【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示屏，特别是涉及一种显示面板的数据烧录及自检方法、装置、flash ic闪存芯片、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、随着移动设备和智能终端的快速发展，将tddi（触控与显示驱动集成）技术应用于oled（有机发光二极管）显示设备中，能够提高显示设备的可靠性。
2、在一般的oled显示设备设计中，将tp（触控面板）固件数据烧录在tp ic（触控面板集成电路）内，将demura（色彩校正）补偿数据烧录在flash ic（闪存芯片）内。而在tddi技术应用中，两种数据会被烧录在同一区域内，若外界环境存在干扰信号，数据容易被误擦除或改写，从而影响显示设备的可靠性。
3、因此，亟需一种显示面板的数据烧录及自检方法、装置、flash ic闪存芯片、计算机可读存储介质和计算机程序产品，在先后进行两次烧录操作的过程中，且外界存在干扰信号的情况下，能够减小对flash ic中其他地址区域的数据的影响。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种显示面板的数据烧录及自检方法、装置、flash ic闪存芯片、计算机可读存储介质和计算机程序产品，在先后进行两次烧录操作的过程中，且外界存在干扰信号的情况下，能够减小对flash ic中其他地址区域的数据的影响。
2、第一方面，本申请提供了一种显示面板的数据烧录及自检方法，包括：
3、在检测到flash ic闪存芯片接收烧录驱动信号的情况下，时序控制模块输出具有至少一种
4、根据所述电压状态与寻址区映射表，确定所述时序控制模块的输出电压对应的所述flash ic闪存芯片中的待烧录寻址区，并控制除所述待烧录寻址区之外的其他区域处于锁存状态；
5、在所述待烧录寻址区中烧录相应的待烧录数据，所述待烧录数据包括第一数据和第二数据；
6、在数据烧录结束之后，获取所述flash ic闪存芯片中所有区域当前的循环冗余校验值；
7、将当前的循环冗余校验值和预设循环冗余校验值进行对比验证，获得数据烧录自检结果。
8、第二方面，本申请还提供了一种显示面板的数据烧录及自检装置，包括：
9、时序控制模块，用于在检测到flash ic闪存芯片接收烧录驱动信号的情况下，时序控制模块输出具有至少一种电压状态的输出电压；
10、处理模块，用于根据所述电压状态与寻址区映射表，确定所述时序控制模块的输出电压对应的所述flash ic闪存芯片中的待烧录寻址区，并控制除所述待烧录寻址区之外的其他区域处于锁存状态；
11、烧录模块，用于在所述待烧录寻址区中烧录相应的待烧录数据，所述待烧录数据包括第一数据和第二数据；
12、获取模块，用于在数据烧录结束之后，获取所述flash ic闪存芯片中所有区域当前的循环冗余校验值；
13、自检模块，用于将当前的循环冗余校验值和预设循环冗余校验值进行对比验证，获得数据烧录自检结果。
14、第三方面，本申请还提供了一种flash ic闪存芯片，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
15、第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
16、第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
17、上述显示面板的数据烧录及自检方法、装置、flash ic闪存芯片、计算机可读存储介质和计算机程序产品，通过在烧录过程中对flash ic中的待烧录寻址区进行精确控制，同时将其他区域置于锁存状态，可以有效防止外界干扰信号对非烧录区域数据的影响，从而提高数据烧录的可靠性。由于减少了误擦除或改写非烧录区域数据的风险，采用该方案可以增强oled显示设备的稳定性，降低因数据损坏导致的设备故障率。通过时序控制模块和寻址区映射表，实现了对烧录过程的精确控制，使得烧录操作更加高效，同时简化了烧录流程。在数据烧录结束后，通过获取flash ic中所有区域的循环冗余校验值（crc），并与预设值进行对比验证，实现了对烧录数据的自检，确保了数据的完整性和正确性。由于烧录过程的优化和自检功能的实现，可以减少因数据错误而需要的重复烧录次数，从而节省时间和成本，提升生产效率。自检功能的实现使得在生产过程中可以快速发现并纠正烧录错误，简化了故障诊断和测试流程，减少了后续维修和检测的工作量。能够在外界存在干扰信号的情况下依然保持数据烧录的准确性，使得显示设备在各种环境条件下都能保持稳定的性能。
18、综上所述，本申请通过精确控制烧录过程和实现自检功能，提高了显示面板数据烧录的可靠性和准确性，增强了oled显示设备的稳定性和生产效率。
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1.一种显示面板的数据烧录及自检方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一数据为TP固件数据，所述第二数据为Demura补偿数据，所述待烧录寻址区的类型包括TP固件寻址区和Demura补偿寻址区；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在数据烧录结束之后，获取所述FlashIC闪存芯片中所有区域当前的循环冗余校验值，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时序控制模块电性连接集成电路IC的输出管脚或柔性印刷电路板FPC的输出管脚中的至少一项，用于根据所述烧录驱动信号输出具有至少一种电压状态的输出电压。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时序控制模块包括：用于接收所述烧录驱动信号的烧录驱动信号接收子模块，用于识别所述烧录驱动信号的烧录驱动信号识别子模块，以及用于输出具有至少一种电压状态的输出电压的电压输出子模块。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述时序控制模块连接有选通电路；
