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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检测装置,具体为一种集成电路封装连续检测装置。
技术介绍
1、集成电路作为现代电子信息产业的核心基石,其封装质量直接关乎电子产品的性能与可靠性,在集成电路封装流程里,引脚焊接环节尤为关键,焊接质量不佳的引脚极易引发电气连接故障,致使整个集成电路失效,因此,对封装后的集成电路引脚展开精准检测,是保障产品品质必不可少的工序。
2、传统的集成电路引脚检测装置存在诸多局限性,多数检测设备采用固定卡合结构来定位集成电路,无法灵活适应市场上各式各样的集成电路规格。
3、且,随着半导体技术蓬勃发展,集成电路的封装形式愈发多元,引脚布局也越发复杂,既有引脚间距细密的小型芯片,也有采用特殊立体布局的高性能芯片。
4、固定卡合结构难以精准匹配不同引脚的位置与角度,致使检测部件时常无法精确对准引脚关键部位,不可避免地出现检测遗漏,严重影响检测准确性。
5、有鉴于此,特提出本申请。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种集成电路封装连续检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为解决上述技术问题,本专利技术提供的一种集成电路封装连续检测装置,包括基座、检测装置以及夹持盒,所述夹持盒中转动连接有连接杆,所述连接杆连接有多节双向螺杆,每节双向螺杆上均镜像设置有两个导向板,所述连接杆一端连接有驱动柱,所述驱动柱与夹持盒之间搭设有扭簧。
3、进一步地,还包括调节柱,所述调节柱上设置有驱动辊,所述导向板的顶端转动连接
4、进一步地,所述驱动辊和从动辊均为圆台状,所述驱动辊和从动辊上均设置有多根沿其侧壁分布的矩形凸起,所述驱动辊和从动辊上的矩形凸起相互卡和,所述从动辊可在驱动辊的凸起上沿其侧壁滑动。
5、进一步地,所述夹持盒上间隔分布有多个转动架,所述调节柱有阻尼的转动连接在转动架中,所述驱动辊镜像设置在转动架与基座的两端或相邻两个转动架之间。
6、进一步地,所述调节板中开设有滑槽,所述伸缩柱仅可沿滑槽开设方向滑动的设置在滑槽中,所述伸缩柱与滑槽之间设置有对接弹簧。
7、进一步地,所述调节柱位于夹持盒正面的一端设置有延长片,所述延长片上设置有转动把。
8、进一步地,所述检测装置设置在基座的正面,所述检测装置包括两根立柱,所述立柱的内侧下端设置有探头,所述探头的摄像端倾斜向上,所述立柱之间搭设有导向块,所述导向块之间滑动连接有检测板,其中一个所述立柱的外侧设置有电机,所述电机的输出轴固定连接有与检测板螺纹连接的螺杆。
9、进一步地,所述基座的顶面中心处设置有竖向导轨,所述夹持盒底面设置有与竖向导轨适配的卡块,所述基座的底面四角处设置有橡胶垫。
10、与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:
11、本专利技术中,通过夹持盒内双向螺杆、扭簧与导向板的组合,使得装置无需频繁人工调整夹具,可自适应夹持不同尺寸集成电路,提高通用性与操作便利性,降低操作人员劳动强度与操作难度,避免集成电路受损,为检测提供稳定环境,确保检测精度,减少故障可能性。
12、本专利技术中,通过调节柱、驱动辊、从动辊、伸缩柱、调节板等构成的调节结构,使得装置能应对不同角度立体针脚的集成电路,实现全方位、多角度贴合夹持,解决传统夹具难题,提升对复杂封装的兼容性,赋予调节高精度,减少夹持偏差导致的检测误差,利用对接弹簧缓冲保护关键部件,维持装置稳定性,降低操作门槛,缩短调节时间,易于融入高效生产流程。
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1.一种集成电路封装连续检测装置,包括基座(1)、检测装置(2)以及夹持盒(3),其特征在于:所述夹持盒(3)中转动连接有连接杆(301),所述连接杆(301)连接有多节双向螺杆(203),每节双向螺杆(203)上均镜像设置有两个导向板(302),所述连接杆(301)一端连接有驱动柱(304),所述驱动柱(304)与夹持盒(3)之间搭设有扭簧(305)。
2.如权利要求1所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:还包括调节柱(4),所述调节柱(4)上设置有驱动辊(402),所述导向板(302)的顶端转动连接有调节板(306),所述调节板(306)中滑动连接有伸缩柱(403),所述伸缩柱(403)上设置有与驱动辊(402)卡合的从动辊(404)。
3.如权利要求2所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述驱动辊(402)和从动辊(404)均为圆台状,所述驱动辊(402)和从动辊(404)上均设置有多根沿其侧壁分布的矩形凸起,所述驱动辊(402)和从动辊(404)上的矩形凸起相互卡和,所述从动辊(404)可在驱动辊(402)的凸起上沿其侧壁滑动
4.如权利要求3所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述夹持盒(3)上间隔分布有多个转动架(401),所述调节柱(4)有阻尼的转动连接在转动架(401)中,所述驱动辊(402)镜像设置在转动架(401)与基座(1)的两端或相邻两个转动架(401)之间。
5.如权利要求4所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述调节板(306)中开设有滑槽,所述伸缩柱(403)仅可沿滑槽开设方向滑动的设置在滑槽中,所述伸缩柱(403)与滑槽之间设置有对接弹簧(405)。
6.如权利要求5所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述调节柱(4)位于夹持盒(3)正面的一端设置有延长片,所述延长片上设置有转动把。
7.如权利要求6所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述检测装置(2)设置在基座(1)的正面,所述检测装置(2)包括两根立柱,所述立柱的内侧下端设置有探头(201),所述探头(201)的摄像端倾斜向上,所述立柱之间搭设有导向块,所述导向块之间滑动连接有检测板(204),其中一个所述立柱的外侧设置有电机(202),所述电机(202)的输出轴固定连接有与检测板(204)螺纹连接的螺杆(203)。
8.如权利要求7所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述基座(1)的顶面中心处设置有竖向导轨(101),所述夹持盒(3)底面设置有与竖向导轨(101)适配的卡块,所述基座(1)的底面四角处设置有橡胶垫。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路封装连续检测装置,包括基座(1)、检测装置(2)以及夹持盒(3),其特征在于:所述夹持盒(3)中转动连接有连接杆(301),所述连接杆(301)连接有多节双向螺杆(203),每节双向螺杆(203)上均镜像设置有两个导向板(302),所述连接杆(301)一端连接有驱动柱(304),所述驱动柱(304)与夹持盒(3)之间搭设有扭簧(305)。
2.如权利要求1所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:还包括调节柱(4),所述调节柱(4)上设置有驱动辊(402),所述导向板(302)的顶端转动连接有调节板(306),所述调节板(306)中滑动连接有伸缩柱(403),所述伸缩柱(403)上设置有与驱动辊(402)卡合的从动辊(404)。
3.如权利要求2所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述驱动辊(402)和从动辊(404)均为圆台状,所述驱动辊(402)和从动辊(404)上均设置有多根沿其侧壁分布的矩形凸起,所述驱动辊(402)和从动辊(404)上的矩形凸起相互卡和,所述从动辊(404)可在驱动辊(402)的凸起上沿其侧壁滑动。
4.如权利要求3所述的一种集成电路封装连续检测装置,其特征在于:所述夹持盒(3)上间隔分布有多个转动架(401),所述调节柱(4)有阻尼的转动连...
【专利技术属性】
技术研发人员:王会,徐冉,钱太娇,
申请(专利权)人:江苏润鹏半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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