【技术实现步骤摘要】
本申请涉及成像，特别是涉及一种死时间校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。
技术介绍
1、单光子发射断层成像（single-photon emission computed tomography，spect）是最常用的诊断影像手段之一，并且在如今方兴未艾的诊疗一体化技术里，spect也是最重要的工具之一。spect成像过程中，注射放射性核素的活度较高的情况下，容易出现死时间效应（丢数），会影响成像质量。
2、传统技术中，针对spect中整个探测器或探测器的每一个像素，使用校正模型进行死时间校正，探测器的每一个像素和像素之间，校正模型相互独立。
3、然而，传统技术中的校正模型对spect的死时间校正不准确。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够死时间校正的准确性的死时间校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种死时间校正方法，应用于单光子发射断层成像系统，该方法包括：
3、获取成像对象的投影图；
4、根据投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图；其中，校正模型是根据训练样本对初始网络模型进行训练得到的，训练样本包括丢数投影图样本和未丢数投影图样本。
5、在其中一个实施例中，训练样本的获取方法包括：
6、获取未丢数投影图样本；
7、利用蒙特卡洛方法，根据未丢数投影图样本和探测器响应模型，确定丢数投影图样本；探测器响应
8、在其中一个实施例中，获取未丢数投影图样本，包括：
9、获取预设放射源的放射分布图和不同放射活度；
10、根据放射分布图和不同放射活度，确定未丢数投影图样本。
11、在其中一个实施例中，根据投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图，包括：
12、将投影图输入至校正模型，确定投影图中每个像素的丢数比例；
13、根据每个像素的丢数比例和所述投影图，确定死时间校正后的投影图。
14、在其中一个实施例中，训练校正模型的方法包括：
15、根据丢数投影图样本和未丢数投影图样本，确定丢数比例样本；
16、根据丢数比例样本和丢数投影图样本对初始网络模型进行训练，得到校正模型。
17、在其中一个实施例中，根据投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图，包括：
18、将投影图输入至校正模型，确定死时间校正后的投影图。
19、第二方面，本申请一个实施例提供一种死时间校正装置，应用于单光子发射断层成像系统，该装置包括：
20、获取模块，用于取成像对象的投影图；
21、输入模块，用于根据投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图；其中，校正模型是根据训练样本对初始网络模型进行训练得到的，训练样本包括丢数投影图样本和未丢数投影图样本。
22、第三方面，本申请一个实施例提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述第一方面提供的方法的步骤。
23、第四方面，本申请一个实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时上述第一方面提供的方法的步骤。
24、第五方面，本申请一个实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面提供的方法的步骤。
25、上述死时间校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品，该方法应用于单光子发射断层成像系统。通过获取成像对象的投影图，根据投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图；其中，校正模型是根据训练样本对初始网络模型进行训练得到的，训练样本包括丢数投影图样本和未丢数投影图样本。在本实施例中，在校正模型的训练过程中使用的训练样本是丢数投影图样本和未丢数投影图样本，考虑到了各像素之间死时间效应的影响，使用该训练样本训练好的校正模型对投影图进行死时间校正，能够提高对投影图进行死时间校正的准确性，从而能够提高得到死时间校正后的投影图的质量。
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1.一种死时间校正方法，其特征在于，应用于单光子发射断层成像系统，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述训练样本的获取方法包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述未丢数投影图样本，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，训练所述校正模型的方法包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图，包括：
7.一种死时间校正装置，其特征在于，应用于单光子发射断层成像系统，所述装置包括：
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种死时间校正方法，其特征在于，应用于单光子发射断层成像系统，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述训练样本的获取方法包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述未丢数投影图样本，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述投影图和校正模型，确定死时间校正后的投影图，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，训练所述校正模型的方法包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述投影图和校正模型，确定死时间校正后的投...
【专利技术属性】
技术研发人员：王贝恩，唐嵩松，肖磊，李子味，柯鹏瑜，刘益林，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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