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述在
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述选通电路集成于显示面板的内部或柔性印刷电路板FPC的内部。
9.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述接收烧录驱动信号的有效烧录时段包括TP固件数据的烧录时段和Demura补偿数据的烧录时段。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述TP固件数据的烧录时段或所述Demura补偿数据的烧录时段中的至少一项为至少一个。
11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述待烧录寻址区中烧录相应的待烧录数据，包括：
12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述Flash IC闪存芯片中所有区域当前的循环冗余校验值，包括：
13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待烧录寻址区包括数据占用区和待利用区域，所述数据占用区用于存储被烧录的所述待烧录数据；所述将当前的循环冗余校验值和预设循环冗余校验值进行对比验证，获得数据烧录自检结果之后，还包括：
14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述将当前的循环冗余校验值和预设循环冗余校验值进行对比验证，获得数据烧录自检结果之后，还包括：
15.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述除所述待烧录寻址区之外的其他区域包括用于暂存待烧录数据的至少一个缓冲区；其中，每个待烧录寻址区连接至少一个缓冲区。
16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述在数据烧录结束之后，还包括：
17.一种显示面板的数据烧录及自检装置，其特征在于，所述装置包括：
18.一种Flash IC闪存芯片，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至16中任一项所述的方法的步骤。
19.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至16中任一项所述的方法的步骤。
20.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至16中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种显示面板的数据烧录及自检方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一数据为tp固件数据，所述第二数据为demura补偿数据，所述待烧录寻址区的类型包括tp固件寻址区和demura补偿寻址区；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在数据烧录结束之后，获取所述flashic闪存芯片中所有区域当前的循环冗余校验值，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时序控制模块电性连接集成电路ic的输出管脚或柔性印刷电路板fpc的输出管脚中的至少一项，用于根据所述烧录驱动信号输出具有至少一种电压状态的输出电压。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时序控制模块包括：用于接收所述烧录驱动信号的烧录驱动信号接收子模块，用于识别所述烧录驱动信号的烧录驱动信号识别子模块，以及用于输出具有至少一种电压状态的输出电压的电压输出子模块。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述时序控制模块连接有选通电路；
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述在所述待烧录寻址区中烧录相应的待烧录数据之前，还包括：
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述选通电路集成于显示面板的内部或柔性印刷电路板fpc的内部。
9.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述接收烧录驱动信号的有效烧录时段包括tp固件数据的烧录时段和demura补偿数据的烧录时段。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述tp固件数据的烧录时段或所述demura补偿数据的烧录时段中的至少一项为至少一个。
【专利技术属性】
技术研发人员：刘细刚，
申请(专利权)人：武汉天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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