【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及酥朽芯棒检测，尤其是涉及一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置。
技术介绍
1、复合绝缘子的酥朽劣化是当前高电压外绝缘研究的重要课题，复合绝缘子酥朽芯棒的电气性能参数变化是导致酥朽劣化复合绝缘子异常发热的直接原因，获取酥朽芯棒不同区域的局部电气性能参数并研究其差异，是全面获取复合绝缘子酥朽劣化特征、分析故障发展规律的重要手段。由于酥朽芯棒不同区域的劣化程度差异较大，局部电气参数在较小的尺度内呈现出复杂的变化，通过可行性较高的方法实现对不同位置局部电气性能参数的准确测量是一个比较大的挑战。
技术实现思路
1、为了克服现有技术中的不足，本专利技术提供一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，具有快速实现酥朽芯棒短样表面不同区域电气性能测试的优点。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，包括第一接地电极板、绝缘支架、若干测试电极、第二接地电极板和若干接触端子；所述第一接地电极板和所述第二接地电极板均接地；所述接触端子导电设置；所述绝缘支架设置在第一接地电极板上；所述测试电极竖直插设在所述绝缘支架上并且其底部抵靠住放置于所述第一接地电极板上的酥朽芯棒短样；所述绝缘支架使得所述测试电极之间绝缘；所述第二接地电极板上成型有若干连接通孔；所述接触端子与所述连接通孔一一对应并且可拆连接于所述连接通孔；所述接触端子与所述测试电极一一对应并且与所述测试电极的上端抵靠。
4、通过采用上述技术方案，可
5、可选的，所述测试电极呈蜂窝状排列。
6、通过采用上述技术方案，蜂窝状排列的测试电极在相同的面积中可以容纳更多数量的测试电极，从而增加测试点，使得测试更加全面。
7、可选的，所述测试电极呈六边形柱状。
8、通过采用上述技术方案，六边形柱状的测试电极由于棱边的存在，整体强度更大，同时测试电极配合与之适应的安装孔，测试电极不会轻易转动，从而使得测试电极安装更稳固。
9、可选的，所述接触端子包括与所述连接通孔可拆连接的端子本体和设置在所述端子本体下侧的磁片；所述磁片用于吸附所述测试电极的上端。
10、通过采用上述技术方案，通过磁片吸附测试电极完成接触端子与测试电极的连接，可以实现良好的电接触，有利于测试稳定性。
11、可选的，所述接触端子还包括压簧；所述压簧连接在所述端子本体和所述磁片之间。
12、通过采用上述技术方案，压簧可以使得磁片靠近测试电极从而实现磁片与测试电极的吸附，这样忽略测试电极的长度误差和接触端子的安装误差，另外压簧的压力也可以使得测试电极的底部不容易与酥朽芯棒短样分离，减少酥朽芯棒短样移位的可能性。
13、可选的，所述端子本体和连接通孔过盈配合。
14、通过采用上述技术方案，端子本体的位置更稳固，提高端子本体与第二接地电极板的导电稳定性，同时无需增加另外的连接结构来实现端子本体与连接通孔连接。
15、可选的，所述连接通孔呈六边形状；所述端子本体为与所述连接通孔相适配的正六边形柱。
16、通过采用上述技术方案，端子本体不易转动，安装位置更稳定。
17、可选的，所述绝缘支架包括若干上下分布的绝缘支架座；相邻所述绝缘支架座可拆连接。
18、通过采用上述技术方案，通过若干上下分布的绝缘支架座组合成绝缘支架，可以根据酥朽芯棒短样的长度来增减绝缘支架座，提高使用灵活性，增加使用范围。
19、可选的，所述绝缘支架座包括绝缘支撑板和固定在所述绝缘支撑板底面上的若干均匀分布的绝缘支撑柱；所述绝缘支撑板的顶面上成型有若干均匀分布的连接插孔；所述连接插孔与所述绝缘支撑柱一一对应并且所述连接插孔和相应侧的所述绝缘支撑柱同轴设置。
20、通过采用上述技术方案，上侧的绝缘支架座的绝缘支撑柱插入到下侧相邻的绝缘支架座的连接插孔内，这样绝缘支架组装方便，同时绝缘支架座不易水平移动，绝缘支架更稳固。
21、可选的，所有的所述测试电极组成朝向所述酥朽芯棒短样的测试区域；所述测试区域大于所述酥朽芯棒短样的上端面积。
22、通过采用上述技术方案，测试区域大于酥朽芯棒短样的上端面积，使得测试更加全面。
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1.一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：包括第一接地电极板(10)、绝缘支架(20)、若干测试电极(30)、第二接地电极板(40)和若干接触端子(50)；所述第一接地电极板(10)和所述第二接地电极板(40)均接地；所述接触端子(50)导电设置；所述绝缘支架(20)设置在第一接地电极板(10)上；所述测试电极(30)竖直插设在所述绝缘支架(20)上并且其底部抵靠住放置于所述第一接地电极板(10)上的酥朽芯棒短样(60)；所述绝缘支架(20)使得所述测试电极(30)之间绝缘；所述第二接地电极板(40)上成型有若干连接通孔(400)；所述接触端子(50)与所述连接通孔(400)一一对应并且可拆连接于所述连接通孔(400)；所述接触端子(50)与所述测试电极(30)一一对应并且与所述测试电极(30)的上端抵靠。
