System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 物体检测方法、装置和计算机可读存储介质制造方法及图纸_技高网

物体检测方法、装置和计算机可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:44996404 阅读:2 留言:0更新日期:2025-04-15 17:10
本发明专利技术实施例提供物体检测方法、装置和计算机可读存储介质。所述方法包括:分别获取待检测物体的二维图像数据和三维图像数据,所述二维图像数据和所述三维图像数据具有相同的视野;根据所述三维图像数据的深度信息获取所述视野中的感兴趣区域,将所述视野中的感兴趣区域作为第一模板;根据所述二维图像数据和所述第一模板获取所述感兴趣区域中的二维缺陷,将所述感兴趣区域中不具备二维缺陷的区域作为第二模板;根据所述第二模板对所述三维图像数据进行三维缺陷检测,获取所述感兴趣区域中的三维缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及图像分析领域,尤其涉及一种物体检测方法、装置和计算机可读存储介质,其主要应用于物体表面的缺陷检测。


技术介绍

1、产品的表面缺陷检测是产品生产过程中的重要质量控制流程。在例如用于汽车厂的冲压厂和车身厂的钣金件或白车身的检测中,以及需要实时检测不同缺陷的目标表面的大型金属零件生产中,早期针对二维缺陷(污垢,划痕等)和三维缺陷(凸起,坑包、褶皱等)而经常采用的表面缺陷检测的手段包括:用强光照射的目视检查,用手套进行触摸检查,用油石研磨等。然而,这些方法都是耗时且主观的,很大程度上取决于检测人员的集中度和注意力,实际上很难满足自动化生产线的需求。

2、为了提高产品生产线的自动化程度并且提高检测效率,目前,基于光学二维/三维传感器的表面缺陷检测成为一种新的趋势,然而,在缺陷检测过程中,往往由于二维缺陷和三维缺陷之间无法准确区分和分开检测,造成检测误差。

3、因此,需要一种更加快速精确检测物体缺陷的方法和装置,以能够尽量避免缺陷检测时无法区分二维缺陷和三维缺陷,导致检测精度不高的问题。


技术实现思路

1、为解决上述技术问题,根据本专利技术的一个方面,提供了一种物体检测方法,包括:分别获取待检测物体的二维图像数据和三维图像数据,所述二维图像数据和所述三维图像数据具有相同的视野;根据所述三维图像数据的深度信息获取所述视野中的感兴趣区域,将所述视野中的感兴趣区域作为第一模板;根据所述二维图像数据和所述第一模板获取所述感兴趣区域中的二维缺陷,将所述感兴趣区域中不具备二维缺陷的区域作为第二模板;根据所述第二模板对所述三维图像数据进行三维缺陷检测,获取所述感兴趣区域中的三维缺陷。

2、根据本专利技术的另一方面,提供了一种物体检测装置,包括:获取单元,配置为分别获取待检测物体的二维图像数据和三维图像数据,所述二维图像数据和所述三维图像数据具有相同的视野;第一模板构建单元,配置为根据所述三维图像数据的深度信息获取所述视野中的感兴趣区域,将所述视野中的感兴趣区域作为第一模板;第二模板构建单元,配置为根据所述二维图像数据和所述第一模板获取所述感兴趣区域中的二维缺陷,将所述感兴趣区域中不具备二维缺陷的区域作为第二模板;检测单元,配置为根据所述第二模板对所述三维图像数据进行三维缺陷检测,获取所述感兴趣区域中的三维缺陷。

3、根据本专利技术的另一方面,提供了一种物体检测装置,包括:处理器;和存储器,在所述存储器中存储有计算机程序指令,其中,在所述计算机程序指令被所述处理器运行时,使得所述处理器执行以下步骤:分别获取待检测物体的二维图像数据和三维图像数据,所述二维图像数据和所述三维图像数据具有相同的视野;根据所述三维图像数据的深度信息获取所述视野中的感兴趣区域,将所述视野中的感兴趣区域作为第一模板;根据所述二维图像数据和所述第一模板获取所述感兴趣区域中的二维缺陷,将所述感兴趣区域中不具备二维缺陷的区域作为第二模板;根据所述第二模板对所述三维图像数据进行三维缺陷检测,获取所述感兴趣区域中的三维缺陷。

4、根据本专利技术的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序指令,其中,所述计算机程序指令被处理器执行时实现以下步骤:分别获取待检测物体的二维图像数据和三维图像数据,所述二维图像数据和所述三维图像数据具有相同的视野;根据所述三维图像数据的深度信息获取所述视野中的感兴趣区域,将所述视野中的感兴趣区域作为第一模板;根据所述二维图像数据和所述第一模板获取所述感兴趣区域中的二维缺陷,将所述感兴趣区域中不具备二维缺陷的区域作为第二模板;根据所述第二模板对所述三维图像数据进行三维缺陷检测,获取所述感兴趣区域中的三维缺陷。

5、根据本专利技术的上述物体检测方法、装置和计算机可读存储介质,能够通过分别采集相同视野内的待检测物体的二维图像数据和三维图像数据,在检测感兴趣区域中的三维缺陷时排除二维缺陷的干扰,从而能够更加清晰地检测和区分二维缺陷和三维缺陷,提高缺陷检测的准确性,改善缺陷检测的精度。

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【技术保护点】

1.一种物体检测方法,包括:

2.如权利要求1所述的方法,其中,分别获取待检测物体的二维图像数据和三维图像数据包括:

3.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述三维图像数据的深度信息获取所述视野中的感兴趣区域包括:

4.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述二维图像数据和所述第一模板获取所述感兴趣区域中的二维缺陷包括:

5.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述第二模板对所述三维图像数据进行三维缺陷检测,获取所述感兴趣区域中的三维缺陷包括:

6.如权利要求1所述的方法,其中,所述方法还包括:

7.如权利要求1-6中任一项所述的方法,其中,获取所述感兴趣区域中的二维缺陷和/或三维缺陷包括:

8.一种物体检测装置,包括:

9.一种物体检测装置,包括:

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序指令,其中,所述计算机程序指令被处理器执行时实现以下步骤:

【技术特征摘要】

1.一种物体检测方法,包括:

2.如权利要求1所述的方法,其中,分别获取待检测物体的二维图像数据和三维图像数据包括:

3.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述三维图像数据的深度信息获取所述视野中的感兴趣区域包括:

4.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述二维图像数据和所述第一模板获取所述感兴趣区域中的二维缺陷包括:

5.如权利要求1所述的方法,其中,根据所述第二模板对所述三维图像数...

【专利技术属性】
技术研发人员:张毅飞曹婷贾焕王志成
申请(专利权)人:株式会社理光
类型:发明
国别省市:

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