【技术实现步骤摘要】
本申请涉及测试领域，特别涉及一种半导体分立器件的测试装置、系统、方法。
技术介绍
1、目前，现有技术对于半导体分立器件的环境试验一般通过专用环境试验箱及其配备相应的加速试验板完成，或者自行开发环境加速试验板对器件焊接后进行环境试验。两种方案中，专用环境试验箱价格高昂，而通过开发的焊接加速试验板虽然价格低廉，但是只能对固定的物料进行测试，使用范围有限。
2、因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种半导体分立器件的测试装置、系统、方法，涉及测试领域，加速试验板可重复利用，适用多种测试物料，提高通用性，能够实现对待测器件的批量测试，成本低。
2、为解决上述技术问题，本申请提供了一种半导体分立器件的测试装置，包括：
3、加速试验板，所述加速试验板上设有多个安装部，多个待测器件可拆卸地、一一对应安装在多个所述安装部；
4、物料测试组件，用于基于物料测试指令对所述加速试验板上的每个所述待测器件进行加速环境试验前的第一物料参数及进行所述加速环境试验后的第二物料参数进行检测，基于每一所述待测器件的所述第一物料参数和所述第二物料参数得到所述待测器件的测试结果数据；
5、包括箱体的环境试验箱，用于当所述加速试验板放置在所述箱体内，根据接收到的加速环境试验指令，调整所述箱体内的温度，以对所述加速试验板上固定的待测器件进行所述加速环境试验。
6、可选的，所述
7、所述物料测试组件，用于获取所述目标待测器件进行加速环境试验前的第一物料参数及进行所述加速环境试验后的第二物料参数，基于每一所述目标待测器件的所述第一物料参数和所述第二物料参数得到所述目标待测器件的测试结果数据。
8、可选的，所述选择组件包括多个第一开关，所述第一开关的一端连接所述物料测试组件，所述第一开关的另一端连接一个所述待测器件，多个所述第一开关均用于响应各自接收到的第一物料测试指令执行断开动作或导通动作，以使所述第一物料测试指令对应的目标待测器件与所述物料测试组件连接。
9、可选的，所述选择组件包括与每一所述安装部对应设置的引线帽，当所述引线帽处于第一位置时，其对应的安装部上安装的所述待测器件作为目标待测器件与所述物料测试组件电连接，当所述引线帽处于第二位置时，其对应的安装部上安装的所述待测器件不与所述物料测试组件电连接。
10、可选的，所述测试装置包括多个固定组件，每一所述固定组件用于将所述待测器件固定在所述安装部。
11、可选的，所述固定组件包括夹具式连接器。
12、可选的，所述测试装置还包括与每一所述安装部对应设置的保护电路，用于根据配置指令配置电应力条件，以使所述环境试验箱在所述电应力条件下对所述待测器件进行所述加速环境试验。
13、可选的，所述保护电路包括与所述安装部电连接的电阻单元和/或电容单元和/或电感单元，所述电阻单元包括至少一个电阻元件，所述电容单元包括至少一个电容元件，所述电感单元包括至少一个电感元件。
14、可选的，所述保护电路还包括与所述电阻单元连接的第一开关组件和/或与所述电容单元连接的第二开关组件和/或与所述电感单元连接的第三开关组件，其中：
15、所述第一开关组件，用于根据所述配置指令选择与所述安装部电连接的所述电阻元件；
16、所述第二开关组件，用于根据所述配置指令选择与所述安装部电连接的所述电容元件；
17、所述第三开关组件，用于根据所述配置指令选择与所述安装部电连接的所述电容元件。
18、可选的，所述测试装置的安装部包括与所述待测器件的多个引脚一一对应连接的多个电源端，相同的所述引脚的电源端相互连接；
19、所述测试装置还包括电源电路，所述电源电路的多个输出端与多个所述电源端一一对应连接，用于响应接收到的第二物料测试指令，通过对应的所述输出端为与其连接的所述电源端供电。
20、可选的，所述待测器件为三脚封装的二极管。
21、为解决上述技术问题，本申请还提供了一种半导体分立器件的测试系统，包括：
22、上位机，用于输出物料测试指令和加速环境试验指令；
23、如上文任一项所述的测试装置，用于响应所述物料测试指令和所述加速环境试验指令对待测器件进行测试。
24、为解决上述技术问题，本申请还提供了一种半导体分立器件的测试方法，包括：
25、通过物料测试组件基于物料测试指令对加速试验板上的每个待测器件进行加速环境试验前的第一物料参数及进行所述加速环境试验后的第二物料参数进行检测，基于每一所述待测器件的所述第一物料参数和所述第二物料参数得到所述待测器件的测试结果数据；所述加速试验板上设有多个安装部，多个待测器件可拆卸地、一一对应安装在多个所述安装部；
26、通过环境试验箱在所述加速试验板放置在所述环境试验箱的箱体内，根据接收到的加速环境试验指令，调整所述箱体内的温度，以对所述加速试验板上固定的待测器件进行所述加速环境试验。
27、可选的，所述测试方法还包括：
28、通过选择组件在所述加速试验板上的所有所述待测器件中选择目标待测器件，以使所述目标待测器件与所述物料测试组件连接；
29、通过物料测试组件基于物料测试指令对加速试验板上的每个所述待测器件进行加速环境试验前的第一物料参数及进行所述加速环境试验后的第二物料参数进行检测的过程包括：
30、通过所述物料测试组件获取所述目标待测器件进行加速环境试验前的第一物料参数及进行所述加速环境试验后的第二物料参数。
31、可选的，所述测试方法还包括：
32、通过保护电路根据配置指令配置电应力条件；
33、对所述加速试验板上固定的待测器件进行所述加速环境试验的过程包括：
34、在所述电应力条件下对所述加速试验板上固定的待测器件进行所述加速环境试验。
