【技术实现步骤摘要】
本申请涉及计算机，尤其涉及一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。
技术介绍
1、对于大规模的芯片，扫描测试是保证芯片良率的一个重要手段。随着制造技术的不断进步和设计技术的发展，芯片复杂性的持续增加，芯片测试功耗也因为爆炸性增长的测试数据量以及测试时间而大幅度增加。
2、影响可测性设计有效性的因素非常复杂，要求设计人员在设计阶段就去思考如何有效地进行低功耗的芯片测试。当前业界常见的做法是在扫描链中通过增加测试点，用测试点开启时钟门控的测试使能端。但是这种做法会控制整模块门控全开启，导致模块翻转率过高，进而导致芯片测试功耗大。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，可以降低测试功耗和缩短芯片测试时间。
2、第一方面，本申请实施例公开了一种测试方法，所述方法包括：
3、对至少一个待控制的时钟门控进行分组，根据所述时钟门控的组数，确定控制链中控制寄存器的数量；所述控制链包含至少一个控制寄存器和解复用器；每个控制寄存器的输出端分别连接所述解复用器的一个选择端，所述解复用器的每个输出端连接一组时钟门控的测试使能端；
4、将所述控制链插入扫描链；所述扫描链中包括至少一个扫描寄存器，所述至少一个扫描寄存器依次串联；
5、根据测试电路中所需的时钟信号，确定待开启的目标时钟门控组；
6、根据所述目标时钟门控组，向所述扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，向所述扫描链的扫描输入端输入测试向
7、可选地，所述根据所述时钟门控的组数，确定控制链中控制寄存器的数量，包括：
8、对所述组数进行以2为底的对数运算，得到第一运算结果；
9、根据所述第一运算结果确定所述控制链中控制寄存器的数量。
10、可选地，所述向所述扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，包括：
11、向所述扫描链的扫描使能端输入高电平的扫描使能信号，以将所述扫描链的工作模式设置为移位模式；
12、在所述扫描链中各个扫描寄存器的工作模式均切换为移位模式的情况下，将所述扫描使能信号切换为低电平，以将所述扫描链的工作模式设置为捕获模式。
13、可选地，所述根据所述目标时钟门控组，向所述扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，向所述扫描链的扫描输入端输入测试向量，以通过所述解复用器输出的使能信号所述目标时钟门控组进行控制，包括：
14、根据所述目标时钟门控组确定目标测试向量；
15、向所述扫描链的扫描使能端输入低电平的扫描使能信号，向所述扫描输入端输入所述目标测试向量，以通过所述解复用器输出的使能信号，将所述目标时钟门控组的测试使能端设置为高电平状态，将所述待控制的时钟门控中的其余目标时钟门控组的测试使能端设置为低电平状态。
16、可选地，所述方法还包括：
17、在所述目标时钟门控组包括全部时钟门控组的情况下，向所述扫描链的扫描使能端输入高电平的扫描使能信号，以通过所述解复用器输出的使能信号，将所述目标时钟门控组的测试使能端均设置为高电平状态。
18、可选地，在所述扫描链的工作模式是移位模式的情况下，所述扫描链中各个扫描寄存器中的数据逐位移动；在所述扫描链的工作模式是捕获模式的情况下，所述扫描链中各个扫描寄存器中的数据保持不变。
19、第二方面，本申请实施例公开了一种测试装置，所述装置包括：
20、至少一个待控制的时钟门控；
21、控制链，包括输入寄存器、至少一个控制寄存器和解复用器；每个控制寄存器的输出端分别连接所述解复用器的一个选择端，所述解复用器的每个输出端连接一组时钟门控的测试使能端；所述控制链和所述扫描链串联；所述控制寄存器的数量根据所述待控制的时钟门控的组数确定；
22、扫描链，包括至少一个扫描寄存器，所述至少一个扫描寄存器依次串联。
23、第三方面，本申请实施例公开了一种电子设备，所述电子设备包括处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；所述存储器用于存放可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行前述的测试方法。
24、第四方面，本申请实施例公开了一种可读存储介质，当所述可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述处理器能够执行前述的测试方法。
25、本申请实施例包括以下优点：
26、本专利技术实施例提供了一种测试方法，通过对至少一个待控制的时钟门控进行分组，根据时钟门控的组数，确定控制链中控制寄存器的数量；控制链包含至少一个控制寄存器和解复用器；每个控制寄存器的输出端分别连接解复用器的一个输入端，解复用器的每个输出端连接一组时钟门控的测试使能端；将控制链插入扫描链；扫描链中包括至少一个扫描寄存器，至少一个扫描寄存器依次串联；根据测试电路中所需的时钟信号，确定待开启的目标时钟门控组；根据目标时钟门控组，向扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，向扫描链的扫描输入端输入测试向量，以通过解复用器输出的使能信号对目标时钟门控组进行控制。本专利技术实施例可以通过分组控制各组时钟门控，降低测试功耗，缩短测试时间。
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1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述时钟门控的组数，确定控制链中控制寄存器的数量，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标时钟门控组，向所述扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，向所述扫描链的扫描输入端输入测试向量，以通过所述解复用器输出的使能信号所述目标时钟门控组进行控制，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述扫描链的工作模式是移位模式的情况下，所述扫描链中各个扫描寄存器中的数据逐位移动；在所述扫描链的工作模式是捕获模式的情况下，所述扫描链中各个扫描寄存器中的数据保持不变。
7.一种测试装置，其特征在于，应用于测试电路，所述测试装置包括：
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述控制链中起始端的使能寄存器的输入端连接所述扫描链中的第
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；所述存储器用于存放可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行如权利要求1至6中任一项所述的测试方法。
10.一种可读存储介质，其特征在于，当所述可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述处理器能够执行如权利要求1至6中任一项所述的测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述时钟门控的组数，确定控制链中控制寄存器的数量，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标时钟门控组，向所述扫描链的扫描使能端输入扫描使能信号，向所述扫描链的扫描输入端输入测试向量，以通过所述解复用器输出的使能信号所述目标时钟门控组进行控制，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述扫描链的工作模式是移位模式的情况下，所述扫描链中各个扫描寄存器中的数据逐位移动；在所述扫描链的工作模式是捕获模式的情况下，所述扫描链中各个扫描寄存器中的数据保持不变。
...【专利技术属性】
技术研发人员：冯瑞宁，何志恒，何伟，唐丹，包云岗，
申请(专利权)人：北京开源芯片研究院，
类型：发明
国别省市：
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