【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电路校验，具体涉及一种基于双mcu的内部模块电路校验方法及系统。
技术介绍
1、在电子
，电路模块的模块化使得模块间的连接问题存在不确定性，因此对电路的校验变得尤为重要。现有的技术方案往往缺乏有效的故障诊断和处理机制，导致在电路出现故障时难以快速响应和处理。
2、类似的现有技术公开号为cn114721862a的中国专利申请，提供一种具有信号校验功能的看门狗电路，该方法包括：信号校验电路，与信号发送方通信连接，用于校验看门狗电路接收到的信号与信号发送方发送的信号是否一致；注错电路，与信号校验电路通信连接，用于对信号校验电路的功能进行检测；看门狗电路，与信号校验电路通信连接，用于响应经信号校验电路校验后的信号；看门狗电路包括刷新控制器，刷新控制器与看门狗电路的计数器通信连接，用于对喂狗信号进行有效性判断后控制计数器刷新。
3、类似的现有技术还有公开号为cn113656230a的中国专利申请，公开一种故障诊断电路、方法、装置及计算机可读存储介质，该方法包括：安全保护电路和诊断模块；安全保护电路与被保护电路电连接，用于对被保护电路中的已存储数据进行校验运算，以得到第一校验数据，对已存储数据对应的第二校验数据进行错误注入，且基于第一校验数据和错误注入后的第二校验数据，生成第一校验结果信号；诊断模块与安全保护电路电连接，诊断模块用于基于第一校验结果信号，对安全保护电路进行故障诊断。
4、然而上述两个申请，都没有考虑故障诊断效率较低的问题，由此本专利技术提供一种基于双mcu的内部模块电路
技术实现思路
1、本专利技术能够快速定位故障问题，并在故障发生时进入控制系统保证电路正常运行且对外输出状态，保证系统的安全状态。
2、为了达到上述的专利技术目的，本专利技术给出如下所述的一种基于双mcu的内部模块电路校验方法，通过执行以下步骤进行实现:
3、步骤s1、第一mcu模块发出第一en信号至驱动电路模块，驱动电路模块接收所述第一en信号后发出第一signalen信号，并发送到被测电路模块，所述被测电路模块经过内部处理输出内部信号；
4、步骤s2、在所述被测电路模块输出所述内部信号的过程中，过程采样模块对所述被测电路模块的内部信号进行采样，输出第一采样信号，还将所述第一采样信号发送到所述第一mcu模块和第二mcu模块；
5、步骤s3、所述第一mcu模块和所述第二mcu模块第一次比较所述第一采样信号与预期信号，若发现所述第一采样信号与所述预期信号一致，说明被测电路模块工作正常，若发现所述第一采样信号与所述预期信号不一致，执行步骤s4；
6、步骤s4、所述第一mcu模块关闭输出第一en信号，所述第二mcu模块发出第二en信号和第二signalen信号，通过使能电路模块和校验信号构造模块构造新的第二采样信号到所述被测电路模块；
7、步骤s5、基于所述第二采样信号输入所述被测电路模块后对所述被测电路模块输出的所述内部信号进行第二次采样，获取到新的第一采样信号，将新的所述第一采样信号输入所述第一mcu模块和所述第二mcu模块判断故障信息。
8、作为本专利技术的一种优选技术方案，判断故障信息，包括如下步骤：
9、步骤s51、所述第一mcu模块和所述第二mcu模块第二次比较新的所述第一采样信号与所述预期信号，若新的所述第一采样信号与所述预期信号一致，说明被测电路模块工作正常；
10、步骤s52、若新的所述第一采样信号与所述预期信号仍不一致，说明被测电路模块存在内部故障。
11、作为本专利技术的一种优选技术方案，在所述步骤s1中，还执行如下步骤：
12、所述第一mcu模块还和所述第二mcu模块建立通讯通道，通过所述通讯通道将所述第一en信号发送到所述第二mcu模块。
13、作为本专利技术的一种优选技术方案，所述第一mcu模块和所述第二mcu模块第一次比较所述第一采样信号与预期信号，包括如下步骤：
14、步骤s31、所述第一mcu模块接收所述第一采样信号后，将所述第一采样信号和所述预期信号进行比较获取第一比较结果，所述第一比较结果包括一致和不一致两种情况；
15、步骤s32、所述第二mcu模块接收所述第一采样信号后，将所述第一采样信号和所述预期信号进行比较获取第二比较结果，所述第二比较结果包括一致和不一致两种情况；
16、步骤s33、所述第一mcu模块将所述第一比较结果通过通信通道发送至所述第二mcu模块，所述第二mcu模块将所述第二比较结果通过所述通信通道发送至所述第一mcu模块；
17、步骤s34、若所述第一比较结果和所述第二比较结果都为一致，则判断为所述第一采样信号与预期信号一致，否则，判断为所述第一采样信号与预期信号不一致。
18、作为本专利技术的一种优选技术方案，将所述第一采样信号和所述预期信号进行比较获取第一比较结果，包括如下步骤：
19、对所述第一采样信号进行信号调理，从调理后的所述第一采样信号中提取关键参数，所述关键参数包括幅度、频率、相位和时间戳，将所述关键参数与所述预期信号的关键参数进行比较获取第一比较结果。
