用于隔离片上系统的扫描路径的一部分的设备和方法技术方案

本发明专利技术包括用于动态隔离片上系统的扫描路径的一部分的设备和方法。在一个实施例中，设备包括扫描路径和控制逻辑。扫描路径包括至少第一等级级别和具有至少一个组件的第二等级级别，其中第一等级级别包括多个组件。第二等级级别适于被选定和取消选定从而使第二等级级别激活或禁用。控制逻辑适于传播传播过滤对第二等级级别的至少一个组件的至少一个控制信号的施加，以控制第二等级级别内的数据传播独立于第一等级级别内的数据传播。在一个实施例中，当取消选定第二等级级别时，控制逻辑禁止当在第一等级级别内传播数据时在第二等级级别内传播数据。在一个实施例中，当数据通过第一等级级别继续传播时，第二等级级别可以用来进行独立且并行的测试。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电子领域，更具体而言，涉及印刷电路板、片上系统和系统的测试。
技术介绍
联合测试行动组(JTAG)是指用于使用边界扫描来测试印刷电路板的测试访问端 口的IEEE 1149标准。自动测试生成(ATG)工具使用JTAG来测试印刷电路板。现在正在 对工具JTAG (IJTAG)标准化(称为IEEE P1687标准)，以克服现有的与从电路板级JTAG到 芯片级JTAG的改变相关联的JTAG局限性。IJTAG建议在使用动态等级单元(例如称为选 择工具位(SIB)单元的单元)的数据寄存器内包括动态等级路径。使用动态等级路径允许 根据需要来接通或隔离扫描路径的各个部分。因此，通过使用诸如SIB等单元而使能的动 态等级路径是很有价值的测试资源，因为扫描路径中的元件数量对于确定测试时间而言是 很重要的，小心地使用等级可以用来减少测试时间。如所建议的IEEE P1687标准中描述的那样，扫描链是线性扫描链，插入扫描链的 每个SIB单元被插入以将等级引入扫描链。因此，由于扫描链是线性链，线性扫描链中包括 的每个SIB单元必须经由扫描链而被线性访问以激活扫描链中的等级，因此扫描链的长度 直接决定了修改和实现活动等级所需的访问时间量。虽然在扫描链仅包括几个单元的示例 中，该限制可能显得无关紧要，但是在扫描链可能包括几百甚至几千个单元的实际系统中， 这可能成为一个关键限制。虽然可以通过使用测试过程的精确调度来减小该问题的影响， 但是简单地通过使用测试过程的调度并不能完全避免该问题。
技术实现思路
通过用于动态隔离片上系统的扫描路径部分的设备及相关联的方法，处理了现有 技术的各种不足。在一个实施例中，一种设备包括扫描路径和控制逻辑。扫描路径包括至少第一等 级级别和具有至少一个组件的第二等级级别，其中第一等级级别包括多个组件。第二等级 级别适用于被选定和取消选定，从而使第二等级级别是激活的或禁用的。控制逻辑适用于 过滤对第二等级级别的所述至少一个组件的至少一个控制信号的施加，以控制第二等级级 别内的数据传播独立于第一等级级别内的数据传播。在一个实施例中，当第二等级级别被 取消选定时，控制逻辑禁止当在在第一等级级别内传播数据时在第二等级级别内传播数 据。在一个实施例中，当数据继续传播通过第一等级级别时，第二等级级别可以用来进行独 立、并行的测试。在一个实施例中，一种测试具有包括第一等级级别和第二等级级别的扫描路径的 片上系统的方法包括选定扫描路径的第二等级级别以将第二等级级别加入扫描路径；通 过第一等级级别的至少一部分将输入比特流的至少一个输入值传播至第二等级级别中；取 消选定扫描路径的第二等级级别以从扫描路径中隔离第二等级级别；通过第二等级级别利 用至少一个输入值以产生至少一个输出值来执行测试，其中执行测试独立于通过第一等级级别传播附加输入值；重新选定扫描路径的第二等级级别以将第二等级级别加入扫描路 径，并通过第一等级级别的至少一部分将至少一个输出值传播到第二等级级别之外。附图说明通过结合附图考虑以下的详细说明，可以容易理解本专利技术的教导，其中图1图示了测试环境的高级框图；图2图示了适于在图1的测试环境中使用的示例性片上系统的高级框图；图3图示了示例性片上系统的高级框图，该片上系统具有包括由等级使能组件控 制的两个等级级别的等级扫描路径；图4图示了示例性片上系统的高级框图，该片上系统具有包括由等级使能组件控 制的两个等级级别的等级扫描路径和过滤控制逻辑；图5A-5E图示了使用过滤控制逻辑过滤图4中的片上系统的控制信号的示例；图6图示了包括测试系统和片上系统的测试系统，所述片上系统包括等级扫描路 径和适用于通过等级扫描路径测试的工具核；图7图示了一种示例性方法，测试系统通过该方法测试具有包括第一等级级别和 第二等级级别的扫描路径的片上系统；和图8图示了适用于执行本文描述的功能的通用计算机的高级框图。