光盘再现光量设定方法及光盘装置制造方法及图纸

一种光盘再现光量设定方法及光盘装置。在设定为了再现光盘而照射的光量的方法中，使用测试用再现光量对光盘上记录了信息的区域（Ｓ１４、Ｓ２４）进行再现，求出该再现信号的质量值达到预定值为止的再现时间或再现次数（Ｓ２０、Ｓ３０），使用这些数值进行运算，由此设定在正式再现时使用的再现光量（Ｓ３２）。该方法还能够检测记录标记大幅恶化的状态，能够避免恶化到不能再现记录标记的状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于设定对光盘进行再现的再现光量的方法及光盘、使 用该方法的光盘装置，本专利技术将因再现光造成的光盘上的信息的恶化量 抑制在预定的范围内。
技术介绍
关于再现光盘时的再现光量存在以下所述相反的要求。从再现信号 质量的角度考虑，利用稍大一些的再现光量进行再现能够降低噪声，比 较有利。另一方面，从光盘对再现光量的承受能力及半导体激光器的寿 命的角度考虑，利用稍小一些的再现光量进行再现比较有利。针对这种 相反的要求，期望按照能够确保最低限度的再现信号质量、不会产生光 盘的记录标记的特性恶化、使光盘使用时间尽可能长的方式来设定再现 光量进行再现。在以往的光盘装置中，在执行反复对同一轨道进行再现的反复再现 时，该轨道将受到较大的受热损伤，该部分的记录信息即记录标记恶化， 使得再现信号质量恶化。作为其改善对策，在反复再现时检测再现信号 振幅，以修正再现信号振幅变化的形式来控制再现光量(例如，参照专 利文献l)。专利文献l:日本特开2001—34944号公报(第l一6页，图9) 在上述以往的光盘装置中，只检测再现信号振幅的变化，所以不能 检测记录标记大幅恶化的状态，有时将恶化成记录标记不能再现的状态。 并且，如上述专利文献1记述的那样，为了显示光盘上的静态图像，使 用将要再现的用户区域检测再现信号振幅的变化，对于用户而言，有可 能恶化成必要的记录标记不能再现的状态。
技术实现思路
本专利技术提供一种光盘再现光量设定方法，用于设定为了再现光盘而 照射的光量，该方法的特征在于，使用测试用再现光量测试再现光盘上 记录了信息的区域，求出该测试再现信号的质量值达到预定值为止的再 现时间或再现次数，使用这些数值求出保证预定的再现时间或再现次数 的最大再现光量，把所求出的最大光量设定为正式再现用的再现光量。根据本专利技术，能够防止光盘恶化到光盘上的记录信息即记录标记不 能再现的状态。附图说明图1是表示本专利技术的实施方式1的光盘装置的主要部分的简图。 图2是表示使用图1所示的光盘装置进行的再现光量设定用的动作 序列的一例的流程图。图3是基于实测的质量特性图，表示使用图1所示的合适的再现光量进行长时间再现时的再现时间与抖动值的关系。图4是基于实测的质量特性图，表示使用比图1所示的合适的再现 光量充分大的再现光量进行长时间再现时的再现时间与抖动值的关系。图5是基于实测的质量特性图，表示把图1所示的再现光量设为参 数时的再现时间与抖动值的关系。图6是表示图5所示的再现光量的倒数与抖动值达到允许值时的再 现时间的自然对数值的关系的阿仑尼乌斯图。图7是表示根据测试再现的结果求出在正式再现时使用的再现光量 Lg的方法的图。图8是表示使用图1所示的光盘装置进行的再现光量设定用的动作 序列的其他示例的流程图。图9是表示在实施方式2中使用的光盘上的测试记录区域的简图。图10是表示施加给在实施方式3中使用的光源2的驱动电流波形、 与从光源2射出的光束3的发光量的关系的电流一发光量关系图。图11是表示图10中的光源2的发光量的简图。图12 (a)和(b)是与图IO相同的电流一发光量关系图，是表示相 对于驱动电流的中心值C的变化的发光量的变化的图。图13 (a)和(b)是与图IO相同的电流一发光量关系图，是表示相 对于驱动电流的振幅M的变化的发光量的变化的图。