一种闪存芯片测试机制造技术

技术编号:44900949 阅读:5 留言:0更新日期:2025-04-08 18:48
本技术提出了一种闪存芯片测试机,属于芯片检测技术领域。所述闪存芯片测试机,包括设备主体、测试触笔、推动板、红外发射端以及按压带,其中,设备主体外部固定连接有左侧仓,设备主体外部固定连接有右侧仓,设备主体外部固定连接有底端导轨,底端导轨外部固定连接有红外接收端,右侧仓外部开设有活动槽,推动板活动连接在活动槽内部,设备主体外部固定连接有收集斗,左侧仓和右侧仓外部固定连接有设备主体,左侧仓和右侧仓外部固定连接有液压泵,液压泵外部固定连接有液压杆,液压杆外部固定连接有L形板。本技术具有的可以对针脚挤压矫正,可以对芯片进行完整性检测并对残次品收集等优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片检测,具体涉及一种闪存芯片测试机


技术介绍

1、闪存芯片,又称快闪存储器,是一种非易失性存储技术,能在断电后保留数据。它是现代电子设备中的关键组件,广泛应用于usb闪存盘、固态硬盘、手机、数码相机及各种嵌入式系统中。相较于传统磁盘,闪存无机械结构,因此更耐用、功耗低且读写速度快。闪存芯片主要分为nand和nor两种类型,nand型适用于大量数据存储,如ssd;nor型支持随机访问,适合存储代码。凭借其大容量、高速度和可靠性,闪存芯片已成为数据存储领域的核心技术之一,在对闪存芯片进行检测过程中,芯片堆叠之际,芯片针脚容易造成扭曲歪折损伤,而针脚难以肉眼直接辨别,手动挑选费时费力。因此,本申请提供了一种闪存芯片测试机。


技术实现思路

1、为解决上述技术问题,本技术提出一种可以对针脚挤压矫正,可以对芯片进行完整性检测并对残次品收集的闪存芯片测试机。

2、本技术的技术方案是这样实现的:

3、一种闪存芯片测试机,包括设备主体、测试触笔、推动板、红外发射端以及按压带,其中,所述设备主体外部固定连接有左侧仓,所述设备主体外部固定连接有右侧仓,所述设备主体外部固定连接有底端导轨,所述底端导轨外部固定连接有红外接收端,所述右侧仓外部开设有活动槽,所述推动板活动连接在活动槽内部,所述设备主体外部固定连接有收集斗,所述左侧仓和右侧仓外部固定连接有设备主体,所述左侧仓和右侧仓外部固定连接有液压泵,所述液压泵外部固定连接有液压杆,所述液压杆外部固定连接有l形板,所述测试触笔固定连接在l形板外部,所述红外发射端固定连接在所述左侧仓和所述右侧仓内部,所述左侧仓和右侧仓内部均固定连接有矫正电机,所述矫正电机传动轴端部固定连接有按压齿轮,所述按压齿轮外部活动连接有按压带,所述设备主体外部活动连接有芯片本体。

4、进一步地,所述设备主体内部固定连接有传动电机,所述传动电机传动轴端部固定连接有主动齿轮,所述设备主体外部活动连接有从动齿轮,所述设备主体内部活动连接有从动辊,所述从动齿轮和从动辊外部活动连接有传送带,所述从动齿轮与主动齿轮外部活动连接有传动带,所述设备主体外部固定连接有导向条。

5、进一步地,所述设备主体内部固定连接有排废电机,所述排废电机传动轴端部固定连接有延伸支架,所述延伸支架外部固定连接有活动支架,所述活动支架远离延伸支架的一端外部活动连接有连接基座,所述推动板固定连接在连接基座外部。

6、进一步地,所述左侧仓和右侧仓外部均开设有接触槽,所述左侧仓和右侧仓外部均开设有活动槽,所述底端导轨数量有两组并对称分布在设备主体外部,所述收集斗与活动槽对向连接。

7、进一步地,所述红外接收端与红外发射端垂直校准,所述设备主体外部固定连接有稳定转轴。

8、进一步地,所述导向条数量有两组并对称分布在设备主体外部,所述导向条与左侧仓和右侧仓固定连接。

9、进一步地,所述液压杆数量有两组并对称分布在液压泵外部,所述测试触笔数量有多组并均匀分布在l形板外部。

10、进一步地,所述按压齿轮与左侧仓和右侧仓活动连接,所述按压齿轮数量有两组并对称分布在左侧仓和右侧仓内部。

11、本技术具有如下有益效果:

