【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及引脚共面检测领域，具体涉及一种集成电路的引脚共面性检测方法及系统。
技术介绍
1、集成电路（integrated circuit，ic）芯片的引脚是芯片内部电路与印刷电路板连接的“桥梁”。在集成电路芯片生产过程中需要进行封装处理，这是为了能够给芯片提供一个稳定可靠的工作环境，避免集成电路受到灰尘、潮湿、静电等外界环境的影响，而集成电路封装流程可能会对集成电路引脚位置产生影响，导致引脚出现不共面现象，从而影响封装质量，故在封装完成后需要对集成电路引脚的共面性进行检测。
2、相关技术中，通常在固定角度的光源下，对集成电路芯片进行机器视觉检测，从而识别出不共面的引脚，但由于集成电路芯片的引脚表面还会存在氧化现象，在固定角度的光源下，氧化引脚和不共面的引脚会表现出较为相似的图像特征，导致现有方法会将存在氧化现象的引脚误认为是不共面的引脚，降低对集成电路芯片引脚共面性检测的准确性。
技术实现思路
1、为了解决在固定角度的光源下，现有方法会将存在氧化现象的引脚误认为是不共面的引脚，降低对集成电路芯片引脚共面性检测的准确性的技术问题，本专利技术的目的在于提供一种集成电路的引脚共面性检测方法及系统，所采用的技术方案具体如下：
2、本专利技术提出了一种集成电路的引脚共面性检测方法，所述方法包括：
3、获取集成电路芯片在光源的不同光照角度下的灰度图像，对每个灰度图像进行阈值分割，获得每个灰度图像的多个引脚区域以及每个引脚区域的亮度特征值；
5、将任意一个最佳光照角度的灰度图像作为目标灰度图像，将目标灰度图像中的任意一个引脚区域作为目标引脚区域，从目标灰度图像中选取出目标引脚区域的对称引脚区域，根据目标引脚区域和所述对称引脚区域之间所述亮度特征值的差异，获得目标引脚区域的亮度异常程度；根据目标引脚区域中的像素点灰度值的分布、目标引脚区域的所述亮度特征值和光源的光照强度，获得目标引脚区域的粗糙程度；根据目标引脚区域的所述亮度异常程度和所述粗糙程度，获得目标引脚区域的不共面显著度；
6、根据不同最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述亮度特征值和各最佳光照角度之间的相关性，以及各最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述不共面显著度，获得集成电路芯片的每个引脚的不共面可能性；
7、基于所述不共面可能性，对集成电路芯片的不共面引脚进行检测。
8、进一步地，所述从所有光照角度中筛选出多个最佳光照角度包括：
9、将任意一个光照角度作为待测光照角度，对待测光照角度的灰度图像中的每个引脚区域的像素点灰度值的离散程度进行分析，获得待测光照角度的灰度图像中的每个引脚区域的亮度混乱度；
10、将待测光照角度的灰度图像中的任意一个引脚区域作为待测引脚区域，将待测引脚区域和相邻的每个引脚区域之间所述亮度混乱度的差值的绝对值，作为待测引脚区域和相邻的每个引脚区域之间的亮度分布差异值；将待测引脚区域和相邻的所有引脚区域之间的所述亮度分布差异值的平均值，作为待测引脚区域的整体分布差异值；
11、将待测引脚区域的所述整体分布差异值和所述亮度混乱度进行综合后并进行负相关映射，获得待测引脚区域的成像质量系数；将待测引脚区域的所述成像质量系数和所述亮度特征值进行综合，获得待测引脚区域的成像质量评估值；
12、将待测光照角度的灰度图像中的所有引脚区域的所述成像质量评估值的平均值进行归一化处理，获得待测光照角度的成像质量指标；
13、将所述成像质量指标大于预设指标阈值的光照角度，作为待选光照角度，将最长连续的多个待选光照角度，作为最佳光照角度。
14、进一步地，所述选取出目标引脚区域的对称引脚区域包括：
15、在目标灰度图像中，从除目标引脚区域之外的其他引脚区域中选取出目标引脚区域的对称引脚区域，所述对称引脚区域的中心到集成电路芯片中心的距离等于目标引脚区域的中心到集成电路芯片中心的距离。
16、进一步地，所述获得目标引脚区域的亮度异常程度包括：
17、在目标引脚区域的多个对称引脚区域中，将与目标引脚区域同一侧的一个对称引脚区域，作为目标引脚区域的同侧对称引脚区域；
18、将与目标引脚区域同一行的一个对称引脚区域，作为目标引脚区域的第一同行引脚区域；将与所述同侧对称引脚区域同一行的一个对称引脚区域，作为同侧对称引脚区域的第二同行引脚区域；
19、将目标引脚区域和同侧对称引脚区域之间所述亮度特征值的差值的绝对值，作为目标引脚区域的第一亮度异常值；
