【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子器件检测，特别涉及一种电子器件下料检测的方法及系统。
技术介绍
1、电子器件检测设备常见于自动化生产线，其广泛应用于制造业，如半导体、电子等领域，用于对电子器件进行质量检测、尺寸测量、缺陷检测等。在电子器件检测设备中，触发系统负责控制设备的各个部分，使其按照预定的顺序和条件进行工作。触发系统通常包括上料系统、相机触发系统和电磁阀触发系统。其中，上料系统负责将电子器件从存储位置运送到检测位置，相机触发系统负责捕捉电子器件的图像，电磁阀触发系统则可用于控制吹气装置，将检测后的电子器件吹入到指定的料盒中。
2、现有技术中，由于电子器件检测设备的末端存在多个对应不同的电子器件类型或检测结果的料盒，它们数量多且排列紧密，电子器件检测设备无法准确地判断检测后的电子器件是否被正确地吹入到对应的料盒中。这会导致料盒中的电子器件数量与触发系统的记录不一致。从而导致整个电子器件检测设备的准确性和可靠性受到质疑。因此，如何提高电子器件检测设备的准确性和可靠性，成为了一个亟需解决的问题。
技术实现思路
1、基于上述问题，本申请提供了一种电子器件下料检测的方法及系统，以提高电子器件检测设备的准确性和可靠性。
2、本申请公开了一种电子器件下料检测的方法，所述方法包括：
3、检测电子器件的上料情况，得到上料信号；
4、根据所述上料信号获取电子器件的图片，并基于所述图片得到检测结果；
5、根据所述检测结果，得到当前控制指令；所述当前控制指令
6、执行所述当前控制指令以将所述电子器件完成下料至当前料盒；所述当前料盒为第一类料盒或第二类料盒；
7、获取位于第一下料位置和第二下料位置之间的检测位置处的下料信号；所述下料信号有效时，表示所述电子器件下料至第二类料盒；所述下料信号无效时，表示所述电子器件下料至第一类料盒；
8、基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料。
9、可选的，所述基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料，包括：
10、根据所述上料信号和所述下料信号，确定所述电子器件完成下料的所述当前料盒；
11、所述当前料盒与所述目标料盒一致时，确定所述电子器件在所述当前料盒内正常下料；
12、所述当前料盒与所述目标料盒不一致时，确定所述电子器件在所述当前料盒内异常下料。
13、可选的，所述根据所述上料信号和所述下料信号，确定所述电子器件完成下料的所述当前料盒，包括：
14、所述上料信号和所述下料信号均有效，确定所述电子器件下料至第二类料盒；
15、所述上料信号有效且所述下料信号无效，确定所述电子器件下料至第一类料盒。
16、可选的，所述基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料，包括：
17、所述上料信号无效且所述下料信号有效，确定所述电子器件在所述当前料盒异常下料。
18、可选的，在确定所述电子器件是否异常下料后，所述方法还包括：
19、根据所述电子器件的下料结果对各个下料结果的电子器件进行计数；所述下料结果包括：在第一类料盒内正常下料、在第一类料盒内异常下料、在第二类料盒内正常下料和在第二类料盒内异常下料。
20、可选的，所述当前料盒与所述目标料盒不一致时，确定所述电子器件在所述当前料盒内异常下料的原因是控制指令异常。
21、可选的，所述上料信号无效且所述下料信号有效，确定所述电子器件在所述当前料盒异常下料的原因是上料漏检异常。
22、基于上述一种电子器件下料检测的方法，本申请还公开了一种电子器件下料检测的系统，用于实现上述的方法，所述系统包括：上料传感器、控制器、相机组件、下料传感器、第一类料盒和第二类料盒；
23、所述上料传感器检测电子器件的上料情况，得到上料信号；
24、所述控制器根据所述上料信号，控制所述相机组件获取所述电子器件的图片；
25、所述控制器基于所述图片得到检测结果，并根据所述检测结果，得到当前控制指令；所述当前控制指令用于控制所述电子器件向目标料盒下料；所述目标料盒为沿所述电子器件传输方向依次设置的第一类料盒和第二类料盒之一；
26、所述控制器执行所述当前控制指令以将所述电子器件完成下料至当前料盒；所述当前料盒为第一类料盒或第二类料盒；
27、所述下料传感器位于第一下料位置和第二下料位置之间的检测位置处，用于检测所述电子器件的下料情况，得到下料信号；所述下料信号有效时，表示所述电子器件下料至第二类料盒；所述下料信号无效时，表示所述电子器件下料至第一类料盒；
28、所述控制器基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料。
29、可选的，所述系统还包括：计数装置，用于根据所述电子器件的下料结果对各个下料结果的电子器件进行计数；所述下料结果包括：在第一类料盒内正常下料、在第一类料盒内异常下料、在第二类料盒内正常下料和在第二类料盒内异常下料。
30、可选的，所述系统还包括：展示装置，用于确定并展示所述电子器件在所述当前料盒内异常下料的原因。
31、本申请公开了一种电子器件下料检测的方法及系统。通过在第一类料盒与第二类料盒之间，添加下料传感器，可以检测电子器件的下料情况。并根据下料情况、上料情况和电子器件检测结果，来获取电子器件实际下料的料盒，从而判断电子器件是否进入正确的料盒。本申请所述的方法在下料料盒较多、排列紧密的情况下也能够准确判断下料结果，及时发现异常下料的情况，提高了电子器件检测设备的准确性和可靠性。
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1.一种电子器件下料检测的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述上料信号和所述下料信号，确定所述电子器件完成下料的所述当前料盒，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述电子器件是否异常下料后，所述方法还包括：
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当前料盒与所述目标料盒不一致时，确定所述电子器件在所述当前料盒内异常下料的原因是控制指令异常。
7.根据权利要求4的方法，其特征在于，所述上料信号无效且所述下料信号有效，确定所述电子器件在所述当前料盒异常下料的原因是上料漏检异常。
8.一种电子器件下料检测的系统，其特征在于，用于实现权利要求
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：计数装置，用于根据所述电子器件的下料结果对各个下料结果的电子器件进行计数；所述下料结果包括：在第一类料盒内正常下料、在第一类料盒内异常下料、在第二类料盒内正常下料和在第二类料盒内异常下料。
10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：展示装置，用于确定并展示所述电子器件在所述当前料盒内异常下料的原因。
...【技术特征摘要】
1.一种电子器件下料检测的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述上料信号和所述下料信号，确定所述电子器件完成下料的所述当前料盒，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述上料信号、所述下料信号和所述当前控制指令，确定所述电子器件是否在所述当前料盒内异常下料，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述电子器件是否异常下料后，所述方法还包括：
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当前料盒与所述目标料盒不一致时，确定所述电子器件在所述当前料盒内异常下料...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱时成，黄培威，
申请(专利权)人：苏州镁伽科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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