为了便于理解，尽可能使用相同的附图标记来指示各附图中共有的相同部分。具体实施例方式提供了能够利用控制逻辑隔离扫描路径的不同等级层的设备和方法。在具有包括 第一等级级别和第二等级级别的扫描路径的片上系统中，其中第二等级级别可以被动态选 定和取消选定(激活/禁用第二等级级别从而使它可以被动态加入激活的扫描路径或从激 活的扫描路径中去除)，过滤控制逻辑能够过滤控制信号，以控制独立于第一等级级别内的 数据传播的第二等级级别内的数据传播。过滤控制逻辑过滤通常施加到扫描路径的所有组件上的控制信号，从而修改向第 二等级级别的组件的控制信号的施加(而不修改向第一等级级别的组件的控制信号的施 加)。以这种方式，当取消选定第二等级级别时，禁止在通过第一等级级别继续传播比特流 值时在第二等级级别内传播比特流值，。因此，当取消选定第二等级级别时，第二等级级别 被从扫描路径中有效隔离(即完全被禁用，从而没有数据在第二等级级别内传播)。虽然本文主要参考具有两个等级级别的扫描路径进行图示和描述，但本文描述的 不同的数据传播控制功能可以应用于具有任意数量的等级级别的扫描路径，其中任意数量 等级级别可以以任意配置布置(例如使用嵌套、平行布置等，以及以上项目的各种组合)。图1图示了测试环境的高级框图。具体地，测试环境100包括片上系统(S-O-C) 110 和测试系统(TS) 120。TS 120测试S-O-C 110 (例如测试S_0_C 110的单个组件(包括组 件的功能)、S-O-C 110上的组件之间的互连、S-O-C 110的系统级功能等，以及以上项目 的各种组合)。TS 120利用包括多个等级级别的系统扫描路径测试S-O-C 110。如图1所 示，TS 120使用包括输入端口 115JTDI)和输出端口 115。(TD0)的测试访问接口 115来与 S-O-C 110 相接口。4在一个实施例中，在根据所建议的IEEE P1678标准的环境中，接口 115可以实现 为IEEE 1149. 1标准所定义的测试访问端口(TAP)。在一个这样的实施例中，虽然本文主要 使用TDI/TD0端口进行图示和描述，但是接口 115可以包括其他控制端口，例如TCK端口、 TMS端口、TRST端口等，以及可能需要的其他新控制接口(为了清楚起见，这些端口 /接口 均被省略)。虽然本文主要参考使用IEEE 1149. 1标准所定义的修改版本的TAP实现的接 口进行图示和描述，但是可以以多种其他方式来实现接口 115。TS 120使用测试过程来执行对S-O-C 110的测试。TS 120可以使用一个或多个测 试过程来执行一个或多个测试。测试过程可以用于测试组件的一部分(例如组件的功能、 组件的功能集合、依赖性等)、组件、组件组(例如组件之间的互连、组件间的依赖性等)、一 个或多个系统级功能等，以及以上项目的各种组合。测试过程可以用于可能对片上系统执 行的任何其他类型的测试。TS 120生成对S-O-C 110的测试过程。测试过程规定测试S_0_C 110所需的信 息。针对S-O-C 110的测试过程可以规定对S-O-C 110的描述(包括对S-O-C 110的每个 单个组件的描述，以及S-O-C 110的系统级描述)。测试过程可以规定(要施加到扫描路径 的)输入测试矢量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种片上系统设备，所述设备包括：扫描路径，所述扫描路径包括至少第一等级级别和第二等级级别，第一等级级别包括多个组件，第二等级级别包括至少一个组件，其中利用施加到第一等级级别的组件的至少一个控制信号在第一等级级别内传播数据；和控制逻辑，所述控制逻辑用于过滤对第二等级级别的至少一个组件的至少一个控制信号的施加，以控制第二等级级别内的数据传播独立于第一等级级别内的数据传播。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：塔潘乔蒂查克拉伯蒂，姜辰焕，苏勒什戈雅尔，米歇尔波多兰，布拉德福吉恩范特卢勒，
申请(专利权)人：阿尔卡特朗讯美国公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]