2.根据权利要求1所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述测试电极(30)呈蜂窝状排列。
3.根据权利要求1所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述测试电极(30)呈六边形柱状。
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5.根据权利要求4所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述接触端子(50)还包括压簧(52)；所述压簧(52)连接在所述端子本体(51)和所述磁片(53)之间。
6.根据权利要求4所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述端子本体(51)和所述连接通孔(400)过盈配合。
7.根据权利要求4所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述连接通孔(400)呈六边形状；所述端子本体(51)为与所述连接通孔(400)相适配的正六边形柱。
8.根据权利要求1所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述绝缘支架(20)包括若干上下分布的绝缘支架座(21)；相邻所述绝缘支架座(21)可拆连接。
9.根据权利要求8所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述绝缘支架座(21)包括绝缘支撑板(22)和固定在所述绝缘支撑板(22)底面上的若干均匀分布的绝缘支撑柱(23)；所述绝缘支撑板(22)的顶面上成型有若干均匀分布的连接插孔(220)；所述连接插孔(220)与所述绝缘支撑柱(23)一一对应并且所述连接插孔(220)和相应侧的所述绝缘支撑柱(23)同轴设置。
10.根据权利要求1所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所有的所述测试电极(30)组成朝向所述酥朽芯棒短样(60)的测试区域；所述测试区域大于所述酥朽芯棒短样(60)的上端面积。
...【技术特征摘要】
1.一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：包括第一接地电极板(10)、绝缘支架(20)、若干测试电极(30)、第二接地电极板(40)和若干接触端子(50)；所述第一接地电极板(10)和所述第二接地电极板(40)均接地；所述接触端子(50)导电设置；所述绝缘支架(20)设置在第一接地电极板(10)上；所述测试电极(30)竖直插设在所述绝缘支架(20)上并且其底部抵靠住放置于所述第一接地电极板(10)上的酥朽芯棒短样(60)；所述绝缘支架(20)使得所述测试电极(30)之间绝缘；所述第二接地电极板(40)上成型有若干连接通孔(400)；所述接触端子(50)与所述连接通孔(400)一一对应并且可拆连接于所述连接通孔(400)；所述接触端子(50)与所述测试电极(30)一一对应并且与所述测试电极(30)的上端抵靠。
2.根据权利要求1所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述测试电极(30)呈蜂窝状排列。
3.根据权利要求1所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述测试电极(30)呈六边形柱状。
4.根据权利要求1所述的一种酥朽芯棒短样分区域电气性能测试装置，其特征在于：所述接触端子(50)包括与所述连接通孔(400)可拆连接的端子本体(51)和设置在所述端子本体(51)下侧的磁片(53)；所述磁片(53)用于吸附所述测试电极(30)的上端。
5.根据权利要求4所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭海云，吕鑫，李文辉，梁曦东，陶瑞祥，万广雷，王裘潇，刘光，李泽宇，刘书棋，
申请(专利权)人：国网浙江省电力有限公司台州供电公司，
类型：发明
国别省市：
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