【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于芯片，尤其涉及数字半导体ic的系统级芯片soc的系统级验证领域，具体涉及一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、随着芯片技术的发展，数字集成电路(integrated circui，ic)领域的系统级芯片(system on chip，soc)得到广泛应用。系统级芯片功能的越来越丰富，系统级芯片的验证越来越复杂。
2、目前在进行系统级芯片的验证时，不同的项目的工程师分别编辑自身项目在系统级芯片中进行验证所需要的验证代码。如何提高系统级芯片中项目的验证效率成为亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，能够提高系统级芯片项目的验证效率。
2、根据本专利技术的第一方面，提供了一种芯片验证方法，包括：
3、预先配置验证框架中的sv语言的基类函数，所述基类函数用于描述验证流程；预先配置验证框架中的c语言程序，所述c语言程序用于执行处理器的硬件计算；
4、通过所述sv语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数；
5、在每个测试循环次数内，通过虚函数将所述验证参数写入到共享存储区域，通过所述共享存储区域将所述验证参数共享给c语言程序；所述c语言程序根据所述验证参数控制处理器硬件完成验证计算，将计算结果写入到所述共享存储区域。
6、根据本专利技术的第二方面，提供了一种芯片验证装置，包括：
7、架构配置模块，用于预先配
8、验证参数获取模块，用于通过所述sv语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数；
9、验证模块，用于在每个测试循环次数内，通过虚函数将所述验证参数写入到共享存储区域，通过所述共享存储区域将所述验证参数共享给c语言程序；所述c语言程序根据所述验证参数控制处理器硬件完成验证计算，将计算结果写入到所述共享存储区域。
10、根据本专利技术的第三方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
11、至少一个处理器；以及
12、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
13、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行任一实施例所述的芯片验证方法。
14、根据本专利技术的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的芯片验证方法。
15、本专利技术提供的技术方案，预先配置验证框架中的sv语言的基类函数，所述基类函数用于描述验证流程；预先配置验证框架中的c语言程序，所述c语言程序用于执行处理器的硬件计算；通过所述sv语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数；在每个测试循环次数内，通过虚函数将所述验证参数写入到共享存储区域，通过所述共享存储区域将所述验证参数共享给c语言程序；所述c语言程序根据所述验证参数控制处理器硬件完成验证计算，将计算结果写入到所述共享存储区域。相对于目前不同项目需要的验证相互独立，验证工程师各自编写各自项目的验证代码，本专利技术提出了一种新的验证框架，该验证框架中预先配置sv语言的基类函数，当需要进行不同项目的验证时，通过基函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数；在每个测试循环次数内，通过虚函数将所述验证参数写入到共享存储区域，通过所述共享存储区域将所述验证参数共享给c语言程序。本专利技术在对不同项目进行验证时，验证工程师只需要根据自身需求在虚函数中进行相应修改即可完成项目的验证，验证工程师能够遵循同一套标准编写测试用例，降低了理解和修改他人代码的难度，提高了芯片验证效率。
16、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
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1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的SV语言的基类函数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的C语言程序，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将验证参数写入到共享存储区域的第二地址区间，包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述C语言程序还用于，将执行过程中生成的打印信息存储到共享存储区域的第三地址区间；
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过所述SV语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在通过所述SV语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数之后，还包括：
8.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项
...【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的sv语言的基类函数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的c语言程序，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将验证参数写入到共享存储区域的第二地址区间，包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述c语言程序还用于，将执行过程中生成的打印信息存储到共享存储区域的第三地址区间；
6.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘焱柏，屈新，张满新，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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