20、作为本专利技术的一种优选技术方案，将所述关键参数与所述预期信号的关键参数进行比较获取第一比较结果，包括如下步骤：
21、判断所述第一采样信号的各个关键参数是否在所述预期信号的各个关键参数的阈值范围内，若每个所述关键参数都在所述预期信号的对应关键参数的阈值范围内，则判断所述第一采样信号和所述预期信号的所述第一比较结果为一致，否则，所述第一比较结果为不一致。
22、作为本专利技术的一种优选技术方案，所述预期信号是指，在所述第一mcu模块和所述第二mcu模块内部，有一套预设的标准，基于预设的标准所述第一mcu模块和所述第二mcu模块能够基于所述第一en信号输出所述预期信号，预设的标准可能是电路设计的理论模型，或是历史数据中正常工作状态下的信号特征。
23、作为本专利技术的一种优选技术方案，过程采样模块对所述被测电路模块的内部信号进行采样，包括如下步骤：
24、实时检测环境参数，所述环境参数包括温度和湿度，评估所述环境参数对信号质量的影响获取第一环境参数，所述第一环境参数是指对信号质量影响最大的环境参数，设定采样规则，在特定情况下增加采样频率。
25、作为本专利技术的一种优选技术方案，评估所述环境参数对信号质量的影响获取第一环境参数，包括如下步骤：
26、获取历史采样过程中的采样信号和对应的环境参数，对每一类环境参数，基于所述采样信号获取对应的关键信号特征，所述关键信号特征是指信号的幅度值，计算不同的环境参数值和所述关键信号特征的相关系数，将所述相关系数最大的所述环境参数作为所述第一环境参数。
27、本专利技术还提供一种基于双mcu的内部模块电路校验系统，包括如下的单元：
28、信号驱动单元，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于双MCU的内部模块电路校验方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断故障信息，包括如下步骤：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤S1中，还执行如下步骤：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一MCU模块和所述第二MCU模块第一次比较所述第一采样信号与预期信号，包括如下步骤：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，将所述第一采样信号和所述预期信号进行比较获取第一比较结果，包括如下步骤：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，将所述关键参数与所述预期信号的关键参数进行比较获取第一比较结果，包括如下步骤：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预期信号是指，在所述第一MCU模块和所述第二MCU模块内部，有一套预设的标准，基于预设的标准所述第一MCU模块和所述第二MCU模块能够基于所述第一EN信号输出所述预期信号，预设的标准可能是电路设计的理论模型，或是历史数据中正常工作状态下的信号特征。
8.根据权利要求1所
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，评估所述环境参数对信号质量的影响获取第一环境参数，包括如下步骤：
10.一种基于双MCU的内部模块电路校验系统，用于实现如权利要求1-9任一项所述的一种基于双MCU的内部模块电路校验方法，其特征在于，包括如下单元：
...【技术特征摘要】
1.一种基于双mcu的内部模块电路校验方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断故障信息，包括如下步骤：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤s1中，还执行如下步骤：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一mcu模块和所述第二mcu模块第一次比较所述第一采样信号与预期信号，包括如下步骤：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，将所述第一采样信号和所述预期信号进行比较获取第一比较结果，包括如下步骤：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，将所述关键参数与所述预期信号的关键参数进行比较获取第一比较结果，包括如下步骤：
7.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：季金炎，刘毅，李飞，姚欣，
申请(专利权)人：河南嘉晨智能控制股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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