上设有由两个同轴孔2、 3形成的标准反射体，孔轴线和柱状体的中心线平行，两个同轴孔2、 3形成的标准反射体的中心通过双弧形的公共弦线，且通过端面双弧形中以二圆心连线为的直角三角形的直角顶点'；两个同轴孔为平底孔；且在端面双弧形中两半圆圆心处设有短线切割标记结构4，同轴孔(2、 3)为①lX15mm和①3X15mm的两个等高孔。半圆的直径为160mm两个同轴孔2、 3形成的标准反射体均为平底孔，柱状体试块的厚度为30mm。试块正面两半圆圆心处有宽0. 5mm，长5mm短线切割标记，用于测量探头前沿尺寸；。1X15、 孔标准反射体中心位于试块右侧横向中心线和两半圆45。斜线交汇处，用于测量曲面探头的K值及分辨力参数。试块高度为半圆的半径尺寸80mm;两标准反射体均为平底孔，长度为试块厚度的一半15mm。试块宽度为半圆直径Xcos30。 二160cos30。=138mm。权利要求1、一种超声波探伤专用试块，其特征在于其形状为柱状体，其横截面是由两个等直径的双半圆二弧面相对重叠而构成的双弧形(1)；柱状体上设有由两个同轴孔(2、3)形成的标准反射体，孔轴线和柱状体的中心线平行；两个同轴孔(2、3)形成的标准反射体的中心通过双弧形的公共弦线，且通过端面双弧形中以二圆心连线为斜边的直角三角形的直角顶点；两个同轴孔(2、3)为平底孔。2、 根据权利要求l所述的超声波探伤专用试块，其特征在于所述的 端面双弧形中两半圆圆心处设有短线切割标记结构(4)。3、 根据权利要求1或2所述的超声波探伤专用试块，其特征在于所述 的两个同轴孔(2、 3)为等高孔。专利摘要本技术涉及一种超声波探伤专用试块，涉及超声波探伤
形状为柱状体，其横截面是由两个等直径的双半圆二弧面相对重叠而构成的双弧形；柱状体上设有由两个同轴孔形成的标准反射体，孔轴线和柱状体的中心线平行；两个同轴孔形成的标准反射体的中心通过双弧形的公共弦线，且通过端面双弧形中以二圆心连线为斜边的直角三角形的直角顶点；两个同轴孔为平底孔。本技术解决了中、小直径管道或弯头内壁纵向裂纹超声波探伤时，曲面超声波斜探头前沿尺寸、K值及分辨力参数等参数进行测量问题，且测试方法简单实用，试块携带方便。主要用于测试曲面超声波斜探头的参数测量。文档编号G01N29/04GK201429590SQ20092010390公开日2010年3月24日 申请日期2009年7月28日 优先权日2009年7月28日专利技术者李树军, 梁红方, 牛晓光, 薛永波, 郝晓军, 郝红卫 申请人:河北省电力研究院本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超声波探伤专用试块，其特征在于其形状为柱状体，其横截面是由两个等直径的双半圆二弧面相对重叠而构成的双弧形（１）；柱状体上设有由两个同轴孔（２、３）形成的标准反射体，孔轴线和柱状体的中心线平行；两个同轴孔（２、３）形成的标准反射体的中心通过双弧形的公共弦线，且通过端面双弧形中以二圆心连线为斜边的直角三角形的直角顶点；两个同轴孔（２、３）为平底孔。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李树军，牛晓光，郝红卫，郝晓军，薛永波，梁红方，
申请(专利权)人：河北省电力研究院，
类型：实用新型
国别省市：13[中国|河北]