【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学设备调试，尤其涉及一种应用于光存储的光路调整系统及方法。
技术介绍
1、在光存储的光学系统中，光路的精度质量非常重要。光路产生偏差将直接影响到数据的记录、读取效果。
2、在一个传统的光存储光学系统的简易模型中，激光光源发光，经准直整形系统形成符合要求的具有一定光束宽度的平行光束，进入物镜会聚光斑作用在信息记录材料上，记录材料与激光光斑反应形成信息记录点。
3、但是由于光路计算、机械加工工艺和装配工艺等各方面的误差，以及环境温度变化、设备振动等因素，往往会使准直整形之后的光束产生偏差，无法按设计的标准光路进入到物镜中，因此产生对光学系统的影响。所以，在光路中增加调整方案，保证光路的准确性，使其按设计标准在空间中传播，正确进入物镜，保证光路质量。但是在光存储的光学系统中，整体结构上具有体积小，布置紧凑的特点，其光学元件均为毫米级别。同时光存储光学系统对光路精度的要求极高，甚至需要达到微米、纳米级。所以其光学调整结构，无法使用传统的机械结构方式，首先是尺寸无法压缩太小，而且调整精度也无法满足需求。
技术实现思路
1、本专利技术公开了一种应用于光存储的光路调整系统及方法，以克服上述技术问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术的技术方案是：
3、一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，包括：激光光源、准直整形系统、基于压电材料的第一反射镜调整结构、基于压电材料的第二反射镜调整结构、第一反射透过镜、第二反射透过镜、物镜、记录
4、所述准直整形系统设置于激光光源的光发射方向，以将激光光源发射的光整形成平行光束；
5、所述第一反射镜调整结构设置于所述平行光束的光路上，以对所述平行光束进行第一次调整；所述第二反射镜调整结构设置于第一次调整后的平行光束的光路上，以对所述平行光束进行第二次调整；
6、第二次调整后的平行光束依次经由第一反射透过镜和第二反射透过镜后通过所述物镜，会聚至所述记录材料；
7、所述第一反射透过镜用于获取第二次调整后的平行光束的第一检测光线并传播至第一检测相机；所述第二反射透过镜用于获取第二次调整后的平行光束的第二检测光线并传播至第二检测相机；
8、所述控制器的输入端分别所述第一检测相机、第二检测相机信号连接，以分别获取第一检测光线与第一标准点之间的偏差和第二检测光线与第二标准点之间的偏差；
9、所述控制器的输出端分别与所述第一反射镜调整结构、第二反射镜调整结构信号连接，以根据所述第一检测光线与第一标准点之间的偏差和第二检测光线与第二标准点之间的偏差，分别对所述第一反射镜调整结构和第二反射镜调整结构进行交替反复调整，以使得所述平行光束能在调整后依次经由第一标准点和第二标准点后通过所述物镜，会聚至所述记录材料。
10、有益效果：本专利技术的一种应用于光存储的光路调整系统及方法，通过第一压电材料的第一反射镜调整结构和第二反射镜调整结构分别对经由准直整形系统整形后的平行光束进行交替反复调整，使得所述平行光束能在第二次调整后依次经由第一标准点和第二标准点后，通过所述物镜，会聚至所述记录材料。本专利技术由于采用了基于压电材料的第一反射镜调整结构和第二反射镜调整结构的精度高，能够通过光学调整结构进行微米、纳米级精度的调整，解决了使用传统的机械结构方式尺寸较大并且调整精度低的问题。
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1.一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，包括：激光光源(1)、准直整形系统(2)、基于压电材料的第一反射镜调整结构(3)、基于压电材料的第二反射镜调整结构(4)、第一反射透过镜(5)、第二反射透过镜(6)、物镜(7)、记录材料(8)、第一检测相机(9)、第二检测相机(10)、控制器；
2.根据权利要求1所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述第一反射镜调整结构(3)包括调整底座(31)、支撑柱(312)、两组压电驱动结构(32)、调整弹簧(33)、反射镜固定板(34)和反射镜(35)；
3.根据权利要求1所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述第一反射镜调整结构(3)和第二反射镜调整结构(4)的结构相同。
4.根据权利要求2所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述支撑柱(312)的顶部、压电驱动结构(32)的顶部均为球形结构。
5.根据权利要求2所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述调整弹簧(33)包括固定结构(331)与和两个拉紧结构(332)；
6.根
7.根据权利要求2所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述压电驱动结构(32)包括压电驱动条(325)和第二支撑顶块(326)；
8.根据权利要求4所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述反射镜固定板(34)底部设置有与所述支撑柱(312)的顶部对应的第一球面凹槽(315)和与所述压电驱动结构(32)的顶部对应的第二球面凹槽(323)。
9.根据权利要求1-8任一项所述的一种应用于光存储的光路调整系统的调整方法，其特征在于，包括如下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，包括：激光光源(1)、准直整形系统(2)、基于压电材料的第一反射镜调整结构(3)、基于压电材料的第二反射镜调整结构(4)、第一反射透过镜(5)、第二反射透过镜(6)、物镜(7)、记录材料(8)、第一检测相机(9)、第二检测相机(10)、控制器；
2.根据权利要求1所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述第一反射镜调整结构(3)包括调整底座(31)、支撑柱(312)、两组压电驱动结构(32)、调整弹簧(33)、反射镜固定板(34)和反射镜(35)；
3.根据权利要求1所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述第一反射镜调整结构(3)和第二反射镜调整结构(4)的结构相同。
4.根据权利要求2所述的一种应用于光存储的光路调整系统，其特征在于，所述支撑柱(312)的顶部、压电驱动结构(32)的顶部均为球形结...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜健，张继军，孔维成，葛君廷，尹炜，杨思文，
申请(专利权)人：中国华录集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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