20、将目标引脚区域的所述亮度特征值作分子，将目标引脚区域的第一同行引脚区域的所述亮度特征值作分母，将比值作为目标引脚区域和第一同行引脚区域之间的第一亮度比例值；将目标引脚区域的同侧对称引脚区域的所述亮度特征值作分子，将同侧对称引脚区域的第二同行引脚区域的所述亮度特征值作分母，将比值作为同侧对称引脚区域和第二同行引脚区域之间的第二亮度比例值；将所述第一亮度比例值和所述第二亮度比例值的差值的绝对值，作为目标引脚区域的第二亮度异常值；
21、对所述第一亮度异常值和所述第二亮度异常值进行综合，获得目标引脚区域的亮度异常程度。
22、进一步地，所述获得目标引脚区域的粗糙程度包括：
23、将光源的光照强度作分子，将目标引脚区域的所述亮度特征值作分母，将比值作为目标引脚区域的散射程度；
24、对目标引脚区域中的像素点灰度值的信息熵和目标引脚区域的所述散射程度进行综合，获得目标引脚区域的粗糙程度。
25、进一步地，所述获得目标引脚区域的不共面显著度包括：
26、对目标引脚区域的所述粗糙程度进行负相关映射，获得目标引脚区域的非氧化可能性；
27、对目标引脚区域的所述亮度异常程度和所述非氧化可能性进行综合后并进行归一化处理，获得目标引脚区域的不共面显著度。
28、进一步地，所述获得集成电路芯片的每个引脚的不共面可能性包括：
29、将所有最佳光照角度进行排序后构成的序列，作为最佳光照角度序列；按照所述最佳光照角度序列中的各最佳光照角度的排列顺序，将所有最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述亮度特征值进行排序后构成的序列，作为集成电路芯片的每个引脚的亮度特征值序列；
30、对所述最佳光照角度序列和集成电路芯片的每个引脚的所述亮度特征值序列之间的皮尔逊相关系数的绝对值进行负相关映射，获得集成电路芯片的每个引脚的第一不共面程度；
31、将所有最佳光照角度的灰度图像中的相同引脚区域的所述不共面显著度的平均值，作为集成电路芯片的每个引脚的第二不共面程度；
32、对所述第一不共面程度和所述第二不共面程度进行综合后并进行归一化处理，获得本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述从所有光照角度中筛选出多个最佳光照角度包括：
3.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述选取出目标引脚区域的对称引脚区域包括：
4.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述获得目标引脚区域的亮度异常程度包括：
5.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述获得目标引脚区域的粗糙程度包括：
6.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述获得目标引脚区域的不共面显著度包括：
7.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述获得集成电路芯片的每个引脚的不共面可能性包括：
8.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述对集成电路芯片的不共面引脚进行检测包括：
9.根据权利要求1所述的一种
10.一种集成电路的引脚共面性检测系统，所述系统包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1~9任意一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述从所有光照角度中筛选出多个最佳光照角度包括：
3.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述选取出目标引脚区域的对称引脚区域包括：
4.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述获得目标引脚区域的亮度异常程度包括：
5.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述获得目标引脚区域的粗糙程度包括：
6.根据权利要求1所述的一种集成电路的引脚共面性检测方法，其特征在于，所述获得目标引...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴梓明，康金，王立雄，黄家乐，
申请(专利权)人：东莞朗诚微电子设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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