【技术实现步骤摘要】
本申请涉及磁共振扫描，特别是涉及一种磁共振纵向弛豫时间测定方法和系统。
技术介绍
1、在磁共振成像过程中，质子的弛豫时间对于图像质量和信号强度有着重要的影响。其中，弛豫时间分为纵向弛豫时间和横向弛豫时间。
2、以纵向弛豫时间的测定过程为例，相关技术中，主要是通过施加反转恢复脉冲来翻转纵向磁化矢量，之后在不同时刻利用磁共振成像序列采集磁共振数据。并对部分磁共振数据取反，通过对取反后的磁共振数据进行拟合，得到纵向弛豫时间的测定结果。
3、然而，相关技术的方法存在磁共振纵向弛豫时间的测定结果不准确的问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种磁共振纵向弛豫时间测定方法和系统，能够准确地获取磁共振纵向弛豫时间的测定结果。
2、第一方面，本申请提供了一种磁共振纵向弛豫时间测定方法，包括：
3、获取多个采集时刻的磁共振图像中各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值；
4、对各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第一拟合结果；以及，对各像素位置处的最小磁共振信号值的相反数和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第二拟合结果；
5、根据各像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定磁共振纵向弛豫时间测定结果。
6、在其中一个实施例中，根据各像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定磁共振纵向弛豫时间测定结果，包括：
7、根据每一个像素位
8、将所有像素位置的纵向弛豫时间的组合结果作为磁共振纵向弛豫时间测定结果。
9、在其中一个实施例中，根据每一个像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定每一个像素位置的纵向弛豫时间，包括：
10、针对任意一个像素位置，获取像素位置的第一拟合结果对应的第一拟合评价结果，以及，获取像素位置的第二拟合结果对应的第二拟合评价结果；
11、根据第一拟合评价结果和第二拟合评价结果，确定像素位置的纵向弛豫时间。
12、在其中一个实施例中，第一拟合结果为第一拟合曲线；
13、获取像素位置的第一拟合结果对应的第一拟合评价结果，包括：
14、获取像素位置在每一个磁共振图像上的磁共振信号值与第一拟合曲线之间的垂直距离；
15、基于各垂直距离的平均值，确定第一拟合结果对应的第一拟合评价结果。
16、在其中一个实施例中，根据第一拟合评价结果和第二拟合评价结果，确定像素位置的纵向弛豫时间，包括：
17、将第一拟合评价结果和第二拟合评价结果进行比较；
18、若第一拟合评价结果大于第二拟合评价结果，则将第一拟合结果对应的纵向弛豫时间作为像素位置的纵向弛豫时间；
19、若第一拟合评价结果小于第二拟合评价结果，则将第二拟合结果对应的纵向弛豫时间作为像素位置的纵向弛豫时间；
20、若第一拟合评价结果等于第二拟合评价结果，则将第一拟合结果或者第二拟合结果对应的纵向弛豫时间作为像素位置的纵向弛豫时间。
21、在其中一个实施例中，获取多个采集时刻的磁共振图像中各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值，包括：
22、获取施加反转恢复脉冲后的多个采集时刻的磁共振图像；
23、对每一个像素位置在多个采集时刻的磁共振图像中的磁共振信号值进行分析，从各像素位置中筛选出每一个像素位置的最小磁共振信号值；以及，将最小磁共振信号值外的磁共振信号值作为其他磁共振信号值。
24、第二方面，本申请还提供了一种磁共振纵向弛豫时间测定系统，该磁共振纵向弛豫时间测定系统包括磁共振设备和计算机设备；
25、磁共振设备，用于在对采集对象的感兴趣区域施加反转恢复脉冲的情况下，采集多个采集时刻的磁共振图像；
26、计算机设备，用于对多个采集时刻的磁共振图像中各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第一拟合结果；以及，对各像素位置处的最小磁共振信号值的相反数和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第二拟合结果，根据各像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定磁共振纵向弛豫时间测定结果。
27、第三方面，本申请还提供了一种磁共振纵向弛豫时间测定装置，包括：
28、获取模块，用于获取多个采集时刻的磁共振图像中各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值；
29、拟合模块，用于对各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第一拟合结果；以及，对各像素位置处的最小磁共振信号值的相反数和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第二拟合结果；
30、确定模块，用于根据各像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定磁共振纵向弛豫时间测定结果。
31、第四方面，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述第一方面中磁共振纵向弛豫时间测定方法的任意一项实施例的内容。
32、第五方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中磁共振纵向弛豫时间测定方法的任意一项实施例的内容。
33、第六方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中磁共振纵向弛豫时间测定方法的任意一项实施例的内容。
34、上述磁共振纵向弛豫时间测定方法和系统，获取多个采集时刻的磁共振图像中各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值；对各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第一拟合结果；以及，对各像素位置处的最小磁共振信号值的相反数和其他磁共振信号值进行拟合，得到各像素位置的第二拟合结果；根据各像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定磁共振纵向弛豫时间测定结果。该方法从多个采集时刻的磁共振图像的像素位置出发，在拟合过程中将最靠近零的磁共振信号值分别取正值和负值，然后进行纵向弛豫时间拟合，并根据正值拟合结果和负值拟合结果，可以准确地获取每一个像素位置的拟合结果，从而可以准确地确定磁共振纵向弛豫时间测定结果。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种磁共振纵向弛豫时间测定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定磁共振纵向弛豫时间测定结果，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据每一个像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定所述每一个像素位置的纵向弛豫时间，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一拟合结果为第一拟合曲线；
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一拟合评价结果和所述第二拟合评价结果，确定所述像素位置的纵向弛豫时间，包括：
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述获取多个采集时刻的磁共振图像中各像素位置处的最小磁共振信号值和其他磁共振信号值，包括：
7.一种磁共振纵向弛豫时间测定系统，其特征在于，所述磁共振纵向弛豫时间测定系统包括磁共振设备和计算机设备；
8.一种磁共振纵向弛豫时间测定装置，其特征在于，所述装置包括：
9.一种计算机设备，包括存储器和处
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种磁共振纵向弛豫时间测定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定磁共振纵向弛豫时间测定结果，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据每一个像素位置的第一拟合结果和第二拟合结果，确定所述每一个像素位置的纵向弛豫时间，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一拟合结果为第一拟合曲线；
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一拟合评价结果和所述第二拟合评价结果，确定所述像素位置的纵向弛豫时间，包括：
6.根据权利要求1-5任...
【专利技术属性】
技术研发人员：冷清谱，王忠淼，翟人宽，吴瑞琪，
申请(专利权)人：武汉联影生命科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。