35、本申请提供了一种半导体分立器件的测试装置，各个待测器件可拆卸地与加速试验板连接，该加速试验板可重复利用，适用多种测试物料，提高通用性，实现对待测器件的批量测试。加速试验板和温度箱解耦，可搭配成本较低的温度箱进行加速试验，相较于定制开发的加速试验环境箱，成本低。本申请还提供了一种半导体分立器件的测试系统及方法，具有和上述测试装置相同的有益效果。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种半导体分立器件的测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述加速试验板包括选择组件，所述选择组件用于在所述加速试验板上的所有所述待测器件中选择目标待测器件，以使所述目标待测器件与所述物料测试组件连接；
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述选择组件包括多个第一开关，所述第一开关的一端连接所述物料测试组件，所述第一开关的另一端连接一个所述待测器件，多个所述第一开关均用于响应各自接收到的第一物料测试指令执行断开动作或导通动作，以使所述第一物料测试指令对应的目标待测器件与所述物料测试组件连接。
4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述选择组件包括与每一所述安装部对应设置的引线帽，当所述引线帽处于第一位置时，其对应的安装部上安装的所述待测器件作为目标待测器件与所述物料测试组件电连接，当所述引线帽处于第二位置时，其对应的安装部上安装的所述待测器件不与所述物料测试组件电连接。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括多个固定组件，每一所述固定组件用于将所述待
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述固定组件包括夹具式连接器。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括与每一所述安装部对应设置的保护电路，用于根据配置指令配置电应力条件，以使所述环境试验箱在所述电应力条件下对所述待测器件进行所述加速环境试验。
8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述保护电路包括与所述安装部电连接的电阻单元和/或电容单元和/或电感单元，所述电阻单元包括至少一个电阻元件，所述电容单元包括至少一个电容元件，所述电感单元包括至少一个电感元件。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述保护电路还包括与所述电阻单元连接的第一开关组件和/或与所述电容单元连接的第二开关组件和/或与所述电感单元连接的第三开关组件，其中：
10.根据权利要求1-9任意一项所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置的安装部包括与所述待测器件的多个引脚一一对应连接的多个电源端，相同的所述引脚的电源端相互连接；
11.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述待测器件为三脚封装的二极管。
12.一种半导体分立器件的测试系统，其特征在于，包括：
13.一种半导体分立器件的测试方法，其特征在于，包括：
14.根据权利要求13所述的半导体分立器件的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
15.根据权利要求13所述的半导体分立器件的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器件的测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述加速试验板包括选择组件，所述选择组件用于在所述加速试验板上的所有所述待测器件中选择目标待测器件，以使所述目标待测器件与所述物料测试组件连接；
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述选择组件包括多个第一开关，所述第一开关的一端连接所述物料测试组件，所述第一开关的另一端连接一个所述待测器件，多个所述第一开关均用于响应各自接收到的第一物料测试指令执行断开动作或导通动作，以使所述第一物料测试指令对应的目标待测器件与所述物料测试组件连接。
4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述选择组件包括与每一所述安装部对应设置的引线帽，当所述引线帽处于第一位置时，其对应的安装部上安装的所述待测器件作为目标待测器件与所述物料测试组件电连接，当所述引线帽处于第二位置时，其对应的安装部上安装的所述待测器件不与所述物料测试组件电连接。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括多个固定组件，每一所述固定组件用于将所述待测器件固定在所述安装部。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述固定组件包括夹具式连接器。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包...
【专利技术属性】
技术研发人员：王磊，刘辉江，江永爱，易君谓，冯丽莎，谭承旦，魏晓慧，黄跃飞，
申请(专利权)人：中车株洲电力机车研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。