标号说明l光盘；2光源；3光束；4准直透镜；5棱镜；6物镜；7聚光光斑; 聚光透镜；9光检测器；IO放大电路部；11信号处理部；12控制运算部; 13光源控制部；20可记录式光盘；21用户数据区域；22管理区域；23 盘测试区域。具体实施例方式图1是表示本专利技术的实施方式1的光盘装置的主要部分的简图，图 2是表示使用图1所示的光盘装置进行的再现光量设定用的动作序列的一 例的流程图，图3是表示使用合适的再现光量进行长时间再现时，抖动 值相对再现时间的变化的图，图4是表示使用比合适的再现光量大很多 的再现光量进行长时间再现时，抖动值相对再现时间的变化的图，图5 是表示把包括图3和图4在内的再现光量设为参数时，抖动值相对再现 时间的变化的图，图6是表示图5所示的再现光量的倒数(1/L)、与抖 动值达到设定允许值Js时的再现时间(再现次数)的倒数(1/N)的自然 对数值的关系的阿仑尼乌斯图。以下，参照附图说明本专利技术的实施方式1。在图1中，光盘1由未 图示的电机驱动着旋转。从光源2射出的光束3通过准直透镜4被转换 为平行光束，并被棱镜5反射，通过物镜6作为聚光光斑7聚光在光盘1 上。在光盘1反射后的光束在所述光路上逆向传播，在透射物镜6、棱镜 5、聚光透镜8后，由光检测器9接收。由光检测器9接收到的光束被光 检测器9光电转换，经由放大电路部IO，由信号处理部11检测再现信号 质量的指标即抖动值。所检测到的抖动值被发送给控制运算部12，再发送给图像处理部14 进行图像和语音等处理。8控制运算部12进行光盘装置整体的控制和运算处理，例如由已编程 的计算机构成。本实施方式的光盘再现光量设定方法用于设定为了再现光盘而照射 的光量，使用测试用再现光量对光盘上记录了信息的区域反复地进行测 试再现，求出该测试再现信号的质量值达到预定值为止的该区域的反复再现时间或再现次数(N)，使用这些数值求出保证预定的再现时间或再现次数的最大再现光量，把所求出的最大光量设定为正式再现用的再现 光量。再现时间与再现次数成比例，在下面的说明中，再现时间和再 现次数被用作相同意义。参照图2说明设定再现光量时的处理。控制运算部12从图像处理部14接收到针对光盘的再现指示后 (SIO)，向光源控制部13发出以第1预定光量进行发光的指示(S12)。 即，设定第l测试用再现光量，并发出以该光量进行发光的指示。控制运算部12还控制光检测器9、信号处理部11等，使得以该光量 (第1预定光量)，按照上面所述对第1预定区域(测试用区域)进行反 复再现并检测抖动值的处理(S14、 S16、 S18)。即，将所述第1预定区 域再现预定次数(例如M次)(S14)，检测抖动值(S16),进行检测到 的抖动值是否达到预定值(是否恶化到预定的最低再现信号质量)的判 定(S18)，如果没有达到预定值，则反复执行再现以后的处理(S14、 S16、 S18)。如果在步骤S18中达到了预定值，则求出并存储截止到此时的再现 次数(从第一次在步骤S14中进行再现时起的再现次数，以下有时称为第 1再现次数。如果每当进行一次步骤S14时就按照上面所述进行M次相 同部位的再现，则该第1再现次数等于对步骤S14、 S16、 S18的反复次 数乘以M得到的数值。)(S20)。另外，也可以使M的值不固定，而在每次反复执行步骤S14时设为 不同的值。例如，可以设为随着抖动值增大并接近预定值，使M的值变 小。然后，控制运算部12向光源控制部13发出改变再现光量的指示(S22)，并进行相同的动作(S24、 S26、 S28)。 g卩，控制运算部12向光源控制部13发出以第2预定光量(不同于上述的第1预定光量)发光的指示(S22)。 S卩，设定第2测试用再现光量，并发出以该光量发光的指示。