包括可去除测试点部分的电路板制造技术

本实用新型专利技术涉及包括可去除测试点部分的电路板。本实用新型专利技术的电路板包括至少一个功能部分和附装至所述至少一个功能部分的至少一个可去除测试点部分。本实用新型专利技术还提供可配置的测试电路板，其可被调整以适应不同尺寸和电气测量要求的电路板。本实用新型专利技术解决了现有技术不能满足对既能将最终使用功能利用率最大化又能提供用于进行测试的测试点的电路板的需要的问题。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及包括可去除测试点部分的电i^1,同时涉^J!J于测试电g的 可配置的测试平台。背景絲电路tl,诸如印刷电膝敗(PCB)、逻辑板、印刷布爽tl、蚀刻的布^fe^ 其它已知的板可用于才A^支撑并电连接电^L件(例如，絲电路、电阻器、 晶体管和电容器)。电路板典型的利用一层或多层非导电^i^UM言号传导i^彌 造。该信号传导i^圣可以存在于一层或多层或每层非导电狄中。有Bt^皮称作 、部件或引线的信号传导层可以;Ur属导电材料(例如，铜或金)或者光 学传导材料(例如，光纤)。电气元件可以通itit孔结构或表面安f^构而被安装到所述电g上，并 JLititW电连接至一个或多^M言号传导i^圣。当所述电气^L件被物^kJL电 连接至所i^l时，可以进行测试以检测例如信号传导i^f圣和电气元件的相互连 接、正确的元件安^^^ft、电磁兼容、静电#^文和其它适当的测^#^。这'测试i可被电连接至所述信号传导^^圣并-因此可,以:连接其上的探针 提供测^t据。附图1示出了贿技术电躲100的简化方框图的顶视图，该 电械100 **有功能部分110和布置于功能部分110之中的测逸氛120 (如阴 影区^/斤示)。在如附图1中所示那样的传统电綠中的测试点的^泉在于它们 在电i^Ji占据了宝贵的"不动产(realestate)，，，因此限制了所錄的最^ff吏 用功能利用率，该利用^不是因为所述测试节点的存在nMf被利用。也，议 说，测试点占据了应当被电VL件更好船'J用的不动产。结果，当必须进行测试时，测试存、限制了所錄的缩放(例如，小型化)和元件密度。因此，所需 要的是既能既将最^ff吏用功能利用率最大化又食fe^供用于进4亍测试的测逸泉的 电械。用于在电5^Lh进行测试的测试平台是已知的。例如， 一种已知的测"^ 器可以包^i十^WMt的探针，该探针可从一个测仗泉移向另一个测试点。然 而，这样的测试平台可能需要复杂和昂贵的机器人^^将所述测^^4H多动到 电i^Ji的^Mi置。另夕卜，这样的机器人^^可能需要用于每块被测试的电 g的复杂的控制软件。不像基于机器人^^的测试平台那样柔性的其它的测 试平台包括定制的专门设计用于测^定电路板的测试平台。这样的平台可以 包括顶部测试面^^底部测试面板，其上均包緣 絲刚的与所述电i^Ji的 测试点相接触的探针。这些定制的平台的铁存、在于高昂的制絲本、有P艮的寿 #不能测试多于一种的电*。因此，所需要的是能够测试多种不同类型电 i^l的通用的测试平台。实用 内容本技术提供了一种既将最刷M功能利用率最大化，又^^供用于进 行测试的测试点的电膝仗。在本技术的电路仗中，最^ff吏用功能利用率被 最大化并且提供测武氛，该电i^^緣本技术的原理被构造为包括功能部 #至少一个可去除的测试节点部分。ftpit里所定义的，所述功能部分是电路板可用于(例如在消费电气装置中的)暴iH吏用用途的一部分。例如，所述功能部分可以包括实iMiffM用i^斤必须的电^L件(例如，处理器、賴器、电池、电絲等)。所述可去f^测试节点部分包拾测试节点，所述测试节点电连接至功能部分中的信号传导路径以允ifN如在测试位置对功能部^i行所期望 的测试。在完成了所期望的测^后，所述可去RHP分可以被去除，由此只留 下用于暴iff吏用用途的功能部分。本技术的^^方案包括##本专利技术，提^-种电m，所述电雜包括功能部分；连接至所述功能部顿第"H^的第一可去B^测仗泉部分；和 连接至所述功能部^f笫二侧的第二可去l^测武泉部分。