【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储器件，具体涉及一种存储器件的测试设备。
技术介绍
1、存储器件的测试通常是将存储器件放置到温箱内部的测试主板上进行测试，由于测试主板上的中央处理器(central processing unit，cpu)受温度的影响较大，导致测试主板的使用寿命较短。
技术实现思路
1、鉴于此，本申请提供一种存储器件的测试设备，旨在解决如何延长测试主板使用寿命的问题。
2、本申请实施例提供一种存储器件的测试设备，测试设备包括控制面板、温箱、测试模块、电源模块及控制电路。电源模块电连接控制面板、温箱、测试模块及控制电路，控制面板、温箱及测试模块分别电连接控制电路。其中，温箱和测试模块之间设置有隔热板。测试模块提供待测存储器件的插槽。插槽贯穿隔热板，并延伸至温箱的内部。当待测存储器件插入插槽，测试模块与待测存储器件电连接。控制面板通过控制电路调节温箱内部的温度，控制测试模块执行测试程序，以及控制电源模块供电。
3、在本实施例中，隔热板用于隔离温箱和测试模块，以及防止测试模块受到温箱内部温度的影响。测试模块提供的插槽贯穿隔热板，并延伸至温箱内部，使待测存储器件可被安置到温箱内部。仅测试模块提供的插槽位于温箱内部，而不将测试模块设置在温箱内部，使测试模块不受温箱内部温度的影响，由此延长测试模块的使用寿命。
4、在一种实施例中，测试模块包括测试主板和转接板。测试主板包括cpu和主板插槽，转接板包括主板接口和转接插槽。主板接口用于插入主板插槽，转接插槽为待测存储
5、在另一种实施例中，测试主板在主板插槽的位置区域预留一定尺寸的额外区域，使测试主板适配与主板插槽的尺寸不同的其他主板插槽，其他主板插槽用于适配对应的转接板和待测存储器件。
6、在另一种实施例中，测试设备还包括指示灯模块。指示灯模块包括指示灯电路，指示灯电路包括一个或多个指示灯。指示灯电路电连接控制电路和电源模块，控制电路电连接测试模块，控制电路用于根据来自测试模块的测试结果控制指示灯电路点亮对应的指示灯。
7、在另一种实施例中，指示灯模块还包括导光柱。导光柱的位置与指示灯的位置相对应，导光柱用于引导指示灯发出的光。
8、在另一种实施例中，测试设备还包括散热模块。散热模块与电源模块电连接，散热模块用于给测试主板上的cpu散热。
9、在另一种实施例中，散热模块包括液冷头、液冷工质管及散热器。液冷头设置于cpu的表面。液冷工质管连接液冷头和散热器，液冷工质管密封有液冷介质，液冷介质在液冷工质管的内部流动，从液冷头带走cpu产生的热量。散热器包括冷排和风扇，cpu产生的热量经液冷工质管被带到冷排，再被风扇排放到测试设备的外部。
10、在另一种实施例中，控制面板包括显示屏、按钮及指示灯，显示屏、按钮及指示灯分别电连接控制电路。显示屏用于显示待测存储器件的测试信息，测试信息包括待测存储器件的测试时间、测试条件、测试进度及测试结果。按钮包括开关按钮、测试按钮及温度调节按钮。开关按钮用于触发电源模块开始供电或停止供电。测试按钮用于触发测试模块开始执行测试程序或停止执行测试程序。温度调节按钮用于触发温箱调节内部的温度。指示灯用于指示测试设备的工作状态。
11、在另一种实施例中，控制面板还包括隐藏按钮，隐藏按钮用于触发显示屏切换到对应的显示通道。
12、在另一种实施例中，测试设备还包括网络接口、总线接口及电源接口。网络接口和总线接口分别电连接测试模块，电源接口电连接电源模块。网络接口用于使测试模块连接到网络，以从网络下载或更新测试程序。总线接口用于使测试模块连接到外部设备，以与外部设备进行通信交互。电源接口用于使电源模块连接到电网或储能设备，从而给电源模块供电。
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1.一种存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括控制面板、温箱、测试模块、电源模块及控制电路；所述电源模块电连接所述控制面板、所述温箱、所述测试模块及所述控制电路，所述控制面板、所述温箱及所述测试模块分别电连接所述控制电路；
2.如权利要求1所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试模块包括测试主板和转接板；所述测试主板包括CPU和主板插槽，所述转接板包括主板接口和转接插槽；所述主板接口用于插入所述主板插槽，所述转接插槽为所述待测存储器件的插槽；所述转接插槽贯穿所述隔热板，并延伸至所述温箱的内部；所述转接板用于抬升所述测试主板与所述待测存储器件之间的距离，形成散热空间；
3.如权利要求2所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试主板在所述主板插槽的位置区域预留一定尺寸的额外区域，使所述测试主板适配与所述主板插槽的尺寸不同的其他主板插槽，所述其他主板插槽用于适配对应的转接板和待测存储器件。
4.如权利要求1至3任一项所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括指示灯模块；所述指示灯模块包括指示灯电路，所述指示灯电路包括
5.如权利要求4所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述指示灯模块还包括导光柱；所述导光柱的位置与所述指示灯的位置相对应，所述导光柱用于引导所述指示灯发出的光。
6.如权利要求2或3所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括散热模块；所述散热模块与所述电源模块电连接，所述散热模块用于给所述测试主板上的所述CPU散热。
7.如权利要求6所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述散热模块包括液冷头、液冷工质管及散热器；所述液冷头设置于所述CPU的表面；所述液冷工质管连接所述液冷头和所述散热器，所述液冷工质管密封有液冷介质，所述液冷介质在所述液冷工质管的内部流动，从所述液冷头带走所述CPU产生的热量；
8.如权利要求1至3任一项所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述控制面板包括显示屏、按钮及指示灯，所述显示屏、所述按钮及所述指示灯分别电连接所述控制电路；
9.如权利要求8所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述控制面板还包括隐藏按钮，所述隐藏按钮用于触发所述显示屏切换到对应的显示通道。
10.如权利要求1至3任一项所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括网络接口、总线接口及电源接口；所述网络接口和所述总线接口分别电连接所述测试模块，所述电源接口电连接所述电源模块；
...【技术特征摘要】
1.一种存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括控制面板、温箱、测试模块、电源模块及控制电路；所述电源模块电连接所述控制面板、所述温箱、所述测试模块及所述控制电路，所述控制面板、所述温箱及所述测试模块分别电连接所述控制电路；
2.如权利要求1所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试模块包括测试主板和转接板；所述测试主板包括cpu和主板插槽，所述转接板包括主板接口和转接插槽；所述主板接口用于插入所述主板插槽，所述转接插槽为所述待测存储器件的插槽；所述转接插槽贯穿所述隔热板，并延伸至所述温箱的内部；所述转接板用于抬升所述测试主板与所述待测存储器件之间的距离，形成散热空间；
3.如权利要求2所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试主板在所述主板插槽的位置区域预留一定尺寸的额外区域，使所述测试主板适配与所述主板插槽的尺寸不同的其他主板插槽，所述其他主板插槽用于适配对应的转接板和待测存储器件。
4.如权利要求1至3任一项所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括指示灯模块；所述指示灯模块包括指示灯电路，所述指示灯电路包括一个或多个指示灯；
5.如权利要求4所述的存储器件的测试设备，其特征在于，所述指示灯模块还包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈保林，李阳，张卫民，
申请(专利权)人：深圳市江波龙电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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