控制运算部12还控制光检测器9、信号处理部11等，使得以该光量(第2预定光量)，按照上面所述对第2预定区域(测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘再现光量设定方法，用于设定为了再现光盘而照射的光量，该方法的特征在于，　使用测试用再现光量对光盘上记录了信息的区域进行测试再现，　求出该测试再现信号的质量值达到预定值为止的再现时间或再现次数，　使用这些数值求出保证 预定的再现时间或再现次数的最大再现光量，把所求出的最大再现光量设定为正式再现用的再现光量。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2007-5-16 130032/2007;JP 2007-9-14 238807/20071.一种光盘再现光量设定方法，用于设定为了再现光盘而照射的光量，该方法的特征在于，使用测试用再现光量对光盘上记录了信息的区域进行测试再现，求出该测试再现信号的质量值达到预定值为止的再现时间或再现次数，使用这些数值求出保证预定的再现时间或再现次数的最大再现光量，把所求出的最大再现光量设定为正式再现用的再现光量。2，根据权利要求1所述的光盘再现光量设定方法，其特征在于，把 所述测试用再现光量设为比在正式再现时使用的再现光量大的值。3. 根据权利要求1或2所述的光盘再现光量设定方法，其特征在于， 使用抖动值作为所述测试再现信号的质量值。4. 根据权利要求1 3中任一项所述的光盘再现光量设定方法，其 特征在于，使用多个所述测试用再现光量进行再现，使用该测试用再现 光量的倒数、与所述再现信号的质量值达到预定值为止的再现时间或再 现次数的倒数的自然对数值的关系式，进行所述再现光量的设定。5. 根据权利要求1 4中任一项所述的光盘再现光量设定方法，其 特征在于，使用阿仑尼乌斯图求出所述最大再现光量，所述阿仑尼乌斯 图以所述测试用再现光量的倒数为横轴，以所述测试再现信号的质量值 达到所述预定值为止的再现时间或再现次数的倒数的自然对数值为纵 轴。6. 根据权利要求1 3中任一项所述的光盘再现光量设定方法，其 特征在于，使用一个所述测试用再现光量进行再现，使用该测试用再现 光量的倒数、与所述再现信号的质量值达到预定值为止的再现时间或再 现次数的倒数的自然对数值的关系式，进行所述再现光量的设定。7. 根据权利要求6所述的光盘再现光量设定方法，其特征在于，使 用阿仑尼乌斯图求出所述最大再现光量，所述阿仑尼乌斯图以所述测试 用再现光量的倒数为橫轴，以所述测试再现信号的质量值达到所述预定值为止的再现时间或再现次数的倒数的自然对数值为纵轴，并且斜率固 定。8. 根据权利要求1 7中任一项所述的光盘再现光量设定方法，其 特征在于，把进行所述测试用再现的区域设为除了用户使用的区域之外 的区域。9. 根据权利要求1 8中任一项所述的光盘再现光量设定方法，其 特征在于，把进行所述测试用再现的区域设为用于对可记录式光盘确定 记录光量的区域。10. 根据权利要求1 9中任一项所述的光盘再现光量设定方法，其 特征在于，当所述再现信号的质量值在预定的再现时间或预定的再现次 数之内没有达到所述预定值时，设定预先确定的再现光量。11. 根据权利要求1 10中任一项所述的光盘再现光量设定方法，其 特征在于，所述测试用再现光在直流成分中叠加了高频成分，通过改变 该高频成分的中心值或振幅值来设定再现光量。12. 根据权利要求1 10中任一项所述的光盘再现光量设定方法， 其特征在于，所述测试用再现光在直流成分中叠加了高频成分，根据光 盘的制造商信息选择性地改变该高频成分的中心值...

【专利技术属性】
技术研发人员：竹下伸夫，的崎俊哉，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]