12、1、通过设置,在芯片本体放置在传送带外部后,在传送带的运送下进入左侧仓和右侧仓底部,芯片本体针脚与底端导轨相互接触,在按压带与底端导轨的作用下将芯片本体的针脚挤压矫正,确保芯片本体针脚整齐,方便后续测试触笔进行测试,大大提升了装置测试的准确性。

13、2、通过设置,当芯片本体通过红外发射端和红外接收端过程中,芯片本体针脚扫过红外接收端与红外发射端的红外射线,通过计算红外间隔,以此确定芯片本体针脚完整性,当芯片本体判定为残次品后,通过推动板将残次品通过活动槽推送到收集斗内部收集,大大提升了装置的检测效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种闪存芯片测试机,其特征在于,包括设备主体(1)、测试触笔(13)、推动板(20)、红外发射端(26)以及按压带(29),其中,所述设备主体(1)外部固定连接有左侧仓(2),所述设备主体(1)外部固定连接有右侧仓(3),所述设备主体(1)外部固定连接有底端导轨(30),所述底端导轨(30)外部固定连接有红外接收端(7),所述右侧仓(3)外部开设有活动槽(14),所述推动板(20)活动连接在活动槽(14)内部,所述设备主体(1)外部固定连接有收集斗(6),所述左侧仓(2)和右侧仓(3)外部固定连接有设备主体(1);

2.根据权利要求1所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述设备主体(1)内部固定连接有传动电机(22),所述传动电机(22)传动轴端部固定连接有主动齿轮(23),所述设备主体(1)外部活动连接有从动齿轮(25),所述设备主体(1)内部活动连接有从动辊(9),所述从动齿轮(25)和从动辊(9)外部活动连接有传送带(4),所述从动齿轮(25)与主动齿轮(23)外部活动连接有传动带(24),所述设备主体(1)外部固定连接有导向条(15)。

3.根据权利要求1所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述设备主体(1)内部固定连接有排废电机(16),所述排废电机(16)传动轴端部固定连接有延伸支架(17),所述延伸支架(17)外部固定连接有活动支架(18),所述活动支架(18)远离延伸支架(17)的一端外部活动连接有连接基座(19),所述推动板(20)固定连接在连接基座(19)外部。

4.根据权利要求3所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述左侧仓(2)和右侧仓(3)外部均开设有接触槽(21),所述左侧仓(2)和右侧仓(3)外部均开设有活动槽(14),所述底端导轨(30)数量有两组并对称分布在设备主体(1)外部,所述收集斗(6)与活动槽(14)对向连接。

5.根据权利要求1所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述红外接收端(7)与红外发射端(26)垂直校准,所述设备主体(1)外部固定连接有稳定转轴(8)。

6.根据权利要求2所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述导向条(15)数量有两组并对称分布在设备主体(1)外部,所述导向条(15)与左侧仓(2)和右侧仓(3)固定连接。

7.根据权利要求5所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述液压杆(11)数量有两组并对称分布在液压泵(10)外部,所述测试触笔(13)数量有多组并均匀分布在L形板(12)外部。

8.根据权利要求1所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述按压齿轮(28)与左侧仓(2)和右侧仓(3)活动连接,所述按压齿轮(28)数量有两组并对称分布在左侧仓(2)和右侧仓(3)内部。

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【技术特征摘要】

1.一种闪存芯片测试机,其特征在于,包括设备主体(1)、测试触笔(13)、推动板(20)、红外发射端(26)以及按压带(29),其中,所述设备主体(1)外部固定连接有左侧仓(2),所述设备主体(1)外部固定连接有右侧仓(3),所述设备主体(1)外部固定连接有底端导轨(30),所述底端导轨(30)外部固定连接有红外接收端(7),所述右侧仓(3)外部开设有活动槽(14),所述推动板(20)活动连接在活动槽(14)内部,所述设备主体(1)外部固定连接有收集斗(6),所述左侧仓(2)和右侧仓(3)外部固定连接有设备主体(1);

2.根据权利要求1所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述设备主体(1)内部固定连接有传动电机(22),所述传动电机(22)传动轴端部固定连接有主动齿轮(23),所述设备主体(1)外部活动连接有从动齿轮(25),所述设备主体(1)内部活动连接有从动辊(9),所述从动齿轮(25)和从动辊(9)外部活动连接有传送带(4),所述从动齿轮(25)与主动齿轮(23)外部活动连接有传动带(24),所述设备主体(1)外部固定连接有导向条(15)。

3.根据权利要求1所述的一种闪存芯片测试机,其特征在于,所述设备主体(1)内部固定连接有排废电机(16),所述排废电机(16)传动轴端部固定连接有延伸支架(17),所述延伸支架(17)外部固定连接...

【专利技术属性】
技术研发人员:江小俊乐群英乐群建黄传红
申请(专利权)人:深圳市嘉德半导体技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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