^ffei^，所述第U和所述第二侧为所述功能部分的相对侧。 ^i4^,所絲U和所錄二侧为所述功能部分的相邻侧。^^k ，所^— 和所述第二侧为所述功能部分的相同侧。 ^>，所述第u是非直线的。^i^k ,所錄一可去阶测试点部分包括至少一个测试氛，所述测试点电 连接至位于所述功能部分上的至少一个测试位置。才娥本专利技术，还提^-种电械，所述电械包括 第一共享的可去阶测试吝、部分；由所述第一共享的可去阶测试氛部分麟的多个功能部^;和 i5X^所述电械的第一外侧ii^上的第4享的可去儉测仗泉部分。^，所述第4享的可去除测试点部^i^接至所述多个功能部分中的 至少两个。^i^,还包^iM在所述电^的第二外侧边缘上的第三共享的可去除 测武泉部分。^i^，所^f一共享的可去5HP测试点部分包括第一多个测仗氨，其中 所述第一多个测试点中的第-^分连接至所述多个功能部分中的第一功能部 分，以及其中所述第一多个测试点中的第二部^i^接至所述多个功能部分中的 第1能部分。^i^，所錄4享的可去BHP测试点部分包括第一多个测试点，其中所述第一多个测试点中的笫""^分连接至所述多个功能部分中的第一功能部 分，以及其中所錄一多个测试泉中的第二部^i^接至所述多个功能部分中的 第1能部分。>f^k ，所錄一多个测试点中的至少一个位于所述电躲的顶部、所述 电i^的底部和所述电i^的i^中的一个上。本技术提供了其它的电躲，其包括两个或更多的共享可去B^测试点 部分的功能部分。被共享的可去除测逸氛部分可净M作桥梁，这个桥梁可充当 相互连接的结构，用于使电i^J^a^有多个功能部分。使用共享的可去l^测 试点部分的优点在于其尺寸可被设计处产用于通ii^"的测錄置进行测试 的电路板。例如，因为测试^^置的测试^^针的位U已知的，所以共享的可去 倉测试点部分可以被构絲当^^测^^针时，测錄置的测^^针与位于共享部分上的测试存、对准，本技术提，供了可配置的测试平台，用于连接并测试不同类型和尺寸的电械，尤其是具有侧面安装的测试点的电m。与顶部il^部安装测试泉不同，侧面安装的测说泉位于所錄的i^^上。可配置平台物3SJl是可以配置的 以接受不同尺寸的电*，并且电气上是可以配置的以测试不同类型的电g(例如，具有不同最^fU用途的电械)，由jtb^^-""通用的"测试平台。物理的可配置性能可以^JU具有侧面安装测试点的电*来实现，因为侧面安装测试氛的位置不能以与顶部iU^部安装测试点相同的方式改变。也f议 说，对于^^T给定的具有侧面安装测武泉的电械，许多这样的电i^tl可以被 构it^具有同样的标准。因此，无论电i^l的^JL和WL:W^，侧面安装的测试点的4吏用可以从一块板到下块板##一致。这种一致性为构造测^^针阵列提供稳定的基础，无g的尺寸和最^H吏用用途如何，这种测试探针阵列^T 以与侧面安装的测武存、相"^触。电气的可配置性可以賴测^^针信号选择电路来实现。不同的#这些 板上的测武泉在测试中可能需M定的信号。可配置的测试平台的测试探针的一个或多个P车列在测试探针信号选择电路的指导下可^S&置^^:个测试探针提供所需要的信号。附图说明通體合附图并参考以下的详细描述，本技术上述的和其它的特赋 其性肯^^Mt优点将变得妙清楚，其中相同的附图才科己始^^^目同的部分, 其中附图1示出了贿^t^电m的简要方框图的顶视图； 附图2示出了才緣本技术原3^斤构成的电^的简要方框图的顶视图； 附图3A-图3I示出了才娥本实用鄉原理的不同电條的顶视图； 附图3J示出了才鹏本技术原本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板，其特征在于：所述电路板包括：　功能部分；　连接至所述功能部分的第一侧的第一可去除测试点部分；和　连接至所述功能部分的第二侧的第二可去除测试点部分。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔罗森布拉特，小W布赖森加德纳，阿米尔塞尔希，托尼阿吉哈泽里安，
申请(专利权)人：苹果公司，
类型：实用新型
国别省市：US[美国]